【技术实现步骤摘要】
本技术涉及超薄纳米晶带材检测，具体为一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置。
技术介绍
1、纳米晶带是指在非晶合金的基础上通过热处理获得的纳米晶结构的软磁合金，具有更加优异的软磁性能，现检索到申请号为cn201720649774.6，一种纳米晶带材在线测量装置，整个纳米晶带的传送过程绷紧，从而使得纳米晶带的检测数据更加高效准确，实现高效快速的检测效果，保证了使用者检测数据的科学性，方便使用者使用效果。
2、类似于纳米晶带材在线测量装置：虽然通过固定辊和活动辊可以快速调节纳米晶带的长度，从而使得整个纳米晶带的传送过程绷紧，但是当带材在传送过程中发生偏移时，整个带材会倾斜，其无法对带材进行调整，易造成测量的不准确。
3、于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提出一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，以达到更具有实用价值的目的。
技术实现思路
1、本技术的目的在于提供一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的上述一种纳米晶带材在线测量装置当带材在传送过程中发生偏移时，整个带材会倾斜，其无法对带材进行调整，易造成测量的不准确的问题。
2、为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，包括工作台、支撑板和驱动马达，所述工作台的上表面一侧设置有支撑板，所述支撑板的顶部一侧连接有转轴，所述驱动马达设置于支撑板远离转轴的一侧，所述驱动马达的输出端与转轴相连接，所述转轴的外壁套接有卷料筒，所述支撑板远离工作台
3、进一步的，所述滑槽的一侧边缘设置有一号电动伸缩杆，所述一号电动伸缩杆远离滑槽的一端与移动杆相连接，所述移动杆的顶端设置有一号导向辊，所述一号导向辊的周围套接有u形环，所述u形环的顶部设置有红外传感器。
4、进一步的，所述移动杆远离支撑板的一侧排列有两组支撑杆，所述支撑杆的顶部设置有二号导向辊，两组所述支撑杆的中部一侧设置有固定架，所述固定架靠近工作台中部的一侧连接有led灯，所述固定架的顶部设置有控制器。
5、进一步的，所述固定架远离工作台的一端设置有检测机构，所述检测机构包括宽度检测器、厚度检测探器和相机，所述宽度检测器的一侧设置有厚度检测探器，所述厚度检测探器远离宽度检测器的一侧设置有相机。
6、进一步的，所述固定架远离工作台边缘的一侧设置有检测台，所述检测台的顶部设置有检测机构，所述检测台远离固定架的一侧设置有风机，两组所述支撑杆远离移动杆的一侧设置有二号电动伸缩杆，所述二号电动伸缩杆的顶部设置有张紧轮。
7、进一步的，所述支撑板与工作台之间的连接方式为焊接连接，所述控制器与红外传感器和一号电动伸缩杆之间均通过电线连接。
8、与现有技术相比，本技术的有益效果是：该一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，采用红外传感器对带材传导时是否偏移进行检测，采用一号电动伸缩杆对偏移的带材进行调整，从而避免因偏移倾斜导致带材测量不准确，以达到更加实用的效果，具体内容如下：
9、支撑板远离工作台边缘的一侧设置有滑槽，滑槽的内部嵌接有滑块，滑块的顶部连接有移动杆，滑槽的一侧边缘设置有一号电动伸缩杆，一号电动伸缩杆远离滑槽的一端与移动杆相连接，u形环的顶部设置有红外传感器，固定架的顶部设置有控制器，当红外传感器检测到超薄纳米晶带材偏移后，将信号传输到控制器，控制器控制一号电动伸缩杆推动移动杆对带材进行调正，避免超薄纳米晶带材的传导过程中发生偏移从而影响检测。
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1.一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，包括工作台（1）、支撑板（2）和驱动马达（4），其特征在于：所述工作台（1）的上表面一侧设置有支撑板（2），所述支撑板（2）的顶部一侧连接有转轴（3），所述驱动马达（4）设置于支撑板（2）远离转轴（3）的一侧，所述驱动马达（4）的输出端与转轴（3）相连接，所述转轴（3）的外壁套接有卷料筒（5），所述支撑板（2）远离工作台（1）边缘的一侧设置有滑槽（6），所述滑槽（6）的内部嵌接有滑块（7），所述滑块（7）的顶部连接有移动杆（8）。
2.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，其特征在于：所述滑槽（6）的一侧边缘设置有一号电动伸缩杆（9），所述一号电动伸缩杆（9）远离滑槽的一端与移动杆（8）相连接，所述移动杆（8）的顶端设置有一号导向辊（10），所述一号导向辊（10）的周围套接有U形环（11），所述U形环（11）的顶部设置有红外传感器（12）。
3.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，其特征在于：所述移动杆（8）远离支撑板（2）的一侧依次设置有两组支撑杆（13），所述支撑杆（13）的
4.根据权利要求3所述的一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，其特征在于：所述固定架（15）远离工作台（1）的一端设置有检测机构（18），所述检测机构（18）包括宽度检测器（19）、厚度检测探器（20）和相机（21），所述宽度检测器（19）的一侧设置有厚度检测探器（20），所述厚度检测探器（20）远离宽度检测器（19）的一侧设置有相机（21）。
5.根据权利要求4所述的一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，其特征在于：所述固定架（15）远离工作台（1）边缘的一侧设置有检测台（22），所述检测台（22）的顶部设置有检测机构（18），所述检测台（22）远离固定架（15）的一侧设置有风机（25），两组所述支撑杆（13）远离移动杆（8）的一侧设置有二号电动伸缩杆（23），所述二号电动伸缩杆（23）的顶部设置有张紧轮（24）。
6.根据权利要求3所述的一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，其特征在于：所述支撑板（2）与工作台（1）之间的连接方式为焊接连接，所述控制器（16）与红外传感器（12）和一号电动伸缩杆（9）之间均通过电线连接。
...【技术特征摘要】
1.一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，包括工作台（1）、支撑板（2）和驱动马达（4），其特征在于：所述工作台（1）的上表面一侧设置有支撑板（2），所述支撑板（2）的顶部一侧连接有转轴（3），所述驱动马达（4）设置于支撑板（2）远离转轴（3）的一侧，所述驱动马达（4）的输出端与转轴（3）相连接，所述转轴（3）的外壁套接有卷料筒（5），所述支撑板（2）远离工作台（1）边缘的一侧设置有滑槽（6），所述滑槽（6）的内部嵌接有滑块（7），所述滑块（7）的顶部连接有移动杆（8）。
2.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，其特征在于：所述滑槽（6）的一侧边缘设置有一号电动伸缩杆（9），所述一号电动伸缩杆（9）远离滑槽的一端与移动杆（8）相连接，所述移动杆（8）的顶端设置有一号导向辊（10），所述一号导向辊（10）的周围套接有u形环（11），所述u形环（11）的顶部设置有红外传感器（12）。
3.根据权利要求1所述的一种超薄纳米晶带材的多功能检测装置，其特征在于：所述移动杆（8）远离支撑板（2）的一侧依次设置有两组支撑杆（13），所述支撑杆（13）的顶部设置有二号导向辊（14），两组所述支撑杆（13）的中部一侧设置有固定架（15），所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：江向荣，吴登钱，寿堋，江沐风，
申请(专利权)人：上海天新纳米技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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