【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于将光谱检测用分光的滤光片阵列与传感器阵列的像素级对准的技术，具体地说，涉及一种采用图像配准技术实现该配准、对准的方法和系统。
技术介绍
1、光谱检测是一种利用物质对不同波长的光线的吸收、反射或发射特性来分析其成分、结构或状态的技术。光谱检测在许多领域都有广泛的应用，例如化学、生物、医学、环境、农业、工业、天文等。
2、光谱检测通常需要使用一个分光器件来将入射的光线分解为不同波长的光谱，并将其投射到一个传感器阵列上，以便进行数字化和处理。分光器件有多种类型，例如棱镜、光栅、干涉仪等。其中，一种常用的分光器件是滤光片阵列，即在一个平面上排列多个具有不同透过波长范围的滤光片，形成滤光片阵列，以实现对入射光线的分光。滤光片阵列与传感器阵列之间的对准是影响光谱检测精度和效率的一个重要因素。如果两者之间存在偏移或倾斜，将导致光谱信号的失真或混叠，从而降低光谱检测的质量。因此，需要一种技术来实现滤光片阵列与传感器阵列之间的像素级对准，即使得每个滤光片与一个或多个传感器像素完全重合或接近重合。
3、现有技术...
【技术保护点】
1.一种用于将光谱检测用的分光的滤光片阵列与传感器阵列的像素级配准的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求要求1所述的方法，其特征在于：在所述步骤2中，采用其上的像素点作为特征点；或以对角线滤光片单元作为特征点，或以是以具有特定波长的单元作为特征点，或以是四个角落或中心位置作为特征点。
3.根据权利要求要求1所述的方法，其特征在于：在所述步骤2中，利用SIFT算法提取所述特征点。
4.根据权利要求要求4所述的方法，其特征在于：利用SIFT算法提取所述特征点包括以下步骤：
5.根据权利要求要求1所述的方法...
【技术特征摘要】
1.一种用于将光谱检测用的分光的滤光片阵列与传感器阵列的像素级配准的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求要求1所述的方法，其特征在于：在所述步骤2中，采用其上的像素点作为特征点；或以对角线滤光片单元作为特征点，或以是以具有特定波长的单元作为特征点，或以是四个角落或中心位置作为特征点。
3.根据权利要求要求1所述的方法，其特征在于：在所述步骤2中，利用sift算法提取所述特征点。
4.根据权利要求要求4所述的方法，其特征在于：利用sift算法提取所述特征点包括以下步骤：
5.根据权利要求要求1所述的方法，其特征在于：在所述步骤4中，通过ransac算法或双线性差值法计算所述滤光片阵列和所述传感器阵列的光谱图像之间的几何变换参数。
6.一种利用权利要求1-5任一项所述的方法进行配准的系统。
7.一种传感器封...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐晓轩，张炜，王斌，梁菁，
申请(专利权)人：宁波知谱科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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