寄生参数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质制造方法及图纸

本申请实施例提供一种寄生参数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及射频技术领域。寄生参数确定方法包括：基于目标仿真软件，在待测器件的金属结构上设置N个输入端口和M个分立端口，得到金属结构的仿真结构，N和M均为大于等于1的整数；利用目标仿真软件对仿真结构进行仿真，确定第一S参数；根据第一S参数、M个分立端口以及K个有源区域模型，确定第二S参数，K小于等于M，且K为正整数；根据第二S参数，确定待测器件的目标寄生参数根据本申请实施例，有利于缩短待测器件的研发周期和节省研发成本。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于射频，尤其涉及一种寄生参数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质。

技术介绍

1、目前，相关技术中射频晶体管等待测器件的寄生参数确定过程为：使用摩托罗拉电热模型(met model)作为等效电路模型，并基于基本结构的摩托罗拉电热模型，对待测晶体管在关断状态下的电路结构进行简化，然后在实物待测器件为关断状态(coldfet)下，对该实物待测器件进行测试等，最后根据测试结果确定该实物待测器件的寄生参数。

2、可见，相关技术中主要通过做出实物待测器件，通过对实物待测器件进行测试，并利用测试结果来确定该实物待测器件的寄生参数，存在待测器件的寄生参数的确定过程存在研发周期长，以及研发成本高的问题。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种寄生参数确定方法、装置、电子设备及可读存储介质，有利于缩短研发周期，以及节约研发成本。

2、第一方面，本申请实施例提供一种寄生参数确定方法，方法包括：

3、在目标仿真软件中的待测器件的金属结构上设置n个输入端口和m个分立端口，得到金属结构的仿本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种寄生参数确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一S参数、M个所述分立端口以及K个有源区域模型，确定第二S参数，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述有源区域模型的控制极连接对应的所述分立端口，所述有源区域模型的第一极连接接地端，所述有源区域模型的第二极用于输出信号。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在目标仿真软件中的待测器件的金属结构上设置N个输入端口和M个分立端口，得到所述金属结构的仿真结构，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述...

【技术特征摘要】

1.一种寄生参数确定方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一s参数、m个所述分立端口以及k个有源区域模型，确定第二s参数，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述有源区域模型的控制极连接对应的所述分立端口，所述有源区域模型的第一极连接接地端，所述有源区域模型的第二极用于输出信号。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述在目标仿真软件中的待测器件的金属结构上设置n个输入端口和m个分立端口，得到所述金属结构的仿真结构，包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第二s参数，确定所述待测器件的目标寄生参数，包括：

6.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯富诚，
申请(专利权)人：苏州华太电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：