一种手势采集装置参数点检方法、系统、设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:40634200 阅读:15 留言:0更新日期:2024-03-13 21:18
本发明专利技术实施例提供了一种手势采集装置参数点检方法、系统、设备及存储介质,通过对同一对象从不同视角分别拍摄,对各个视角的点特征进行匹配,得到各个视角对应的2D最佳特定匹配点集,利用2D最佳特定匹配点两两组合构建齐次方程组计算出3D场景点集,将3D场景点重投影至各个第一测试图像对应的2D空间,利用各个2D重投影点与对应2D最佳特定匹配点计算平均重投影误差,与预设误差阈值比对判断当前参数的可用性。这样,通过特征点提取匹配构建齐次方程组计算出3D场景点,利用3D场景点重投影后的2D重投影点与2D最佳特定匹配点计算平均重投影误差,极大地保证了手势采集装置参数点检结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及手势追踪,具体涉及一种手势采集装置参数点检方法、系统、设备及存储介质


技术介绍

1、有多视角手势采集装置主要涉及的相机内外参需要进行检测,常用的相机内外参检测方法一般使用相机标定板多个角度拍摄,然后提取特征点进行点检。为充分验证相机参数准确性,点特征需在图像上分布均匀,需在不同图像金字塔层提取特征,且采集装置不同相机分辨率存在差异,点检阈值难以统一设置,影响点检结果不准确。


技术实现思路

1、为此,本专利技术实施例提供一种手势采集装置参数点检方法、系统、设备及存储介质,以解决常用手势采集装置参数点检技术准确性低的技术问题。

2、为了实现上述目的,本专利技术实施例提供如下技术方案:

3、根据本专利技术实施例的第一方面,本申请实施例提供了一种手势采集装置参数点检方法,所述方法包括:

4、针对同一预设对象获取从不同视角拍摄的至少一个第一测试图像和一个第二测试图像;

5、针对各个第一测试图像和所述第二测试图像同步提取各自对应的第一二维显著点特征集和本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,针对同一预设对象获取从不同视角拍摄的至少一个第一测试图像和一个第二测试图像,包括:

3.如权利要求2所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.如权利要求3所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,针对各个第一测试图像和所述第二测试图像同步提取各自对应的第一二维显著点特征集和第二二维显著点特征集,包括:

5.如权利要求4所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,利用各个第一二维显...

【技术特征摘要】

1.一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,所述方法包括:

2.如权利要求1所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,针对同一预设对象获取从不同视角拍摄的至少一个第一测试图像和一个第二测试图像,包括:

3.如权利要求2所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.如权利要求3所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,针对各个第一测试图像和所述第二测试图像同步提取各自对应的第一二维显著点特征集和第二二维显著点特征集,包括:

5.如权利要求4所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,利用各个第一二维显著点特征集分别与所述第二二维显著点特征集进行点特征匹配,得到各个视角对应的2d匹配点集,包括:

6.如权利要求5所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,计算所述投射点与对应选出的第二初步匹配点之间的卡方检验值r,包括:

7.如权利要求6所述的一种手势采集装置参数点检方法,其特征在于,所述齐次方程组中的齐次方程为:其中,3d场景点世界坐标为(),两个不同视角的2d匹配点集中成对的两个2d匹配点的2d坐标分别为()和(),...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄嘉明孙其民
申请(专利权)人:南昌虚拟现实研究院股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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