一种金属元素亚细胞自示踪离子成像定位的方法技术

技术编号:40742601 阅读:24 留言:0更新日期:2024-03-25 20:01
本发明专利技术提供了一种金属元素亚细胞自示踪离子成像定位的方法。其中,上述方法包括:利用SEM‑FIB‑TOF‑SIMS系统对样本切片进行亚细胞结构显影和金属离子成像,其中,在SEM‑FIB‑TOF‑SIMS系统中,利用SEM对样本切片进行亚细胞结构显影;利用FIB对亚细胞结构进行表面轰击,激发出的二次离子经TOF‑SIMS检测,得到分析区域的离子信息并成像。能够解决现有技术中金属元素亚细胞定位方法难以满足实际应用的需求的问题,适用于离子成像技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及离子成像,具体而言,涉及一种金属元素亚细胞自示踪离子成像定位的方法


技术介绍

1、目前,对金属元素的亚细胞定位研究,主要分为体内原位可视化研究及提取细胞不同组分后体外定量化研究。然而,在体内原位可视化研究中,有如下问题:(1)利用探针标记间接示踪的方法,大多数元素如过渡元素等无可利用的商业化探针;(2)放射性同位素自示踪显影的成像方法,操作复杂且对人体有害;(3)非放射性同位素自示踪的成像方法,因重复性不佳及图像不清晰,难以准确判断亚细胞定位。


技术实现思路

1、本专利技术的主要目的在于提供一种金属元素亚细胞自示踪离子成像定位的方法,以解决现有技术中金属元素亚细胞定位方法难以满足实际应用的需求的问题。

2、为了实现上述目的,根据本专利技术的第一个方面,提供了一种金属元素亚细胞自示踪离子成像定位的方法,上述方法包括:利用sem-fib-tof-sims系统对样本切片进行亚细胞结构显影和金属离子成像,其中,在sem-fib-tof-sims系统中,利用sem对样本切片进行亚细胞结构显影本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种金属元素亚细胞自示踪离子成像定位的方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述样本切片包括植物切片、动物组织切片、细菌样本或真菌样本,相应的,所述亚细胞结构包括植物亚细胞结构、动物亚细胞结构、细菌的亚细胞结构或真菌的亚细胞结构。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述金属离子包括过渡金属元素离子或非过渡金属元素离子。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述过渡金属元素离子包括稀土元素离子。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,制备所述植物切片的方法包括

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【技术特征摘要】

1.一种金属元素亚细胞自示踪离子成像定位的方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述样本切片包括植物切片、动物组织切片、细菌样本或真菌样本,相应的,所述亚细胞结构包括植物亚细胞结构、动物亚细胞结构、细菌的亚细胞结构或真菌的亚细胞结构。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述金属离子包括过渡金属元素离子或非过渡金属元素离子。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述过渡金属元素离子包括稀土元素离子。

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,制备所述植物切片的方法包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述固定处理包括前固定处理和后固定处理;

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【专利技术属性】
技术研发人员:黄晓华邓兴旺程梦竹赵珺徐斌
申请(专利权)人:北京大学现代农业研究院
类型:发明
国别省市:

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