【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶体毛坯光学均匀性检测，具体涉及一种光学晶体内部质量检测系统。
技术介绍
1、晶体是由大量微观物质单位按一定规则有序排列的结构，因此可以从结构单位的大小来研究判断排列规则和晶体形态。
2、目前对晶体毛坯内部质量（晶体内部光学均匀性）的检测方法主要是，使用手持半导体激光器照射晶体来观察晶体毛坯内部光学均匀性。由于手持设备的不稳定，激光器光束大小等因素的影响无法精准的检测出缺陷在毛坯的位置、大小，从而造成切割不准确，晶体产生浪费；
3、另一种方法是，使用激光干涉仪对晶体进行成品检测，即只有在精密抛光完成后才可对晶体内部的光学均匀性检测。由于毛坯切割选材之前无法准确判断晶体光学均匀性是否合格，内部是否存在散射点、条纹等缺陷。从而造成了成品合格率不高，浪费精密加工工作，增加成本，降低效率。
技术实现思路
1、本技术提出一种光学晶体内部质量检测系统，解决了相关技术中无法精准的检测出缺陷在晶体毛坯的位置、大小，从而造成切割不准确，成品合格率不高，晶体易产生浪费增加使用...
【技术保护点】
1.一种光学晶体内部质量检测系统，包括光学平台（1），其特征在于，所述光学平台（1）的顶部中心设移动机构，所述移动机构的输出端连接有载物台（2），所述载物台（2）的顶部置有待测光学晶体（3）；
2.根据权利要求1所述的一种光学晶体内部质量检测系统，其特征在于，所述移动机构由固定安装在光学平台（1）顶部中心的三维移动平台（7）所构成，所述载物台（2）固定安装于三维移动平台（7）的输出端。
3.根据权利要求1所述的一种光学晶体内部质量检测系统，其特征在于，所述支撑件一和支撑件二分别由光学调整架一（8）与光学调整架二（9）所构成，所述高分辨率CCD相...
【技术特征摘要】
1.一种光学晶体内部质量检测系统，包括光学平台（1），其特征在于，所述光学平台（1）的顶部中心设移动机构，所述移动机构的输出端连接有载物台（2），所述载物台（2）的顶部置有待测光学晶体（3）；
2.根据权利要求1所述的一种光学晶体内部质量检测系统，其特征在于，所述移动机构由固定安装在光学平台（1）顶部中心的三维移动平台（7）所构成，所述载物台（2）固定安装于三维移动平台（7）的输出端。
3.根据权利要求1所述的一种光学晶体内部质量检测系统，其特征在于，所述支撑件一和支撑件二分别由光学调整架一（8）与光学调整架二（9）所构成，所述高分辨率ccd相机（6）固定于光学调整架一（8）的顶部，所述高功率半导体激光器（5）固定于光学调整架二（9）的顶部。
4.根据权利要求1所述的一种光学晶体内部质量检测系统，其特征在于，所述夹持机构包括对称贯穿开设在固定座（4）内底壁的两个滑槽（10）与贯穿滑动连接在固定座（4）两侧的滑杆（11）、以及固定连接在两个滑杆（11...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘泽东，刘辉，孙允坤，
申请(专利权)人：济南智和弘盛光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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