【技术实现步骤摘要】
本申请属于储运设备，更具体地说，是涉及一种老化测试板储运装置
技术介绍
1、随着半导体技术的快速发展，半导体芯片的测试作业已经贯穿整个半导体芯片的设计、研发及生产过程，其中，芯片的老化测试是在一些极端环境下观测芯片的性能变化，进而用于评估芯片在实际应用场景下的稳定性和可靠性。
2、目前，在半导体芯片的老化测试作业中，通常需要将测试芯片预先安装于老化测试板上后，再将老化测试板设置于环境模拟实验箱内进行相关测试，并于测试完成后再取走老化测试板进行储存，但在以上作业过程中，将老化测试板由储存工位转移至环境模拟实验箱内，以及将老化测试板由环境模拟实验箱转移回储存工位中一般采取人工搬运的方式进行转移，进而在转移过程中使得老化测试板容易发生磕碰及磨损等情况，导致老化测试板损坏，并且影响测试效率。
技术实现思路
1、本申请的目的在于提供一种老化测试板储运装置，旨在解决目前在转移老化测试板的过程中，需要人工搬运使得老化测试板容易发生磕碰及磨损等情况，导致老化测试板损坏，并且影响测试效率的问题。
2、为本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种老化测试板储运装置，其特征在于，包括固定支架、移动轮组及多个活动框架，所述移动轮组设置于所述固定支架的底部，多个所述活动框架依次间隔设置于所述固定支架上，任意一个所述活动框架朝向于任意一个相邻的活动框架的一侧设有多个依次间隔排布的板体插槽，且任意一对相邻的所述活动框架相对的各一侧的所述板体插槽镜像对称。
2.根据权利要求1所述的老化测试板储运装置，其特征在于，多个所述活动框架沿水平方向相对活动设置于所述固定支架上，任意一个所述活动框架朝向于任意一个相邻的所述活动框架的一侧的多个所述板体插槽沿竖直方向依次间隔排布，且各所述板体插槽分别沿水平方向延伸。
3.根...
【技术特征摘要】
1.一种老化测试板储运装置，其特征在于，包括固定支架、移动轮组及多个活动框架，所述移动轮组设置于所述固定支架的底部，多个所述活动框架依次间隔设置于所述固定支架上，任意一个所述活动框架朝向于任意一个相邻的活动框架的一侧设有多个依次间隔排布的板体插槽，且任意一对相邻的所述活动框架相对的各一侧的所述板体插槽镜像对称。
2.根据权利要求1所述的老化测试板储运装置，其特征在于，多个所述活动框架沿水平方向相对活动设置于所述固定支架上，任意一个所述活动框架朝向于任意一个相邻的所述活动框架的一侧的多个所述板体插槽沿竖直方向依次间隔排布，且各所述板体插槽分别沿水平方向延伸。
3.根据权利要求2所述的老化测试板储运装置，其特征在于,所述固定支架包括一对沿水平方向相对间隔设置的固定框架，相对两端分别与各所述固定框架固定连接的滚珠丝杠，以及分别一一对应固定连接于各所述活动框架上的滚珠螺母，且各所述滚珠螺母均活动连接于所述滚珠丝杠上，所述移动轮组分别设置于各所述固定框架的底部。
4.根据权利要求3所述的老化测试板储运装置，其特征在于,所述固定支架还包括多根相对两端分别与各所述固定框架固定连接的连接柱体，及多个分别固定连接于各所述活动框架上的连接套管，且各连接套管分别活动连接于相应的各所述连接柱体上。
5.根据权利要求4所述的老化测试板储运装置，其特征在于,各所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄智玮，叶允元，陈柏任，
申请(专利权)人：华测蔚思博检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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