光谱检测装置和电子设备制造方法及图纸

技术编号:40604098 阅读:23 留言:0更新日期:2024-03-12 22:09
本申请实施例提供了一种光谱检测装置和电子设备,用于环境监测、生物医疗、食品安全等。该装置包括:基底、滤波片阵列、光电探测器阵列,以及光强计算和控制电路。滤波片阵列集成在光电探测器阵列的上方,光强计算和控制电路与光电探测器阵列连接,且光强计算和控制电路,以及光电探测器阵列集成在基底上;滤波片阵列包括截止膜、两层金属高反膜,位于两层金属高反膜之间的谐振腔,增透膜和遮光膜。本申请技术方案能够有效提高光谱仪的工作带宽和光谱精度。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及光谱测量,并且更具体地,涉及一种光谱检测装置和电子设备


技术介绍

1、光谱能够反映物质分子结构信息,在生物、化学、医药材料、食品工业以及地质勘探等领域起着重要的作用。光谱仪器通过测量物质的吸收、反射或者发射等光谱特征,对其成分及结构进行分析,是科学研究和工业应用中最常用的测量工具之一。

2、当前,窄带滤波器阵列和线性渐变滤波器能够同时测量多个光谱分量,从而实现对光谱的快速检测,已经广泛应用于微型光谱仪中。然而,多光谱滤波片阵列的制备方法复杂、效率低且成本高,基于线性渐变滤波片型的光谱仪工作带宽较窄,且集成性较差,难以满足人们在日常生活中对不同场景、轻小便携、低功耗、低成本、快速检测、实时在线等方面的应用需求。

3、因此,如何有效提高光谱仪的工作带宽和光谱精度是亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本申请实施例提供了一种光谱检测装置和电子设备,能够有效提高光谱仪的工作带宽和光谱精度。

2、第一方面,提供了一种光谱检测装置,包括:基底、滤波片阵列、光电探测器阵列,以及本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光谱检测装置,其特征在于,包括:基底、滤波片阵列、光电探测器阵列,以及光强计算和控制电路,其中:

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述滤波片阵列包括多个滤波片,每个滤波片的共振阶数是根据所述滤波片的中心波长、所述谐振腔的厚度,以及所述谐振腔的材料的折射率确定的。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述滤波片的共振阶数N满足:

4.根据权利要求1至3中任一项所述的装置,其特征在于,所述截止膜的数量与所述滤波片的共振阶数满足:

5.根据权利要求1至4中任一项所述的装置,其特征在于,所述截止膜的材料包括高折射率材料和低折...

【技术特征摘要】

1.一种光谱检测装置,其特征在于,包括:基底、滤波片阵列、光电探测器阵列,以及光强计算和控制电路,其中:

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述滤波片阵列包括多个滤波片,每个滤波片的共振阶数是根据所述滤波片的中心波长、所述谐振腔的厚度,以及所述谐振腔的材料的折射率确定的。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述滤波片的共振阶数n满足:

4.根据权利要求1至3中任一项所述的装置,其特征在于,所述截止膜的数量与所述滤波片的共振阶数满足:

5.根据权利要求1至4中任一项所述的装置,其特征在于,所述截止膜的材料包括高折射率材料和低折射率材料,其中:

6.根据权利要求1至5中任一项所述的装置,其特征在于,所述基底包括以下任意一项:硅si基底、锗ge基底、砷化镓gaas基底、磷化铟inp基底、锑化铟insb基底、磷化铟gan基底。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的装置,其特征在于,所述金属高反膜的...

【专利技术属性】
技术研发人员:林耿丁迅
申请(专利权)人:华为技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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