【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及噪声测试，具体涉及一种面向5g及演进技术的芯片噪声测试方法及系统。
技术介绍
1、芯片是电子设备中不可缺少的元件，芯片的质量和可靠性往往对电子设备的性能起决定性作用。在芯片设计和制造过程中，需要对芯片的噪声性能指标进行测试，该指标将影响芯片应用的通信系统的g/t值(增益/噪声温度比值)以及功耗等。因此，对芯片进行噪声性能的测试对整个通信系统至关重要。
2、在现有技术中，通常将芯片连接于信号发生器、频谱仪、噪声源、矢量网络分析仪等测试设备中，人工设定测试参数，待测试设备启动后，人工根据测试设备的输出信号记录数据，得到芯片的噪声性能参数，测试过程需要工作人员手动操作，测试过程繁琐且易出错。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术提供了一种面向5g及演进技术的芯片噪声测试方法及系统，以解决现有技术中手动测试芯片噪声性能参数，导致测试过程繁琐的问题。
2、第一方面，本专利技术提供了一种面向5g及演进技术的芯片噪声测试方法，应用于面向5g及演进技术的芯片噪声测试...
【技术保护点】
1.一种面向5G及演进技术的芯片噪声测试方法，其特征在于，应用于面向5G及演进技术的芯片噪声测试系统，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测芯片的工作条件数据，确定待测芯片的状态数量，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于噪声信号通过预设测试算法对待测芯片进行预设次数的自动噪声测试，得到待测芯片在各个状态下的噪声测试数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述噪声性能数据包括噪声系数，按照如下公式计算待测芯片的噪声系数：
5.根据权利要求4所述的方法...
【技术特征摘要】
1.一种面向5g及演进技术的芯片噪声测试方法，其特征在于，应用于面向5g及演进技术的芯片噪声测试系统，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测芯片的工作条件数据，确定待测芯片的状态数量，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于噪声信号通过预设测试算法对待测芯片进行预设次数的自动噪声测试，得到待测芯片在各个状态下的噪声测试数据，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述噪声性能数据包括噪声系数，按照如下公式计算待测芯片的噪声系数：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在根...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐强，李跃星，王安琪，
申请(专利权)人：广州全界通讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。