【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及错题识别统计，具体而言，涉及一种错题识别检测统计系统及方法。
技术介绍
1、答题卡提供了一种标准化的答题方式，使得评卷更加客观和一致。答题卡上通常有预定义的答案位置，根据答题卡上的标记来评分，减少了主观评分的偏差，使用答题卡，学生可以在较短的时间内获得答题结果和分数，这有助于提供即时反馈，帮助学生了解他们的表现，并在需要时纠正错误，答题卡可以轻松存档和记录学生的答案和成绩，从而减少了繁琐的记录工作。
2、但仅依靠答题卡进行错题统计分析，不能对试题的易错程度进行确定，因此，如何基于答题卡识别错题数据确定试题的易错程度成为技术发展新趋势。
技术实现思路
1、鉴于此，本专利技术提出了一种错题识别检测统计系统及方法，主要是为了解决如何基于答题卡识别错题数据确定试题的易错程度的问题。
2、一个方面，本专利技术提出了一种错题识别检测统计系统，该系统包括：
3、数据采集单元，用于获取仅含单项选择题的答题卡数据；
4、一次判断单元，用于根据所述答题卡数据获取答题人数和试题数量，还用于根据所述答题卡数据获取错题总数，根据所述答题人数和试题数量与所述错题总数确定试题总体易错等级；
5、其中，所述错题总数为参与答题的答题人数的所有的错题数量；
6、二次判断单元，用于根据所述试题数量依次对单项选择试题进行单题易错等级判断；
7、统计展示单元，用于根据所述试题总体易错等级与单题易错等级判断进行综合统计展示。p>
8、在本申请的一些实施例中，所述一次判断单元根据所述答题人数和试题数量与所述错题总数确定试题总体易错等级时，包括：
9、获取答题人数a0和试题数量b0；
10、获取错题总数c0；
11、根据答题人数a0和错题总数c0确定总体人均错题数量ca，ca＝c0/a0；
12、根据答题人数a0、试题数量b0和错题总数c0确定总体错题率cb，cb＝c0/(a0*b0)；
13、预先设定第一预设总体错题率阈值cb1、第二预设总体错题率阈值cb2、第三预设总体错题率阈值cb3、第四预设总体错题率阈值cb4，且cb1＞cb2＞cb3＞cb4；预先设定第一预设调整系数c1、第二预设调整系数c2、第三预设调整系数c3、第四预设调整系数c4，且1.1＞c1＞c2＞1＞c3＞c4＞0.9；
14、当cb≥cb1时，选择第一预设调整系数c1对总体人均错题数量ca进行调整，调整后的总体人均错题数量为ca*c1；
15、当cb1＞cb≥cb2时，选择第二预设调整系数c2对总体人均错题数量ca进行调整，调整后的总体人均错题数量为ca*c2；
16、当cb2＞cb≥cb3时，选择第三预设调整系数c3对总体人均错题数量ca进行调整，调整后的总体人均错题数量为ca*c3；
17、当cb3＞cb≥cb4时，选择第四预设调整系数c4对总体人均错题数量ca进行调整，调整后的总体人均错题数量为ca*c4。
18、在本申请的一些实施例中，所述一次判断单元选定第i预设调整系数c i对总体人均错题数量ca进行调整，i＝1，2，3，4，获得调整后的总体人均错题数量为ca*c i后，还包括：
19、将调整后的总体人均错题数量为ca*c i作为总体人均修正错题数量cab；
20、预先设定第一预设总体人均错题数量阈值ca1、第二预设总体人均错题数量阈值ca2、第三预设总体人均错题数量阈值ca3、第四预设总体人均错题数量阈值ca4，且ca1＞ca2＞ca3＞ca4；预先设定第一预设试题总体易错等级x1、第二预设试题总体易错等级x2、第三预设试题总体易错等级x3、第四预设试题总体易错等级x4，且x1＞x2＞x3＞x4；
21、当cab≥ca1时，选择第一预设试题总体易错等级x1作为试题总体易错等级xc；
22、当ca1＞cab≥ca2时，选择第二预设试题总体易错等级x2作为试题总体易错等级xc；
23、当ca2＞cab≥ca3时，选择第三预设试题总体易错等级x3作为试题总体易错等级xc；
24、当ca3＞cab≥ca4时，选择第四预设试题总体易错等级x4作为试题总体易错等级xc。
25、在本申请的一些实施例中，所述二次判断单元，用于根据所述试题数量依次对单项选择试题进行单题易错等级判断时包括：
26、获取单项选择试题题号en，n＝1，2，…，n；
27、预先设定单项选择试题涉及知识点的知识难度等级，包括：第一预设知识难度等级k1、第二预设知识难度等级k2、第三预设知识难度等级k3、第四预设知识难度等级k4，且k1＞k2＞k3＞k4；预先设定第一预设单题易错等级y1、第二预设单题易错等级y2、第三预设单题易错等级y3、第四预设单题易错等级y4，且y1＞y2＞y3＞y4；
28、获取单项选择试题en对应的知识难度等级ki；
29、当ki＝k1时，选定第一预设单题易错等级y1作为单项选择试题en对应的单题易错等级ync；
30、当ki＝k2时，选定第二预设单题易错等级y2作为单项选择试题en对应的单题易错等级ync；
31、当ki＝k3时，选定第三预设单题易错等级y3作为单项选择试题en对应的单题易错等级ync；
32、当ki＝k4时，选定第四预设单题易错等级y4作为单项选择试题en对应的单题易错等级ync。
33、在本申请的一些实施例中，所述二次判断单元选定第i预设单题易错等级yi作为单项选择试题en对应的单题易错等级ync后，i＝1，2，3，4，还包括：
34、获取单项选择试题en对应的错误人数fn0；
35、当0.6a0≥fn0≥0.5a0时，所述二次判断单元不对单题易错等级ync进行调整，将单题易错等级ync作为单题易错调整等级ync1，ync1＝ync；
36、当fn0＜0.5a0时，所述二次判断单元对单题易错等级ync调降一级，单题易错调整等级ync1＝y(i-1)，单题易错调整等级最低为y4；
37、当fn0＞0.6a0时，所述二次判断单元对单题易错等级ync调升一级，单题易错调整等级ync1＝y(i+1)，单题易错调整等级最高为y1
38、在本申请的一些实施例中，所述二次判断单元确定单题易错调整等级ync1后，还包括：
39、预先设定单项试题选项答案与正确答案的相关程度类型，包括：相关项、无关项、正确项；
40、获取单项选择试题en对应的相关项选择人数la和无关项选择人数lb；
41、当la＞lb时，所述二次判断单元判断不对单题易错调整等级ync1进行修正；
42、当la≤lb时，所述二次判断单元判断对单题易错调整等级ync1进行修正。
43、在本申请的一些实施例中，所述二次判本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种错题识别检测统计系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述一次判断单元根据所述答题人数和试题数量与所述错题总数确定试题总体易错等级时，包括：
3.根据权利要求2所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述一次判断单元选定第i预设调整系数ci对总体人均错题数量Ca进行调整，i＝1，2，3，4，获得调整后的总体人均错题数量为Ca*ci后，还包括：
4.根据权利要求3所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述二次判断单元，用于根据所述试题数量依次对单项选择试题进行单题易错等级判断时包括：
5.根据权利要求4所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述二次判断单元选定第i预设单题易错等级Yi作为单项选择试题En对应的单题易错等级Ync后，i＝1，2，3，4，还包括：
6.根据权利要求5所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述二次判断单元确定单题易错调整等级Ync1后，还包括：
7.根据权利要求6所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述二次判断单元判断对单
8.根据权利要求7所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述二次判断单元确定单项选择试题En对应的单题易错修正等级Lnc2后，还包括：
9.一种错题识别检测统计方法，其特征在于，应用于如权利要求1-8任一项所述的错题识别检测统计系统中，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种错题识别检测统计系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述一次判断单元根据所述答题人数和试题数量与所述错题总数确定试题总体易错等级时，包括：
3.根据权利要求2所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述一次判断单元选定第i预设调整系数ci对总体人均错题数量ca进行调整，i＝1，2，3，4，获得调整后的总体人均错题数量为ca*ci后，还包括：
4.根据权利要求3所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所述二次判断单元，用于根据所述试题数量依次对单项选择试题进行单题易错等级判断时包括：
5.根据权利要求4所述的错题识别检测统计系统，其特征在于，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：展召敏，严一滨，
申请(专利权)人：上海建桥学院有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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