【技术实现步骤摘要】
本技术涉及芯片测试领域,特别是涉及一种支撑结构及其检测装置。
技术介绍
1、随着科技的发展,电子产品在生活中被广泛使用,人们对电子产品的需求量也在急速增长。芯片作为电子产品中重要的组成部分,在生产后需要对其性能进行检测及分选。在长时间使用后,承载芯片的料盘在检测设备上需要进行更换。但检测设备结构紧凑、空间狭小,导致取放料盘不方便,影响生产效率。
技术实现思路
1、基于此,本技术针对上述技术问题,提供一种支撑结构。
2、一种支撑结构,所述支撑结构包括:侧板,一侧具有用于容纳部分料盘的安装空间;门板,连接于所述侧板,所述门板具有第一状态和第二状态;其中,在所述第一状态时,所述门板能够相对所述侧板绕第一轴线转动并锁定,以封闭所述安装空间的一侧;在所述第二状态时,所述门板能够相对所述侧板转动以打开所述安装空间。
3、如此设置,通过侧板支撑门板,且门板相对侧板能够转动以具有不同的使用状态。在第一状态时,门板能够相对于侧板转动并且锁定;此时,门板与侧板之间限定出的安装空间用于支
...【技术保护点】
1.一种支撑结构,其特征在于,所述支撑结构包括:
2.根据权利要求1所述的支撑结构,其特征在于,所述支撑结构还包括转动组件(30),所述转动组件(30)连接于所述门板(20)与所述侧板(10)之间;
3.根据权利要求2所述的支撑结构,其特征在于,所述第一转动座(31)上构造有连接凸块(311),所述第二转动座(32)上构造有连接凹槽(321);所述连接凸块(311)朝向所述第二转动座(32)延伸,并伸入所述连接凹槽(321)中,所述连接凹槽(321)的槽壁和所述连接凸块(311)均开设有轴向沿所述第一轴线的第一穿孔,所述转轴(33)穿设于多个所
...【技术特征摘要】
1.一种支撑结构,其特征在于,所述支撑结构包括:
2.根据权利要求1所述的支撑结构,其特征在于,所述支撑结构还包括转动组件(30),所述转动组件(30)连接于所述门板(20)与所述侧板(10)之间;
3.根据权利要求2所述的支撑结构,其特征在于,所述第一转动座(31)上构造有连接凸块(311),所述第二转动座(32)上构造有连接凹槽(321);所述连接凸块(311)朝向所述第二转动座(32)延伸,并伸入所述连接凹槽(321)中,所述连接凹槽(321)的槽壁和所述连接凸块(311)均开设有轴向沿所述第一轴线的第一穿孔,所述转轴(33)穿设于多个所述第一穿孔,并与所述第一穿孔的孔壁转动连接;或者,
4.根据权利要求1所述的支撑结构,其特征在于,所述侧板(10)朝向所述安装空间的一侧凸设有固定块(34);
5.根据权利要求4所述的支撑结构,其特征在于,所述固定块(34)包括连接段(341)和连接于所述连接段(341)的延伸段(342),二者成角度设置,所述延伸段(342)自所述连接段(341)背向所述侧板(10)延伸,所述连接段(341)与所述侧板(10)连接;在所述第一状态时,所述固定件(35)穿过所述门板(20)与所述连接段(341)背离所述延伸段(342)的一侧锁定,所述门板(20)、所述连接段(341)和所述延...
【专利技术属性】
技术研发人员:万杨,包荣剑,张东东,
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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