【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及对焦算法，特别是涉及一种对焦方法、系统及存储介质。
技术介绍
1、目前，对电路板的产品质量的各项尺寸的检测已经脱离了人工检测，一般会采用一些检测及分析算法对电路板照片进行检测及分析以获得电路板的各特征的尺寸，尺寸的获取的精度是十分依赖拍摄的照片的清晰度的，对于电路板的照片拍摄时，一般是默认电路板是符合标准的，因此，拍摄的物距是不变的，而面对一些不标准的电路板，拍照的清晰度及降低，从而影响后续的检测及分析的结果。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种对焦方法、系统及存储介质，从而避免了拍摄的照片的清晰度不够的问题，进一步避免影响后续对工件的特征分析的精确性。
2、本专利技术提供一种对焦方法，包括如下步骤：
3、s1，获取工件的第一照片，其中，所述第一照片中包括工件及用于工件放置的支承件，且所述第一照片中的工件及所述支承件的灰度值相异；
4、s2，依次计算所述第一照片中相邻像素点的灰度值的差值，得到若干灰度差值，计算若干所述灰度差值之和；
5、s3，根据所述灰度差值之和对拍摄的物距进行调整。
6、在一实施例中，所述步骤s1，获取工件的第一照片，其中，所述第一照片中包括工件及用于工件放置的支承件，且所述第一照片中的工件及所述支承件的灰度值相异，进一步包括：
7、s101，将所述工件置于所述支承件上；
8、s102，将相机置于预设位置对放置在所述支承件上的工件进行拍照。p>
9、在一实施例中，所述步骤s2，依次计算所述第一照片中相邻像素点的灰度值的差值，得到若干灰度差值，计算若干所述灰度差值之和，进一步包括：
10、s201，从所述第一照片上选取任意第一像素点作为第一基点，并获取对应的第一灰度值；
11、s202，选取与所述第一像素点相邻的第二像素点，并获取对应的若干第二灰度值；
12、s203，分别计算若干第二灰度值与所述第一灰度值的差值得到若干第一灰度差值；
13、s204，将若干所述第二像素点分别作为第二基点，分别选取与所述第二像素点相邻的若干第三像素点，并获取若干所述第三像素点的若干第三灰度值；
14、s205，分别计算第三像素点与对应的所述第二像素点的差值得到若干灰度差值；
15、s206，重复步骤s201至步骤s205，直至遍历所述第一照片上的像素点；
16、s207，计算所有灰度差值之和。
17、在一实施例中，所述步骤s3，根据所述灰度差值之和对拍摄的焦距进行调整，进一步包括：
18、在灰度差值之和在预设范围内时，保持现在的拍摄焦距；
19、在灰度差值之和不在预设范围内时，改变拍摄焦距。
20、在一实施例中，所述步骤s3中改变拍摄焦距，进一步包括：
21、s301，将物距缩小预设距离；
22、s302，在缩小预设距离后获取工件的第二照片；
23、s303，按照步骤s2计算所述第二照片的灰度差值之和；
24、s304，对比所述第一照片及所述第二照片的灰度差值之和
25、s305，根据对比结果对拍摄的物距进行调整。
26、在一实施例中，所述s305，根据对比结果对拍摄的物距进行调整，进一步包括：
27、在第一照片的灰度差值之和大于第二照片的灰度差值之和的情况下，将物距增大两个预设间距，并获取工件的第三照片，按照步骤s2计算所述第三照片的灰度差值之和，将所述第三照片的灰度差值之和与预设范围进行比较，根据比较结果调整拍摄的物距；
28、在在第一照片的灰度差值之和小于所述第二照片的灰度差值之和的情况下，按照预设距离缩小物距，直至获得的照片的灰度差值之和在预设范围内。
29、本专利技术还提供一种对焦系统，用于实施上述所述的对焦方法，包括：
30、照片获取模块，用于获取工件的照片，其中，所述照片中包括工件及用于工件放置的支承件，且所述照片中的工件及所述支承件的灰度值相异；
31、计算模块，依次计算所述照片中相邻像素点的灰度值的差值得到若干灰度差值，计算若干所述灰度差值之和；
32、调整模块，根据所述灰度差值之和对拍摄的物距进行调整。
33、本专利技术还提供一种存储有计算机指令的计算机可读存储介质，当所述计算机指令被一个或多个处理器执行时，致使所述一个或多个处理器执行上述所述的对焦方法。
34、本专利技术提供的对焦方法、系统及存储介质，对获取的拍摄的照片中的相邻的像素点的灰度差值进行计算，并计算灰度差值之和，根据灰度差值之和进行对焦处理，从而避免了拍摄的照片的清晰度不够的问题，进一步避免影响后续对工件的特征分析的精确性。
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1.一种对焦方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤S1，获取工件的第一照片，其中，所述第一照片中包括工件及用于工件放置的支承件，且所述第一照片中的工件及所述支承件的灰度值相异，进一步包括：
3.如权利要求2所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤S2，依次计算所述第一照片中相邻像素点的灰度值的差值，得到若干灰度差值，计算若干所述灰度差值之和，进一步包括：
4.如权利要求3所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤S3，根据所述灰度差值之和对拍摄的焦距进行调整，进一步包括：
5.如权利要求4所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤S3中改变拍摄焦距，进一步包括：
6.如权利要求5所述的对焦方法，其特征在于，所述S305，根据对比结果对拍摄的物距进行调整，进一步包括：
7.一种对焦系统，其特征在于，用于实施权利要求1至6中任意一项所述的对焦方法，包括：
8.一种存储有计算机指令的计算机可读存储介质，其特征在于，当所述计算机指令被一个或多个处理器执行时，致使所述一个或多
...【技术特征摘要】
1.一种对焦方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤s1，获取工件的第一照片，其中，所述第一照片中包括工件及用于工件放置的支承件，且所述第一照片中的工件及所述支承件的灰度值相异，进一步包括：
3.如权利要求2所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤s2，依次计算所述第一照片中相邻像素点的灰度值的差值，得到若干灰度差值，计算若干所述灰度差值之和，进一步包括：
4.如权利要求3所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤s3，根据所述灰度差值之和对拍摄的...
【专利技术属性】
技术研发人员：於昌星，周志新，陈盼，顾紫铭，
申请(专利权)人：中恒创科上海工业智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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