一种带限位结构的芯片测试装置制造方法及图纸

本技术公开了一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板的两侧各固定连接一个侧板，所述底板的顶面滑动连接两个左右镜像对称的推板，每个所述推板的内侧分别固定粘贴一个橡胶片，两个所述推板分别与两个所述侧板伸缩连接，每个所述推板和所述侧板之间设有一个驱动件，两个所述驱动件均固定连接在所述底板的顶面。本技术通过在底板的顶面滑动连接两个推板，并在底板的顶面设置用于驱动推板进行横向位移的驱动件，使得芯片在进行测试时，进行夹持固定，避免了芯片在进行测试时，位置出现偏移，从而影响芯片测试数据的准确性，提高了芯片在进行测试时，数据的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试，尤其涉及一种带限位结构的芯片测试装置。

技术介绍

1、芯片是一种将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路，集成电路芯片的测试分类包括：晶圆测试、芯片测试和封装测试，芯片测试是在晶圆经过切割、减薄工序，成为一片片独立的片之后的测试，其一般是将芯片放在测试平台上，用探针探到芯片中事先确定的测试点，探针上可以通过直流电流和交流信号，可以对其进行各种电气参数测试。但是现有的芯片测试装置在使用时不便于对芯片进行限位固定，费时费力效率低。

技术实现思路

1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种带限位结构的芯片测试装置。

2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板的两侧各固定连接一个侧板，所述底板的顶面滑动连接两个左右镜像对称的推板，每个所述推板的内侧分别固定粘贴一个橡胶片，两个所述推板分别与两个所述侧板伸缩连接，每个所述推板和所述侧板之间设有一个驱动件，两个所述驱动件均固定连接在所述底板的顶面。

3、作为上述技术方案的进一步描述：所述驱动件包括两个固定连接在所述底板顶面的支撑板，两个所述支撑板之间旋转连接一个转轴，所述转轴的外缘固定套接凸轮，其中一个所述支撑板的外侧水平固定一个与所述转轴末端传动连接的旋转电机，所述底板的顶面横向贯穿两个左右镜像对称的通槽，所述通槽位于所述凸轮的正下方。

4、作为上述技术方案的进一步描述：每个所述侧板的外侧均贯穿有沉头孔，所述沉头孔内轴向滑动套接推杆，所述推杆的一端与所述推板固定连接，另一端固定连接限位块，所述推杆的外缘套接弹簧，所述弹簧的两端分别与所述限位块以及所述沉头孔抵接。

5、作为上述技术方案的进一步描述：两个所述凸轮的朝向相同，且两个所述旋转电机的旋转方向相反。

6、作为上述技术方案的进一步描述：所述底板的顶面横向开设两个前后镜像对称的滑槽，每个所述滑槽内滑动连接两个滑块，所述滑块分别固定连接在所述推板的底面。

7、作为上述技术方案的进一步描述：所述凸轮的长度等于所述通槽长度的一半，且所述推板的背面与所述支撑板贴合。

8、本技术具有如下有益效果：

9、与现有技术相比，该带限位结构的芯片测试装置，通过在底板的顶面滑动连接两个推板，并在底板的顶面设置用于驱动推板进行横向位移的驱动件，使得芯片在进行测试时，进行夹持固定，避免了芯片在进行测试时，位置出现偏移，从而影响芯片测试数据的准确性，提高了芯片在进行测试时，数据的准确度。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板(1)，所述底板(1)的两侧各固定连接一个侧板(2)，其特征在于：所述底板(1)的顶面滑动连接两个左右镜像对称的推板(8)，每个所述推板(8)的内侧分别固定粘贴一个橡胶片(7)，两个所述推板(8)分别与两个所述侧板(2)伸缩连接，每个所述推板(8)和所述侧板(2)之间设有一个驱动件，两个所述驱动件均固定连接在所述底板(1)的顶面。

2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述驱动件包括两个固定连接在所述底板(1)顶面的支撑板(11)，两个所述支撑板(11)之间旋转连接一个转轴(13)，所述转轴(13)的外缘固定套接凸轮(10)，其中一个所述支撑板(11)的外侧水平固定一个与所述转轴(13)末端传动连接的旋转电机(12)，所述底板(1)的顶面横向贯穿两个左右镜像对称的通槽(6)，所述通槽(6)位于所述凸轮(10)的正下方。

3.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：每个所述侧板(2)的外侧均贯穿有沉头孔(3)，所述沉头孔(3)内轴向滑动套接推杆(9)，所述推杆(9)的一端与所述推板(8)固定连接，另一端固定连接限位块(5)，所述推杆(9)的外缘套接弹簧(4)，所述弹簧(4)的两端分别与所述限位块(5)以及所述沉头孔(3)抵接。

4.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个所述凸轮(10)的朝向相同，且两个所述旋转电机(12)的旋转方向相反。

5.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述底板(1)的顶面横向开设两个前后镜像对称的滑槽，每个所述滑槽内滑动连接两个滑块，所述滑块分别固定连接在所述推板(8)的底面。

6.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述凸轮(10)的长度等于所述通槽(6)长度的一半，且所述推板(8)的背面与所述支撑板(11)贴合。

...

【技术特征摘要】

1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板(1)，所述底板(1)的两侧各固定连接一个侧板(2)，其特征在于：所述底板(1)的顶面滑动连接两个左右镜像对称的推板(8)，每个所述推板(8)的内侧分别固定粘贴一个橡胶片(7)，两个所述推板(8)分别与两个所述侧板(2)伸缩连接，每个所述推板(8)和所述侧板(2)之间设有一个驱动件，两个所述驱动件均固定连接在所述底板(1)的顶面。

2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述驱动件包括两个固定连接在所述底板(1)顶面的支撑板(11)，两个所述支撑板(11)之间旋转连接一个转轴(13)，所述转轴(13)的外缘固定套接凸轮(10)，其中一个所述支撑板(11)的外侧水平固定一个与所述转轴(13)末端传动连接的旋转电机(12)，所述底板(1)的顶面横向贯穿两个左右镜像对称的通槽(6)，所述通槽(6)位于所述凸轮(10)的正下方。

3.根据权利要求1所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎城镇，王丽冬，
申请(专利权)人：华测蔚思博检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：