System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 集成电路的约束验证方法、装置、电子设备、介质及产品制造方法及图纸_技高网

集成电路的约束验证方法、装置、电子设备、介质及产品制造方法及图纸

技术编号:40667784 阅读:3 留言:0更新日期:2024-03-18 19:02
本申请属于集成电路设计技术领域,并且提出了集成电路的约束验证方法、装置、电子设备、介质及产品,所述集成电路的约束验证方法包括:获取待验证电路的设计文件以及约束验证命令;基于所述约束命令,对所述设计文件中的各约束对象的设计约束进行配置,并且将配置得到的约束数据设置为只读状态;在所述约束数据的约束下,根据所述计算命令,对所述设计文件进行验证计算,得到所述待验证电路在设计约束下的验证结果。本申请可以解决多线程调用约束导致计算耗时大、设计效率低的问题,可以实现单线程的约束数据配置,避免多线程计算中频繁访问约束数据且对约束对象层层递归地查询约束的问题,节约计算消耗,提升调用效率,提高验证计算的效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及集成电路设计,尤其涉及一种集成电路的约束验证方法、装置、电子设备、介质及产品


技术介绍

1、随着制造技术和设计技术的进步,电子系统的约束验证方法发生了深刻的变革,从电子计算机辅助设计(computer aided design,cad)、电子计算机辅助工程(computeraided engineering,cae)到电子设计自动化(electronic design automation,eda),设计的自动化程度越来越高,设计的复杂性也越来越强。

2、集成电路eda是指利用计算机辅助设计软件,来完成超大规模集成电路芯片的功能设计、综合、验证、物理设计(例如包括布局、布线、版图、设计规则检查等)等流程的设计方式。eda技术已逐渐成为现代电子设计的有力工具,没有eda技术的支持,要完成超大规模集成电路的设计和制造是不可想象的,集成电路设计人员需要使用eda工具设计几十万到数百亿晶体管的复杂集成电路,以减少设计偏差、提高流片成功率及节省流片费用。

3、在集成电路eda工具的设计过程中,需要根据用户约束设计来计算出基于当前约束的结果。约束设计例如可以包含时钟约束、upf(unified power format,统一电源格式或统一低功耗设计格式)约束或者一些自定义约束(例如工艺库约束、电压约束)等,以用于设置各种类型的约束值。

4、在相关技术中,为了在复杂集成电路的海量多层级数据中访问到目标约束数据,eda工具会在多层级的数据结构中一层一层地递归查询,其访问过程通常是多线程的,以通过并行计算来提高处理效率,其计算规模相当复杂,并且为了避免数据错误的情况发生,在并行计算的过程中通常涉及大量的加解锁操作或原子操作,这就导致了大量、高频的层层约束调用,使得计算链路较长,计算耗时增大,设计效率降低。


技术实现思路

1、本申请提供一种集成电路的约束验证方法、装置、电子设备、介质及产品,以至少解决相关技术中多线程调用约束导致计算耗时大、设计效率低的问题。本申请的技术方案如下:

2、根据本申请的第一方面,提供一种集成电路的约束验证方法,所述集成电路的约束验证方法包括:获取待验证电路的设计文件以及约束验证命令,其中,所述约束验证命令包括约束命令和计算命令,所述约束命令用于给定在集成电路设计验证过程中的设计约束,所述计算命令用于给定在集成电路设计验证过程中需要执行的验证计算;基于所述约束命令,对所述设计文件中的各约束对象的设计约束进行配置,并且将配置得到的约束数据设置为只读状态;在所述约束数据的约束下,根据所述计算命令,对所述设计文件进行验证计算,得到所述待验证电路在设计约束下的验证结果。

3、根据本申请的第二方面,提供一种集成电路的约束验证装置,所述集成电路的约束验证装置包括:获取单元,被配置为获取待验证电路的设计文件以及约束验证命令,其中,所述约束验证命令包括约束命令和计算命令,所述约束命令用于给定在集成电路设计验证过程中的设计约束,所述计算命令用于给定在集成电路设计验证过程中需要执行的验证计算;配置单元,被配置为基于所述约束命令,对所述设计文件中的各约束对象的设计约束进行配置,并且将配置得到的约束数据设置为只读状态;计算单元,被配置为在所述约束数据的约束下,根据所述计算命令,对所述设计文件进行验证计算,得到所述待验证电路在设计约束下的验证结果。

4、根据本申请的第三方面,提供一种电子设备,所述电子设备包括:处理器;用于存储处理器可执行指令的存储器,其中,所述处理器可执行指令在被所述处理器运行时,促使所述处理器执行根据本申请所述的集成电路的约束验证方法。

5、根据本申请的第四方面,提供一种计算机可读存储介质,当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得所述电子设备能够执行根据本申请所述的集成电路的约束验证方法。

6、根据本申请的第五方面,提供一种计算机程序产品,包括计算机指令,所述计算机指令被处理器执行时实现根据本申请所述的集成电路的约束验证方法。

7、本申请提供的技术方案至少带来以下有益效果:

8、本申请的技术方案可以先基于约束命令,对待验证电路的设计文件中的各约束对象的设计约束进行配置,并且可以将配置后的约束数据设置为只读状态,从而可以在这样的约束数据的约束下,根据计算命令,对设计文件进行验证计算,得到待验证电路在设计约束下的验证结果,如此,可以实现单线程的约束数据配置,并且在计算过程中使约束数据处于只读状态,不会再修改或更新约束数据,可以避免多线程计算中频繁访问约束数据并且需要对约束对象层层递归地查询约束的问题,可以节约在处理约束数据上的计算消耗,提升约束的调用效率,从而提高验证计算的效率。

9、应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本申请。

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【技术保护点】

1.一种集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述集成电路的约束验证方法包括:

2.根据权利要求1所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述基于所述约束命令,对所述设计文件中的各约束对象的设计约束进行配置,包括:

3.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束对象包括模块,其中,通过以下方式配置所述约束对象的约束数据:

4.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束对象包括模块,所述关联对象包括通过对所述模块实例化得到的关联实例,其中,通过以下方式配置所述关联对象的约束数据:

5.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束对象包括实例,其中,通过以下方式配置所述约束对象的约束数据:

6.根据权利要求4或5所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述集成电路的约束验证方法还包括:

7.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述优先级规则基于设计约束的约束来源类型确定,所述约束来源类型包括未定义约束来源类型的第一类型、来自父亲节点的第二类型、来自模块的第三类型以及来自实例的第四类型,

8.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,通过以下方式确定所述优先级规则:

9.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束命令包括针对同一约束对象的多个命令,其中,所述集成电路的约束验证方法还包括:

10.根据权利要求9所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述多个命令分别指定针对所述约束对象的不同参数设置的约束值,所述冲突判断规则指定所述约束对象的各参数之间需满足的取值关系,其中,通过以下方式判断当前命令与其他命令之间是否存在冲突:

11.根据权利要求10所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,在执行所述判断当前命令与其他命令之间是否存在冲突的步骤之前,所述约束验证方法还包括:

12.根据权利要求1所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束验证方法应用于电子设计自动化工具,其中,在执行所述获取待验证电路的设计文件以及约束验证命令的步骤之前,所述约束验证方法还包括:

13.根据权利要求12所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,通过以下方式基于状态机来响应所述约束验证命令:

14.一种集成电路的约束验证装置,其特征在于,所述集成电路的约束验证装置包括:

15.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:

16.一种计算机可读存储介质,其特征在于,当所述计算机可读存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时,使得所述电子设备能够执行根据权利要求1至13中任一项所述的集成电路的约束验证方法。

17.一种计算机程序产品,包括计算机指令,其特征在于,所述计算机指令被处理器执行时实现根据权利要求1至13中任一项所述的集成电路的约束验证方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述集成电路的约束验证方法包括:

2.根据权利要求1所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述基于所述约束命令,对所述设计文件中的各约束对象的设计约束进行配置,包括:

3.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束对象包括模块,其中,通过以下方式配置所述约束对象的约束数据:

4.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束对象包括模块,所述关联对象包括通过对所述模块实例化得到的关联实例,其中,通过以下方式配置所述关联对象的约束数据:

5.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束对象包括实例,其中,通过以下方式配置所述约束对象的约束数据:

6.根据权利要求4或5所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述集成电路的约束验证方法还包括:

7.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述优先级规则基于设计约束的约束来源类型确定,所述约束来源类型包括未定义约束来源类型的第一类型、来自父亲节点的第二类型、来自模块的第三类型以及来自实例的第四类型,

8.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,通过以下方式确定所述优先级规则:

9.根据权利要求2所述的集成电路的约束验证方法,其特征在于,所述约束命令包括针对同一约束对象的多个命令,其中,所述集成...

【专利技术属性】
技术研发人员:白利琼
申请(专利权)人:英诺达成都电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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