一种加压滑移装置制造方法及图纸

技术编号:40710547 阅读:30 留言:0更新日期:2024-03-22 11:12
本申请涉及材料检测领域,公开了一种加压滑移装置,包括:样品台,用于固定待测材料;与样品台相对设置的压头,用于固定待测材料并向接触后的待测材料施加压力;设于样品台与压头之间的分光图像采集设备,用于采集包括位于样品台上的待测材料表面的第一图像,及包括位于压头上的待测材料表面的第二图像;与分光图像采集设备连接的控制组件,用于根据第一图像和第二图像调整待测材料的位置,使位于样品台上的待测材料与位于压头上的待测材料对齐,并对待测材料进行加压滑移。分光图像采集设备可以采集第一图像和第二图像,控制组件通过第一图像和第二图像调整待测材料的位置并控制待测材料对齐,使得样品台和压头上的待测材料精确对准。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及材料检测领域,特别是涉及一种加压滑移装置


技术介绍

1、加压滑移装置对需要测试的材料进行测试时,需要将顶部压头上的材料与底部样品台上的材料对准并接触,然后对材料进行加压、滑移,并进行测试。在将顶部压头上的材料与样品台上的材料进行对准时,操作人员通过观察上下两部分的材料进行手动调整定位,移动压头,调整顶部材料的位置。该种定位方式定位精确度差,进而影响加压位移的相关摩擦磨损实验。

2、因此,如何解决上述技术问题应是本领域技术人员重点关注的。


技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种加压滑移装置,以提升对准待测材料之间的对准精确度。

2、为解决上述技术问题,本申请提供一种加压滑移装置,包括:

3、样品台,用于固定待测材料;

4、与所述样品台相对设置的压头,用于固定所述待测材料并向接触后的所述待测材料施加压力;

5、设于所述样品台与所述压头之间的分光图像采集设备,用于采集包括位于所述样品台上的所述待测材料表面的第一图像,及包括位于所述压头上的所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种加压滑移装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的加压滑移装置,其特征在于,所述控制组件包括控制器和位移台;所述样品台固定于所述位移台上;

3.如权利要求2所述的加压滑移装置,其特征在于,还包括设于所述待测材料上的对准标记;

4.如权利要求2所述的加压滑移装置,其特征在于,还包括:第一真空吸附组件;

5.如权利要求1所述的加压滑移装置,其特征在于,还包括第二真空吸附组件;

6.如权利要求1所述的加压滑移装置,其特征在于,还包括第三真空吸附组件;

7.如权利要求1所述的加压滑移装置,其特征在于,还包括第一...

【技术特征摘要】

1.一种加压滑移装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的加压滑移装置,其特征在于,所述控制组件包括控制器和位移台;所述样品台固定于所述位移台上;

3.如权利要求2所述的加压滑移装置,其特征在于,还包括设于所述待测材料上的对准标记;

4.如权利要求2所述的加压滑移装置,其特征在于,还包括:第一真空吸附组件;

5.如权利要求1所述的加压滑移装置,其特征在于,还包括第...

【专利技术属性】
技术研发人员:韩于黄轩宇聂锦辉郑泉水
申请(专利权)人:深圳清华大学研究院
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1