【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及红外成像领域，尤其涉及一种红外热像仪的坏元查找方法及装置。
技术介绍
1、由于材料、生产工艺等限制，红外焦平面探测器往往存在响应异常的像元，这些异常的像元会影响成像质量，从而影响后续目标检测、目标搜索等工作。
2、目前，通常采用单个像元响应特性和整体特性比较的方式查找异常像元。但是，这种方式忽略了局部的差异特性，找到的坏元往往存在遗漏，影响成像效果。
技术实现思路
1、本专利技术主要目的：为了解决目前红外设备中查找坏元往往存在遗漏，影响成像效果，以及人工查找方式费时费力的问题，本专利技术提供一种红外热像仪的坏元查找方法及装置。
2、本专利技术提供一种红外热像仪的坏元查找方法，包括：获取黑体在第二温度、第四温度下于热像仪中成像的多帧图像，并分别计算两个温度下多帧图像的每个像素均值和整体像素均值；根据第二、四温度的像素均值差，与第二、四温度的整体像素均值差之比，计算每个像素的斜率，并根据每个像素的斜率确定整体像素的平均斜率；计算第二温度下每个像素的均方差，并计算第二温度下整体像素的平均均方差；通过比较每个像素的斜率和整体像素的平均斜率，以及每个像素均方差和整体像素平均均方差，确定整体差异特性下的第一坏元。
3、在本专利技术的红外热像仪的坏元查找方法中，所述通过比较每个像素和整体像素的平均斜率，以及每个像素均方差和整体像素平均均方差，确定整体差异特性下的第一坏元，包括：在任一像素斜率小于整体斜率的dth倍，或均方差大于整体平均均方差的nt
4、在本专利技术的红外热像仪的坏元查找方法中，还包括：根据第二、四温度下每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第一校正参数；根据所述第一校正参数，以及第二温度下的每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第二校正参数；获取黑体在第三温度下于热像仪中成像的多帧图像，并根据第三温度下多帧图像的每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第三校正参数；根据每个像素的所述第一校正参数、所述第二校正参数和所述第三校正参数，对黑体在第一温度下于热像仪中成像图像进行校正，得到第一温度的校正图像；对于所述校正图像，根据每一像素与邻域内像素中值的差值大小，确定第二坏元；根据所述第一坏元和所述第二坏元，确定综合坏元。
5、在本专利技术的红外热像仪的坏元查找方法中，所述根据第二、四温度下每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第一校正参数，包括：
6、
7、其中，ktab(i,j)为第一校正系数,和分别为第二、四温度下像素(i,j)的像素均值，和分别为第二、四温度下整体像素均值。
8、在本专利技术的红外热像仪的坏元查找方法中，所述根据所述第一校正参数，以及第二温度下的每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第二校正参数，包括：
9、
10、其中，ktab(i,j)为第一校正系数,btab(i,j)为第二校正系数,为第二温度下像素(i,j)的像素均值，为第二温度下整体像素均值。
11、在本专利技术的红外热像仪的坏元查找方法中，所述根据第三温度下多帧图像的每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第三校正参数，包括：
12、
13、其中，bt′ab为第三校正系数，和为第三温度下多帧图像的像素(i,j)的均值和整体像素均值。
14、在本专利技术的红外热像仪的坏元查找方法中，所述根据每个像素的所述第一校正参数、所述第二校正参数和所述第三校正参数，对黑体在第一温度下于热像仪中成像图像进行校正，包括：
15、
16、其中，ktab(i,j)为第一校正系数,btab(i,j)为第二校正系数,bt′ab为第三校正系数，为第一温度成像图像像素(i,j)的取值，为第一温度的校正图像像素(i,j)的取值。
17、在本专利技术的红外热像仪的坏元查找方法中，所述第三温度在所述第二温度和所述第四温度之间。
18、在本专利技术的红外热像仪的坏元查找方法中，所述第一温度，大于所述第二温度、所述第三温度和所述第四温度中的最大者，或者小于最小者。
19、本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一项所述红外热像仪的坏元查找方法。
20、本专利技术产生的有益效果是：通过比较每个像素的斜率和整体像素的平均斜率，以及每个像素均方差和整体像素平均均方差，结合了整体差异特性和局部差异特性，坏元查找更全面，减少了坏元查找遗漏的概率，并且仅需要简单的线性计算即可实现查找，计算复杂度低具有高效性，从而可以可满足大批量设备生产的要求并促进生产效率的提升。
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1.一种红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，包括
2.根据权利要求1所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述通过比较每个像素和整体像素的平均斜率，以及每个像素均方差和整体像素平均均方差，确定整体差异特性下的第一坏元，包括：
3.根据权利要求1所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述根据第二、四温度下每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第一校正参数，包括：
5.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述根据所述第一校正参数，以及第二温度下的每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第二校正参数，包括：
6.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述根据第三温度下多帧图像的每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第三校正参数，包括：
7.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述根据每个像素的所述第一校正参数、所述第二校正参数和所述第三校正参数，对黑体在第一
8.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述第三温度在所述第二温度和所述第四温度之间。
9.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述第一温度，大于所述第二温度、所述第三温度和所述第四温度中的最大者，或者小于最小者。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至9任一项所述红外热像仪的坏元查找方法。
...【技术特征摘要】
1.一种红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，包括
2.根据权利要求1所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述通过比较每个像素和整体像素的平均斜率，以及每个像素均方差和整体像素平均均方差，确定整体差异特性下的第一坏元，包括：
3.根据权利要求1所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，还包括：
4.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述根据第二、四温度下每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第一校正参数，包括：
5.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在于，所述根据所述第一校正参数，以及第二温度下的每个像素均值和整体像素均值，确定每个像素的第二校正参数，包括：
6.根据权利要求3所述的红外热像仪的坏元查找方法，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：卫扬道，侯良科，马晓楠，王文龙，胡啸，
申请(专利权)人：湖北久之洋信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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