本发明专利技术涉及实装电路板测试技术领域，揭露了一种应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法及系统，包括：优化初始图像得到优化图像，基于优化图像获取灰度梯度及判断参数，利用灰度梯度及判断参数获取优化电路板集，获取拟合参数集，利用拟合参数集拟合温灰度转换关系式，对优化电路板执行安装操作得到实装电路板，对实装电路板执行供电操作，获取一般灰度值集及半导体灰度值集，利用温灰度转换关系式计算第一表面温度，利用温灰度转换关系式、第二灰度值及内部温度计算公式内部温度，基于第一表面温度及内部温度判断元器件的状态，实现对实装电路板的测试。本发明专利技术可解决对实装电路板测试结果不准确及资源浪费的问题。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及实装电路板测试，尤其涉及一种应用于平板pcba控制模块的自动测试方法、系统、电子设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
1、随着科技的发展，实装电路板的应用尤为突出，与之相对应的是，实装电路板的生产制造工艺日趋复杂，受设备、环境和人为失误等因素影响，导致实装电路板产生许多会影响产品性能的缺陷，进一步的，能够对实装电路板进行测试尤为重要。
2、目前，对于实装电路板进行测试的方法为：测量对实装电路板中各个点位的电位，通过所测量的电位与理论估计值比较，对实装电路板进行测试。
3、虽然上述方法能够实现对实装电路板的测试，但是，在对实装电路板进行测试之前未考虑电路板存在故障的情况，造成对实装电路板测试结果不准确及资源浪费的问题。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种应用于平板pcba控制模块的自动测试方法、系统及计算机可读存储介质，其主要目的在于解决对实装电路板测试结果不准确及资源浪费的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供的一种应用于平板pcba控制模块的自动测试方法，包括：
3、接收测试指令，基于所述测试指令确认待测试的初始电路板集，其中，初始电路板集包含一个或多个电路板；
4、从所述一个或多个电路板中依次提取电路板，并对所提取的电路板执行如下操作：
5、获取电路板的初始图像，优化所述初始图像，得到优化图像，基于优化图像获取灰度梯度，利用优化图像计算判断参数，利用灰度梯度及判断参数获取优化电路板集；</p>6、获取用于拟合温灰度转换关系式的拟合参数集，其中，拟合参数集包括：s个温度值及g个灰度值，且s＝g，且每个温度值对应一个灰度值，利用拟合参数集拟合温灰度转换关系式；
7、从所述优化电路板集中依次提取优化电路板，并对所提取的优化电路板执行如下操作：
8、对优化电路板执行安装操作，得到实装电路板，其中，实装电路板包括多个元器件，且元器件包括一般元器件及半导体元器件，对所述实装电路板执行供电操作，获取供电后实装电路板的初始灰度图像集；
9、基于初始灰度图像集获取最大灰度图像，利用最大灰度图像获取参考灰度值集，根据参考灰度值集获取一般灰度值集及半导体灰度值集；
10、从所述一般灰度值集中依次提取第一灰度值，并利用温灰度转换关系式及第一灰度值计算第一表面温度；
11、从所述半导体灰度值集中依次提取第二灰度值，并利用温灰度转换关系式及第二灰度值计算第二表面温度，基于预构建的内部温度计算公式及第二表面温度计算内部温度；
12、基于第一表面温度及内部温度判断元器件的状态，实现对实装电路板的测试。
13、可选地，所述优化所述初始图像，得到优化图像，包括：
14、对初始图像执行双边滤波操作，得到降噪图像，其中，预设了双边滤波的约束条件，所述约束条件如下所示：
15、
16、其中，σ表示双边滤波中像素值域的标准差，z和h分别表示双边滤波窗口的长和宽，*表示卷积操作，l为拉普拉斯算子，m(i,j)表示双边滤波窗口在空间邻域内(i,j)处的像素值，q为预设的比例系数；
17、对降噪图像执行对比度增强操作，得到优化图像。
18、可选地，所述利用优化图像计算判断参数，计算公式如下所示：
19、p(x,y)＝k1αln(α)+k2βln(β)+k3γln(γ)
20、其中，p(x,y)表示双边滤波窗口中心点(x,y)处的判断参数，k1、k2及k3均为预设的参数，且k1、k2及k3的取值分别与α、β及γ有关，α、β及γ分别表示双边滤波窗口中斜率值大于、等于及小于0的比例系数。
21、可选地，所述利用灰度梯度及判断参数获取优化电路板集，包括：
22、输入灰度梯度及判断参数至预训练的电路板故障识别模型，利用所述电路板故障识别模型判断电路板的状态，其中，电路板的状态包括：正常电路板、划痕电路板、断路电路板及短路电路板；
23、确认电路板的状态为正常电路板后，汇总所确认的正常电路板，得到优化电路板集。
24、可选地，所述获取用于拟合温灰度转换关系式的拟合参数集，包括：
25、调取预设的温度梯度集，其中，温度梯度集包括多个温度值，从所述温度梯度集中依次提取温度值，并对所提取的温度值执行如下操作：
26、输入所提取的温度值至预构建的温度生成器；
27、采集输入温度值后温度生成器的红外图像，得到参考红外图像，基于参考红外图像获取灰度值；
28、汇总所述灰度值及其对应的温度值，得到拟合参数集。
29、可选地，所述温灰度转换关系式，如下所示：
30、t＝w(d5h5+d4h4+d3h3+d2h2+d1h+d0)
31、其中，t表示通过灰度值转化后元器件的表面温度，w表示转换温度修正系数，h为灰度值，d5、d4、d3、d2、d1及d0均为利用拟合参数集所求的系数。
32、可选地，所述内部温度计算公式，如下所示：
33、
34、其中，t1为半导体元器件的内部温度，t2为半导体元器件的表面温度，t0表示环境温度，e为内部温度修正系数，r1为半导体元器件内部至环境的热阻，r2为半导体元器件内部至半导体元器件表面的热阻。
35、可选地，所述获取供电后实装电路板的初始灰度图像集，包括：
36、输入预设的图像采集频率及预设的图像采集时段至预构建的红外热成像仪，利用输入图像采集频率及图像采集时段的红外热成像仪采集供电后实装电路板的红外热成像图像；
37、对所述红外热成像图像执行灰度化操作，得到初始灰度图像，汇总所述初始灰度图像，得到初始灰度图像集。
38、可选地，所述基于第一表面温度及内部温度判断元器件的状态，包括：
39、获取预设的表面温度范围及预设的内部温度范围，确认第一表面温度位于表面温度范围内，且内部温度位于内部温度范围内后，提示实装电路板工作正常，否则，提示实装电路板中元器件损坏。
40、为了解决上述问题，本专利技术还提供一种应用于平板pcba控制模块的自动测试系统，所述系统包括：
41、测试指令接收模块，用于接收测试指令，基于所述测试指令确认待测试的初始电路板集，其中，初始电路板集包含一个或多个电路板；
42、电路板筛选模块，用于从所述一个或多个电路板中依次提取电路板，并对所提取的电路板执行如下操作：
43、获取电路板的初始图像，优化所述初始图像，得到优化图像，基于优化图像获取灰度梯度，利用优化图像计算判断参数，利用灰度梯度及判断参数获取优化电路板集；
44、元器件温度计算公式构建模块，用于获取用于拟合温灰度转换关系式的拟合参数集，其中，拟合参数集包括：s个温度值及g个灰度值，且s＝g，且每个温度值对应一个灰度值，利用拟合参数集拟合温灰度转换本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述优化所述初始图像，得到优化图像，包括：
3.如权利要求1所述的应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述利用优化图像计算判断参数，计算公式如下所示：
4.如权利要求1所述的应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述利用灰度梯度及判断参数获取优化电路板集，包括：
5.如权利要求1所述的应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述获取用于拟合温灰度转换关系式的拟合参数集，包括：
6.如权利要求1所述的应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述温灰度转换关系式，如下所示：
7.如权利要求1所述的应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述内部温度计算公式，如下所示：
8.如权利要求1所述的应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述获取供电后实装电路板的初始灰度图像集，包括：
9.如权利要求1所述的应用于平板PCBA控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述基于第一表面温度及内部温度判断元器件的状态，包括：
10.一种应用于平板PCBA控制模块的自动测试系统，其特征在于，所述系统包括：
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【技术特征摘要】
1.一种应用于平板pcba控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的应用于平板pcba控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述优化所述初始图像，得到优化图像，包括：
3.如权利要求1所述的应用于平板pcba控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述利用优化图像计算判断参数，计算公式如下所示：
4.如权利要求1所述的应用于平板pcba控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述利用灰度梯度及判断参数获取优化电路板集，包括：
5.如权利要求1所述的应用于平板pcba控制模块的自动测试方法，其特征在于，所述获取用于拟合温灰度转换关系式的拟合参数集，包...
【专利技术属性】
技术研发人员：王震，
申请(专利权)人：深圳市摩天星智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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