一种温度稳定的双绕组电涡流位移传感器制造技术

技术编号:40748846 阅读:12 留言:0更新日期:2024-03-25 20:05
本技术公开一种温度稳定的双绕组电涡流位移传感器,包括单线探测器线圈、双线加热线圈、阻抗检测电路、加热及温度控制电路,单线探测器线圈和阻抗检测电路电连接,双线加热线圈和加热及温度控制电路电连接;所述单线探测器线圈成螺旋状,所述双线加热线圈成螺旋状,双线加热线圈和单线探测器线圈贴合;双线加热线圈由一端相连的两根加热线圈构成。本技术可以有效的抑制传感器探头的温度漂移。采用双绕组方案,其中单线绕组负责探测位移信息;折叠双线绕组将探头温度稳定在设定值,并保持探头温度稳定。折叠双线绕组由于相互抵消,不会引入额外的电感,降低了对探头的干扰,提高了稳定性。该方案结构简单,可大幅提高传感器的温度稳定性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电涡流位移传感器,特别是涉及一种温度稳定的双绕组电涡流位移传感器


技术介绍

1、电涡流位移传感器是一种主要用于测量金属材料位移变化的传感器。它利用电磁感应原理,通过金属材料内部的电涡流损耗,来检测金属材料表面的微小位移变化,从而实现对位移信号的测量。这种传感器具有高灵敏度、快速响应、无需直接接触被测材料等优点,因此在工业自动化、机械结构监测、航空航天等领域得到广泛应用。电涡流位移传感器不仅能够用于单点位移测量,还可以通过多传感器的组合来实现物体的形态测量和运动状态分析等多方面的应用需求。同时,它也可以和其他传感器结合起来,以实现更为全面的位移、压力、应变等物理量测量任务。

2、电涡流位移传感器在实际应用中常常受到温度变化的影响,其输出信号存在漂移现象,这会降低传感器的精度和可靠性。在实际应用中,电涡流位移传感器受到温度变化的影响,主要由以下原因导致:

3、材料热膨胀:随着温度升高,金属材料会发生热膨胀,造成位移传感器的机械结构发生变形,从而影响其输出信号;电路参数变化:温度变化会影响传感器电路中的电阻、电容等电路元件的参本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种温度稳定的双绕组电涡流位移传感器,其特征在于,包括单线探测器线圈(3)、双线加热线圈(4)、阻抗检测电路(1)、加热及温度控制电路(2),单线探测器线圈(3)和阻抗检测电路(1)电连接,双线加热线圈(4)和加热及温度控制电路(2)电连接;所述单线探测器线圈(3)成螺旋状,所述双线加热线圈(4)成螺旋状,双线加热线圈(4)和单线探测器线圈(3)贴合;双线加热线圈(4)由一端相连的两根加热线圈构成。

2.根据权利要求1所述的一种温度稳定的双绕组电涡流位移传感器,其特征在于,所述单线探测器线圈(3)位于双线加热线圈(4)的两根加热线圈之间,单线探测器线圈(3)是康铜合金线或...

【技术特征摘要】

1.一种温度稳定的双绕组电涡流位移传感器,其特征在于,包括单线探测器线圈(3)、双线加热线圈(4)、阻抗检测电路(1)、加热及温度控制电路(2),单线探测器线圈(3)和阻抗检测电路(1)电连接,双线加热线圈(4)和加热及温度控制电路(2)电连接;所述单线探测器线圈(3)成螺旋状,所述双线加热线圈(4)成螺旋状,双线加热线圈(4)和单线探测器线圈(3)贴合;双线加热线圈(4)由一端相连的两根加热线圈构成。

2.根据权利要求1所述的一种温度稳定的双绕组电涡流位移传感器,其特征在于,所述单线探测器线圈(3)位于双线加热线圈(4)的两根加热线圈之间,单线探测器线圈(3)是康铜合金线或锰铜合金线,双线加...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋庆明李麟庆
申请(专利权)人:重庆也牛测控技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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