【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体,具体涉及一种具有梳状源极场板提高耐压的ganhemt及制备方法。
技术介绍
1、氮化镓(gan)因具有宽带隙、耐高温、大击穿电压的特点,成为新兴的第三代半导体研究材料。algan/gan异质结构由于自发极化和压电极化,在algan与gan界面电离产生高浓度和高电子迁移率的二维电子气(2deg),使其在电力电子器件和射频器件中备受关注。其中p-gan栅增强型hemt凭借消除负电源电压,稳定的阈值电压,利于集成的优势成为目前最为广泛使用的器件。
2、氮化镓高电子迁移率晶体管gan hemt(highelectron mobility transistors)作为宽禁带功率半导体器件的代表,器件在高频功率应用方面有巨大的潜力。gan材料相比于si和sic具有更高的电子迁移率、饱和电子速度和击穿电场。由于材料上的优势,gan功率器件可以实现更小的导通电阻和栅极电荷(意味着更优秀的传导和开关性能)。因此gan功率器件更适合于高频应用场合,对提升变换器的效率和功率密度非常有利。目前gan功率器件主要应用于电源适配器
...【技术保护点】
1.一种具有梳状源极场板提高耐压的GaN HEMT,其特征在于,包括:梳状源极场板;
2.根据权利要求1所述的一种具有梳状源极场板提高耐压的GaN HEMT,其特征在于,还包括:T型栅极;
3.根据权利要求1所述的一种具有梳状源极场板提高耐压的GaN HEMT,其特征在于,所述梳状源极场板的第二端的长度为0.6-1.2um。
4.根据权利要求2所述的一种具有梳状源极场板提高耐压的GaN HEMT,其特征在于,所述梳状源极场板的第二端最靠近栅极的凸起与栅极之间的间隔为0.2-0.5um。
5.根据权利要求2所述的一种具有梳
...【技术特征摘要】
1.一种具有梳状源极场板提高耐压的gan hemt,其特征在于,包括:梳状源极场板;
2.根据权利要求1所述的一种具有梳状源极场板提高耐压的gan hemt,其特征在于,还包括:t型栅极;
3.根据权利要求1所述的一种具有梳状源极场板提高耐压的gan hemt,其特征在于,所述梳状源极场板的第二端的长度为0.6-1.2um。
4.根据权利要求2所述的一种具有梳状源极场板提高耐压的gan hemt,其特征在于,所述梳状源极场板的第二端最靠近栅极的凸起与栅极之间的间隔为0.2-0.5um。
5.根据权利要求2所述的一种具有梳状源极场板提高耐压的gan hemt,其特征在于,所述梳状源极场板的凸起与algan势垒层之间的间隔为0.04-0.06um。
6.根据权利要求2所述的...
【专利技术属性】
技术研发人员:古佳茜,
申请(专利权)人:深圳天狼芯半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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