【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及ssd时延统计，尤其是指ssd二维时延统计方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
1、随着ssd容量越来越大，一块硬盘可为4tb、8tb或16tb。一个用户用不到这么大的容量，就会出现两个或多个用户共用一块盘的场景。这时候ssd会面临一些新的挑战，因为当多个应用同时在使用一块硬盘的时候，会相互有一些干扰。这样的干扰可能不会体现在iops(每秒进行读写操作的次数)，ssd整体i/o性能还是挺高的，但是从每一个用户的角度看来，都会认为感受到旁边的应用影响了自己的正常响应。
2、同时，主机对于ssd的io延迟有要求的，如果ssd io延迟过高，可能会导致业务软件出现io毛刺，队列拥塞，或者系统停止响应。而现有ssd io延迟统计不能区分io命令的大小和延迟的阈值，因此不能统计io模式对延迟产生的影响。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供ssd二维时延统计方法、装置、计算机设备及存储介质。
2、为了解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
3、第一方面，本实施例提供了一种ssd二维时延统计方法，包括以下步骤：
4、制定时延分布及在每个时延区间内做io大小分布统计；
5、在每个io大小区间增加4个寄存器，即总时延、io最大时延、最大时延的lba明细及io最大时延发生时的时间戳；
6、统计平均io时延；
7、根据平均io时延，统计慢io；
8、根
9、其进一步技术方案为：所述统计平均io时延指的是根据总时延、io最大时延、最大时延的lba明细、io最大时延发生时的时间戳及每个区间的io总数，计算得出每个区间的平均时延，即平均io时延。
10、其进一步技术方案为：所述统计慢io指的是通过设定的慢io阈值，基于平均io时延统计出大于慢io阈值的io信息。
11、其进一步技术方案为：所述呈现统计数据包括以下步骤：
12、定义两个第一日志页用来呈现读命令和写命令的分段延迟统计数据；
13、定义两个第二日志页用来呈现读命令和写命令的大小分段统计数据；
14、定义一个第三日志页用来呈现的慢io统计数据。
15、第二方面，本实施例提供了一种ssd二维时延统计装置，包括：制定统计单元、增加单元、第一统计单元、第二统计单元及呈现单元；
16、所述制定统计单元，用于制定时延分布及在每个时延区间内做io大小分布统计；
17、所述增加单元，用于在每个io大小区间增加4个寄存器，即总时延、io最大时延、最大时延的lba明细及io最大时延发生时的时间戳；
18、所述第一统计单元，用于统计平均io时延；
19、所述第二统计单元，用于根据平均io时延，统计慢io；
20、所述呈现单元，用于根据慢io，呈现统计数据。
21、其进一步技术方案为：所述统计平均io时延指的是根据总时延、io最大时延、最大时延的lba明细、io最大时延发生时的时间戳及每个区间的io总数，计算得出每个区间的平均时延，即平均io时延。
22、其进一步技术方案为：所述统计慢io指的是通过设定的慢io阈值，基于平均io时延统计出大于慢io阈值的io信息。
23、其进一步技术方案为：所述呈现单元包括：第一定义呈现模块、第二定义呈现模块及第三定义呈现模块；
24、所述第一定义呈现模块，用于定义两个第一日志页用来呈现读命令和写命令的分段延迟统计数据；
25、所述第二定义呈现模块，用于定义两个第二日志页用来呈现读命令和写命令的大小分段统计数据；
26、所述第三定义呈现模块，用于定义一个第三日志页用来呈现的慢io统计数据。
27、第三方面，本实施例提供了一种计算机设备，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述所述的ssd二维时延统计方法。
28、第四方面，本实施例提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如上述所述的ssd二维时延统计方法。
29、本专利技术与现有技术相比的有益效果是：通过二维统计：一个维度是时延分布，第二个维度是在每个时延区间内再做io大小分布统计，分别在每个io区间记录io总数、最大时延、平均时延、最大时延对应的lba明细，即可达到在io时延统计中区分io模式的效果，便于在运维过程中精确的判断故障根源。
30、下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步描述。
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1.SSD二维时延统计方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的SSD二维时延统计方法，其特征在于，所述统计平均IO时延指的是根据总时延、IO最大时延、最大时延的LBA明细、IO最大时延发生时的时间戳及每个区间的IO总数，计算得出每个区间的平均时延，即平均IO时延。
3.根据权利要求1所述的SSD二维时延统计方法，其特征在于，所述统计慢IO指的是通过设定的慢IO阈值，基于平均IO时延统计出大于慢IO阈值的IO信息。
4.根据权利要求1所述的SSD二维时延统计方法，其特征在于，所述呈现统计数据包括以下步骤：
5.SSD二维时延统计装置，其特征在于，包括：制定统计单元、增加单元、第一统计单元、第二统计单元及呈现单元；
6.根据权利要求5所述的SSD二维时延统计装置，其特征在于，所述统计平均IO时延指的是根据总时延、IO最大时延、最大时延的LBA明细、IO最大时延发生时的时间戳及每个区间的IO总数，计算得出每个区间的平均时延，即平均IO时延。
7.根据权利要求5所述的SSD二维时延统计装置，其特征在
8.根据权利要求5所述的SSD二维时延统计装置，其特征在于，所述呈现单元包括：第一定义呈现模块、第二定义呈现模块及第三定义呈现模块；
9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1-4中任一项所述的SSD二维时延统计方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令当被处理器执行时可实现如权利要求1-4中任一项所述的SSD二维时延统计方法。
...【技术特征摘要】
1.ssd二维时延统计方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的ssd二维时延统计方法，其特征在于，所述统计平均io时延指的是根据总时延、io最大时延、最大时延的lba明细、io最大时延发生时的时间戳及每个区间的io总数，计算得出每个区间的平均时延，即平均io时延。
3.根据权利要求1所述的ssd二维时延统计方法，其特征在于，所述统计慢io指的是通过设定的慢io阈值，基于平均io时延统计出大于慢io阈值的io信息。
4.根据权利要求1所述的ssd二维时延统计方法，其特征在于，所述呈现统计数据包括以下步骤：
5.ssd二维时延统计装置，其特征在于，包括：制定统计单元、增加单元、第一统计单元、第二统计单元及呈现单元；
6.根据权利要求5所述的ssd二维时延统计装置，其特征在于，所述统计平均io时延指的是根据总时延、io最大时延、最...
【专利技术属性】
技术研发人员：康春，黎燕，李敏秋，
申请(专利权)人：成都芯忆联信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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