【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及隔离器的,尤其是涉及一种电容式数字隔离器及电子设备。
技术介绍
1、电容数字隔离器被广泛应用于取代光耦,传统的电容数字隔离器使用集成电路后道工艺制造厚介质层,通过厚介质层形成高压电容。
2、通常,相关技术中,会通过串联两个芯片表面的厚介质层,来实现更高的耐压能力。
3、但是,这种技术受限于以下几点。
4、(1)在集成电路后道工艺中,沉积厚介质层是非常消耗机台时间的,即使用速度较快的pecvd(plasma enhanced chemical vapor deposition,pecvd,等离子体增强化学气相沉积)方式进行介质层的沉积,也需要相当长的制造时间,这限制了芯片表面沉积厚介质层的经济性;
5、(2)pecvd的沉积一般在特定气体组分、压强、和电场的腔体中进行,在芯片表面沉积介质的同时,也会在腔体的表面形成介质膜。当介质膜达到一定厚度时,会改变腔体中的环境,影响继续沉积,必须暂停生产进行刻蚀清理,这限制了芯片表面沉积厚介质层的生产效率;
6、(3)pecvd
...【技术保护点】
1.一种电容式数字隔离器,其特征在于,包括:第一芯片、第二芯片和第三衬底;其中,所述第三衬底为绝缘衬底;
2.根据权利要求1所述的电容式数字隔离器,其特征在于,所述第一芯片包括分离设置的第一子芯片和第四衬底;
3.根据权利要求2所述的电容式数字隔离器,其特征在于,所述第四衬底为封装基板;
4.根据权利要求1所述的电容式数字隔离器,其特征在于,所述第一金属化图形包括成对设置的第一极板和第二极板;所述第二金属化图形包含成对设置的第三极板和第四极板;
5.根据权利要求4所述的电容式数字隔离器,其特征在于,所述预设比值范围为0.
...【技术特征摘要】
1.一种电容式数字隔离器,其特征在于,包括:第一芯片、第二芯片和第三衬底;其中,所述第三衬底为绝缘衬底;
2.根据权利要求1所述的电容式数字隔离器,其特征在于,所述第一芯片包括分离设置的第一子芯片和第四衬底;
3.根据权利要求2所述的电容式数字隔离器,其特征在于,所述第四衬底为封装基板;
4.根据权利要求1所述的电容式数字隔离器,其特征在于,所述第一金属化图形包括成对设置的第一极板和第二极板;所述第二金属化图形包含成对设置的第三极板和第四极板;
5.根据权利要求4所述的电容式数字隔离器,其特征在于,所述预设比值范围为0.9~1.1,所述预设阈值为0.1。
6.根据权利要求4所述的电容式数字隔...
【专利技术属性】
技术研发人员:方向明,
申请(专利权)人:深圳线易微电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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