【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及射频,尤其涉及一种相位噪声测量装置和方法。
技术介绍
1、晶体振荡器对系统性能的发挥起着至关重要的作用。随着各应用领域的不断发展,对环境适应性的要求也在不断提高。在卫星发射升空、航天器在轨运行、飞机空中飞行等过程中,经常存在剧烈的振动,晶体振荡器受到振动影响,输出信号的稳定性会发生恶化,导致输出频率产生偏差,系统性能下降,严重时可能会出现通信中断,导航失效以及雷达失准等系统异常现象。因此,如何准确快速测试晶体振荡器振动下的性能,变得尤为重要,而相位噪声作为晶体振荡器的一项重要指标,更亟需一套完善的测试系统。
2、在信号处理中,相位噪声是波形相位随机波动的频域表示,对应于完美周期性的时域偏差。一般来说,射频领域谈论的相位噪声是振荡器的相位噪声。振荡器通常用作频率参考,所以相位噪声通常用于量化振荡器的频率稳定性。由于实际振荡器非理想,所以都一定程度具有相位调制噪声分量。相位噪声分量将信号的功率传播到相邻频率,从而产生噪声边带。
3、目前测量相位噪声的方法因为频谱仪本身存在本地振荡器,其产生的相位噪声将混
...【技术保护点】
1.一种相位噪声测量装置,其特征在于,包括外部参考源、频谱仪和相位噪声测量单元,所述相位噪声测量单元包括输入端和输出端,所述输入端和输出端之间设有射频单刀双掷开关,所述射频单刀双掷开关分别控制C端和NC端链路、C端和NO端链路的开闭,NO端的另一端连接输出端,C端的另一端连接输入端,NC端的另一端连接有负载,所述外部参考源接入相位噪声测量单元的输入端,所述频谱仪接入相位噪声测量单元的输出端。
2.一种相位噪声测量方法,其特征在于,使用相位噪声测量装置,所述相位噪声测量装置包括外部参考源、频谱仪和相位噪声测量单元,所述相位噪声测量单元包括输入端和输出端,所述
...【技术特征摘要】
1.一种相位噪声测量装置,其特征在于,包括外部参考源、频谱仪和相位噪声测量单元,所述相位噪声测量单元包括输入端和输出端,所述输入端和输出端之间设有射频单刀双掷开关,所述射频单刀双掷开关分别控制c端和nc端链路、c端和no端链路的开闭,no端的另一端连接输出端,c端的另一端连接输入端,nc端的另一端连接有负载,所述外部参考源接入相位噪声测量单元的输入端,所述频谱仪接入相位噪声测量单元的输出端。
2.一种相位噪声测量方法,其特征在于,使用相位噪声测量装置,所述相位噪声测量装置包括外部参考源、频谱仪和相位噪声测量单元,所述相位噪声测量单元包括输入端和输出端,所述输入端和输出端之间设有射频单刀双掷开关,所述射频单刀双掷开关分别控制c端和nc端链路、c端和no端链路的开闭,no端的另一端连接输出端,c端的另一端连接输入端,nc端的另一端连接有负载,所述外部参考源接入相位噪声测量单元的输入端,所述频谱仪接入相位噪声测量单元的输出端,所述方法具体包括如下步骤:
3.根据权利要求2中...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱晨祺,
申请(专利权)人:苏州美星科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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