【技术实现步骤摘要】
本技术属于光学检测，具体涉及一种光学器件检测设备。
技术介绍
1、现有技术中的光学快检仪（如图1所示）是一款采用高清晰度彩色图像传感器以及大幅面双远心镜头的光学器件检测设备，具备基本的点、线、圆、椭圆、弧等基本测量功能和距离、角度、角平分线等组合测量功能及坐标变换功能，可被广泛应用于机械、航空、航天、兵工、汽车、电子、电器、模具、光学、五金塑胶、五金、pcb板、箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线等精密测量行业。
2、而现有的光学快检仪在使用时还存在以下问题：对于这类高精度的光学器件检测设备，灰尘对其影响较大，而在非使用状态下，该光学快检仪的检测台及检测镜头均长时间暴露在外，其缺乏有效的遮挡防护，会造成大量的灰尘附着于其表面，清理较为麻烦，给检测人员的日常使用带来了一定的不便，使用不佳。
技术实现思路
1、为解决现有技术中存在的上述问题，本技术提供了一种光学器件检测设备，可实现对使用后检测台和检测镜头的防尘保护，防止在非使用状态下检测台和检测镜头长时间暴露在外而附着大...
【技术保护点】
1.一种光学器件检测设备，包括光学快检仪本体（1），所述光学快检仪本体（1）的底部上端安装有检测台（2），所述光学快检仪本体（1）的上端底部安装有检测镜头（3），其特征在于：所述光学快检仪本体（1）的上端外部设置有防尘罩（4），所述防尘罩（4）的上端两侧内壁均一体连接有导向滑块（6），所述光学快检仪本体（1）的上端两侧均开设有导向滑槽（7），且所述导向滑块（6）与导向滑槽（7）滑动连接；
2.根据权利要求1所述的一种光学器件检测设备，其特征在于：所述防尘罩（4）为“U”形结构且为PVC构件。
3.根据权利要求2所述的一种光学器件检测设备，其特征...
【技术特征摘要】
1.一种光学器件检测设备，包括光学快检仪本体（1），所述光学快检仪本体（1）的底部上端安装有检测台（2），所述光学快检仪本体（1）的上端底部安装有检测镜头（3），其特征在于：所述光学快检仪本体（1）的上端外部设置有防尘罩（4），所述防尘罩（4）的上端两侧内壁均一体连接有导向滑块（6），所述光学快检仪本体（1）的上端两侧均开设有导向滑槽（7），且所述导向滑块（6）与导向滑槽（7）滑动连接；
2.根据权利要求1所述的一种光学器件检测设备，其特征在于：所述防尘罩（4）为“u”形结构且为pvc构件。
3.根据权利要求2所述的一种光学器件检测设备，其特征在于：所述防尘罩（4）...
【专利技术属性】
技术研发人员：何发明，李运涛，郝晓波，张继宏，
申请(专利权)人：西安艾美科光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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