【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
1、质谱内的峰的正确识别是能够根据质谱的分析进行的测量和确定的总体准确度的重要因素。然而，在一些示例中，由于两种不同离子导致的峰可能共定位于相同或基本上相同的质荷(m/z)位置处。例如，质量和电荷均为另一离子的两倍的离子可以为相同m/z位置处的强度信号的一部分做贡献。由不同离子形成的峰可以能通过除仅m/z位置之外的属性来区分，诸如峰宽度或其他峰特性。
技术实现思路
1、根据一些实施例，提供了一种用于识别质谱中的峰的方法。该方法包括：访问为分析样品而生成的质谱，该质谱具有强度信号；对该强度信号执行小波变换以生成该强度信号的小波空间表示；根据该强度信号的小波空间表示生成尺度空间处理(ssp)响应信号；识别ssp响应信号中的第一局部最大值的第一小波尺度；基于第一小波尺度，检测第一基线强度信号；从该强度信号减去第一基线强度信号以生成第一调整后强度信号；以及检测第一调整后强度信号中的一个或多个峰。
2、根据一些实施例，提供了一种用于识别质谱中的峰的方法。该方法包括：访问质谱，该质谱具有强度信号；将该强度信号变换为指示峰宽度的表示；基于该表示，检测多个主峰宽度，该多个主峰宽度包括至少第一主峰宽度和第二主峰宽度；基于第一主峰宽度，检测第一基线强度信号；从该强度信号减去第一基线强度信号以生成第一调整后强度信号；以及检测第一调整后强度信号中的一个或多个峰。
3、根据一些实施例，提供了一种用于执行质谱法的系统。该系统包括：离子源，被配置为电离样品以生成离子；质量分析
4、提供本
技术实现思路
是为了以简化的形式介绍概念的选择，下面在具体实施方式中进一步描述这些概念。本
技术实现思路
并不旨在识别所要求保护的主题的关键特征或基本特征，也不旨在用于限制所要求保护的主题的范围。示例的附加方面、特征和/或优点将部分地在下面的描述中阐述，并且部分地将根据描述是清楚的，或者可以通过本公开的实践而获悉。
【技术保护点】
1.一种用于识别质谱中的峰的方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括对所述第一调整后强度信号执行小波变换。
4.根据权利要求1所述的方法，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括使用所述第一小波尺度作为峰查找算法的最佳尺度。
5.根据权利要求2所述的方法，还包括：
6.根据权利要求5所述的方法，还包括将检测到的一个或多个峰的特性包括在所述峰列表中，其中所述特性包括最佳尺度、SSP响应路径长度、SSP响应值和信噪比中的至少一者。
7.根据权利要求5所述的方法，还包括基于所述峰列表中的峰来识别所述样品的化合物。
8.一种用于识别质谱中的峰的方法，所述方法包括：
9.根据权利要求8所述的方法，还包括：
10.根据权利要求8所述的方法，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括对所述第一调整后强度信号执行小波变换。
11.根据权利要求8所述的方法，其中
12.根据权利要求8所述的方法，其中将所述强度信号变换为指示峰宽度的表示包括对所述强度信号执行小波变换以生成所述强度信号的小波空间表示。
13.根据权利要求12所述的方法，其中检测所述多个主峰宽度包括：
14.根据权利要求8所述的方法，还包括基于所述第一调整后强度信号中检测到的一个或多个峰和第二调整后强度信号中的一个或多个峰中的至少一者来识别样品中的化合物。
15.一种用于执行质谱法的系统，所述系统包括：
16.根据权利要求15所述的系统，其中所述操作还包括：
17.根据权利要求15所述的系统，其中将所述强度信号变换为指示峰宽度的表示包括对所述强度信号执行小波变换以生成所述强度信号的小波空间表示。
18.根据权利要求17所述的系统，其中检测所述多个主峰宽度包括：
19.根据权利要求15所述的系统，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括对所述第一调整后强度信号执行小波变换。
20.根据权利要求15所述的系统，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括使用所述第一主峰宽度作为峰查找算法的最佳尺度。
...【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于识别质谱中的峰的方法，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，还包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括对所述第一调整后强度信号执行小波变换。
4.根据权利要求1所述的方法，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括使用所述第一小波尺度作为峰查找算法的最佳尺度。
5.根据权利要求2所述的方法，还包括：
6.根据权利要求5所述的方法，还包括将检测到的一个或多个峰的特性包括在所述峰列表中，其中所述特性包括最佳尺度、ssp响应路径长度、ssp响应值和信噪比中的至少一者。
7.根据权利要求5所述的方法，还包括基于所述峰列表中的峰来识别所述样品的化合物。
8.一种用于识别质谱中的峰的方法，所述方法包括：
9.根据权利要求8所述的方法，还包括：
10.根据权利要求8所述的方法，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括对所述第一调整后强度信号执行小波变换。
11.根据权利要求8所述的方法，其中检测所述第一调整后强度信号中的一个或多个峰包括使用所述第一主峰宽度作...
【专利技术属性】
技术研发人员：G·伊沃什夫，E·杜乔斯拉夫，
申请(专利权)人：DH科技发展私人贸易有限公司，
类型：发明
国别省市：
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