【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子器件，特别是涉及一种电子元器件的可靠性地图构建方法、装置及计算机设备。
技术介绍
1、电子元器件是组成电子产品的基础，研究其贮存可靠性对产品而言比较重要。自然贮存试验能够获得真实的电子元器件的试验信息，对贮存可靠性指标进行研究能获得相对较高准确性的结论，能为产品的设计、定延寿和修理提供有力技术支持。目前，对元器件的贮存状态开展的研究工作较少，没有针对电子元器件自然贮存的相关研究方法。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种便于获取贮存可靠性的电子元器件的可靠性地图构建方法、装置、计算机设备、存储介质及计算机程序产品。
2、第一方面，本申请一种电子元器件的可靠性地图构建方法，该方法包括：
3、根据地图内各地区气候条件，确定适合贮存的至少一个地区；
4、获取电子元器件在各地区贮存的情况下相应的可靠性参数，可靠性参数用于表征电子元器件在相应地区贮存下的有效程度；
5、基于地理信息系统、至少一个地区和各地区相应的可靠性参数，绘制电子元器件贮存相应的可靠性信息地图，并显示可靠性信息地图。
6、在其中一个实施例中，可靠性参数包括贮存失效率、平均失效前时长或者可靠度中的至少一项。
7、在其中一个实施例中，贮存失效率的获取过程，包括：
8、针对每一地区，根据地区内贮存电子元器件时失效样品数量、失效样品失效时长和未失效样品的试验时长，获取在地区贮存电子元器件时的贮存失效率。
<...【技术保护点】
1.一种电子元器件的可靠性地图构建方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述可靠性参数包括贮存失效率、平均失效前时长或者可靠度中的至少一项。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述贮存失效率的获取过程，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述地区内贮存电子元器件时失效样品数量、失效样品失效时长和未失效样品的试验时长，获取在所述地区贮存电子元器件时的贮存失效率，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述平均失效前时长为所述贮存失效率的倒数。
6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述可靠度的获取过程，包括：
7.一种电子元器件的可靠性地图构建装置，其特征在于，所述装置包括：
8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被
10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种电子元器件的可靠性地图构建方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述可靠性参数包括贮存失效率、平均失效前时长或者可靠度中的至少一项。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述贮存失效率的获取过程，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述地区内贮存电子元器件时失效样品数量、失效样品失效时长和未失效样品的试验时长，获取在所述地区贮存电子元器件时的贮存失效率，包括：
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述平均失效前时长为所述贮存失效率的倒数。
6.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：李坤兰，张洪彬，胡湘洪，闫杰，李长虹，张少锋，张铮，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。