【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路测试,特别是涉及一种直流参数测试系统的毛刺消除方法、装置、测试机和介质。
技术介绍
1、随着信息时代的到来,ic(integrated circuit 集成电路)进入高速发展时期,其生产流程包括设计、生产加工、测试和封装等,其中,测试是确保ic合格率的重要环节。集成电路测试的基本原理是通过测试向待测芯片(dut)施加激励,测量待测芯片的输出并与预期结果比较。一个基于ate(automatic test equipment 自动测试机)的测试程序主要包含三个方面:直流参数测试、交流参数测试和功能测试。芯片的直流参数测试中,一个主要的测试单元为pmu(precision measurement unit 精密测量单元),它能够驱动电流进入被测器件而去测量电压,或者为被测器件加上电压而去测量产生的电流,为测试机提供精确的dc(直流)参数测量功能。
2、然而,测试机连接到dut上进行dc参数测试的过程中,处理不当会产生一些毛刺(噪声脉冲),比如在pmu与其他不同的测试项之间切换或者在pmu测试项下不同测试模式之间的
...【技术保护点】
1.一种直流参数测试系统的毛刺消除方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调用直流参数测量命令,以对直流参数测试系统中连接输出线路的各功能模块完成预处理,包括:
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述当前工作模式包括输出电流模式和输出电压模式中的一种;
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述当前工作模式为输出电流模式时,所述基于所述程序接口配置参数的顺序,采用对应配置参数的设置值进行所述当前工作模式下的PMU模块硬件配置,包括:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所
...【技术特征摘要】
1.一种直流参数测试系统的毛刺消除方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调用直流参数测量命令,以对直流参数测试系统中连接输出线路的各功能模块完成预处理,包括:
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述当前工作模式包括输出电流模式和输出电压模式中的一种;
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述当前工作模式为输出电流模式时,所述基于所述程序接口配置参数的顺序,采用对应配置参数的设置值进行所述当前工作模式下的pmu模块硬件配置,包括:
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述设置所述pmu模块连接所述输出线路,包括:
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述当前工作模式为输出电压模式时,所述基于所述程序接口配置参数的顺序,采用对应配置参数的设置值进行所述当前工作模式下的pmu模...
【专利技术属性】
技术研发人员:牛功喜,张强,李震,赵勇,魏鑫,尤春明,
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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