【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及对焦算法，特别是涉及一种对焦方法、系统及存储介质。
技术介绍
1、目前，对电路板的产品质量的各项尺寸的检测已经脱离了人工检测，一般会采用一些检测及分析算法对电路板照片进行检测及分析以获得电路板的各特征的尺寸，尺寸的获取的精度是十分依赖拍摄的照片的清晰度的，对于电路板的照片拍摄时，一般是默认电路板是符合标准的，因此，拍摄的物距是不变的，而面对一些不标准的电路板，拍照的清晰度及降低，从而影响后续的检测及分析的结果。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种对焦方法、系统及存储介质，从而避免了拍摄的照片的清晰度不够的问题，进一步避免影响后续对工件的特征分析的精确性。
2、本专利技术提供一种对焦方法，包括如下步骤：
3、s1，获取工件的第一照片，其中，所述第一照片中包括工件及用于工件放置的支承件，且所述第一照片中的工件及所述支承件的灰度值相异；
4、s2，依次计算所述第一照片中相邻像素点的灰度值的差值，得到若干灰度差值，计算若干所述
【技术保护点】
1.一种对焦方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤S1，获取工件的第一照片，其中，所述第一照片中包括工件及用于工件放置的支承件，且所述第一照片中的工件及所述支承件的灰度值相异，进一步包括：
3.如权利要求2所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤S2，依次计算所述第一照片中相邻像素点的灰度值的差值，得到若干灰度差值，计算若干所述灰度差值之和，进一步包括：
4.如权利要求3所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤S3，根据所述灰度差值之和对拍摄的焦距进行调整，进一步包括：
5.如权利...
【技术特征摘要】
1.一种对焦方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.如权利要求1所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤s1，获取工件的第一照片，其中，所述第一照片中包括工件及用于工件放置的支承件，且所述第一照片中的工件及所述支承件的灰度值相异，进一步包括：
3.如权利要求2所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤s2，依次计算所述第一照片中相邻像素点的灰度值的差值，得到若干灰度差值，计算若干所述灰度差值之和，进一步包括：
4.如权利要求3所述的对焦方法，其特征在于，所述步骤s3，根据所述灰度差值之和对拍摄的...
【专利技术属性】
技术研发人员：於昌星，周志新，陈盼，顾紫铭，
申请(专利权)人：中恒创科上海工业智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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