一种Fakra内端子高度测量机构制造技术

技术编号:40751256 阅读:22 留言:0更新日期:2024-03-25 20:07
本技术涉及一种Fakra内端子高度测量机构,包括基准块(1)、探头(2)和位置测量传感器(3);所述基准块(1)上设有对称设置的扇环形基准平面(11),探头(2)一端连接位置测量传感器(3),另一端穿过基准块(1)并从对称设置的基准平面(11)之间穿出,基准平面(11)的圆心角不超过90°。与现有技术相比,本技术能够提高测量结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测量工装,尤其是涉及一种fakra内端子高度测量机构。


技术介绍

1、fakra连接器主要用于汽车、安防、手机、数码等产品领域,在汽车领域主要用于射频信号的连接,如摄像头、雷达、车载天线、控制模块等。fakra连接器包括外铁壳和设置在外铁壳内侧的内端子,在fakra连接器生产过程中,需要对内端子在铁外壳内的高度进行检测,确保fakra连接器产品合格。

2、传统的内端子高度测量机构,采用探头接触内端子,基准平面接触外铁壳,探头在基准平面的零件内部滑动,该测量方式对于铁壳端面平整的产品能够做到准确测量,但是当铁壳端面因为功能、工艺等需求需要增加切割点时,就会产生毛刺,在铁壳和基准面接触时,就会产生间隙,影响测量结果的准确性。


技术实现思路

1、本技术的目的就是为了提供一种fakra内端子高度测量机构,提高测量结果的准确性。

2、本技术的目的可以通过以下技术方案来实现:一种fakra内端子高度测量机构,包括基准块、探头和位置测量传感器;

3、所述基准块上设有对称设置的扇本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种Fakra内端子高度测量机构,其特征在于,包括基准块(1)、探头(2)和位置测量传感器(3);

2.根据权利要求1所述的Fakra内端子高度测量机构,其特征在于,所述基准块(1)上设有两组对称线正交的基准平面(11),每组基准平面(11)包括两个对称设置的基准平面(11)。

3.根据权利要求2所述的Fakra内端子高度测量机构,其特征在于,所述Fakra内端子高度测量机构包括两个探头(2),两个探头(2)分别从每组基准平面(11)内两个基准平面(11)之间穿出。

4.根据权利要求1所述的Fakra内端子高度测量机构,其特征在于,所述探头(2)截...

【技术特征摘要】

1.一种fakra内端子高度测量机构,其特征在于,包括基准块(1)、探头(2)和位置测量传感器(3);

2.根据权利要求1所述的fakra内端子高度测量机构,其特征在于,所述基准块(1)上设有两组对称线正交的基准平面(11),每组基准平面(11)包括两个对称设置的基准平面(11)。

3.根据权利要求2所述的fakra内端子高度测量机构,其特征在于,所述fakra内端子高度测量机构包括两个探头(2),两个探头(2)分别从每组基准平面(11)内两个基准平面(11)之间穿出。

4.根据权利要求1所述的fakra内端子高度测量机构,其特征在于,所述探头(2)截面呈圆形,探头(2)与基准平面(11)不发生干涉。

5.根据权利要求1所述的fakra内端子高度测量机构,其特征在于,所述基准平面(11)的圆心角为a,fakra连接器壳体端面的切割点圆心角为b时,a<90°-b。

6.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:王宝全曹志浩
申请(专利权)人:安波福连接器系统南通有限公司
类型:新型
国别省市:

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