【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及缺陷检测，尤其涉及一种显示屏缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
1、显示屏生产过程中由于材料、工艺、结构等原因，会有部分产品出现画面显示亮度不均的现象；这种亮度不均的斑点痕迹会给视觉上带来不舒适感，留有这种mura痕迹的产品无法达到终端客户的规格要求。
2、目前的显示屏缺陷检测主要采用人工肉眼检测，存在强度大，成本高，且识别的一致性差的问题，检测效率和检测准确性较低。
技术实现思路
1、本专利技术的主要目的在于提供一种显示屏缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术显示屏缺陷检测准确性和效率较低的技术问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供了一种显示屏缺陷检测方法，所述方法包括以下步骤：
3、采集待检测显示屏的初始光学图像；
4、根据所述初始光学图像得到图像点坐标之间的相互映射关系，并通过所述相互映射关系对所述初始光学图像进行校正，得到处理后的光学图像；
5、对处理后的光学图像使用动态阈值分割策略计算类间方差，并通过所述类间方差对处理后的光学图像进行感兴趣区域分割，得到分割光学图像；
6、使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。
7、可选地，所述使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
8、使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行骨架提取，得到骨架图像；
9、对所述骨架图
10、对所述差影图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。
11、可选地，所述对所述差影图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
12、对所述差影图像进行灰度级别分析，得到表征所述差影图像中各个灰度级别的频度信息；
13、对所述频度信息进行中值滤波，得到滤波后的频度信息；
14、对滤波后的频度信息进行峰值计算，得到第一分割阈值；
15、根据所述第一分割阈值对所述差影图像进行缺陷特征提取，得到缺陷区域；
16、根据所述缺陷区域进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。
17、可选地，所述根据所述缺陷区域进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
18、计算所述缺陷区域中的点数量；
19、根据所述点数量计算亮度不均匀区域面积；
20、根据所述亮度不均匀区域面积计算显示屏的最小可察觉差异；
21、计算背景平均亮度；
22、对亮度不均匀区域的亮度进行计算，得到亮度不均匀区域的平均亮度；
23、根据所述背景平均亮度和所述亮度不均匀区域的平均亮度计算亮度比值；
24、通过所述亮度比值和所述最小可察觉差异计算缺陷指标；
25、根据所述缺陷指标确定缺陷类别，得到缺陷检测结果。
26、可选地，所述对处理后的光学图像使用动态阈值分割策略计算类间方差，并通过所述类间方差对处理后的光学图像进行感兴趣区域分割，得到分割光学图像，包括：
27、对处理后的光学图像进行转换，得到灰度图像；
28、计算所述灰度图像的灰度均值和图像像素数量；
29、获取初始分割阈值；
30、通过所述初始分割阈值、所述灰度均值以及所述图像像素数量计算类间方差；
31、从所述类间方差中确定目标类间方差，并得到所述目标类间方差对应的分割阈值；
32、通过所述目标类间方差对应的分割阈值对所述初始分割阈值进行更新，得到目标分割阈值；
33、通过所述目标分割阈值将处理后的光学图像进行二值化处理，完成感兴趣区域的分割，得到分割光学图像。
34、可选地，所述根据所述初始光学图像得到图像点坐标之间的相互映射关系，并通过所述相互映射关系对所述初始光学图像进行校正，得到处理后的光学图像，包括：
35、对所述初始光学图像进行滤波预处理，得到滤波光学图像；
36、对所述滤波光学图像进行空间坐标变换，得到滤波光学图像点坐标和参考图对应点坐标之间的相互映射关系；
37、通过所述相互映射关系对所述滤波光学图像中各个像素坐标进行校正，得到校正后的光学图像；
38、对校正后的光学图像进行灰度内插，得到各像素灰度值；
39、通过各像素灰度值得到处理后的光学图像。
40、可选地，所述采集待检测显示屏的初始光学图像，包括：
41、设定待采集显示屏与采集设备之间的预设角度；
42、获取待检测显示屏的尺寸；
43、通过所述待检测显示屏的尺寸计算拍摄距离；
44、通过所述拍摄距离和所述预设角度对所述待检测显示屏进行图像采集，得到待检测显示屏的初始光学图像。
45、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种显示屏缺陷检测装置，所述显示屏缺陷检测装置包括：
46、采集模块，用于采集待检测显示屏的初始光学图像；
47、处理模块，用于根据所述初始光学图像得到图像点坐标之间的相互映射关系，并通过所述相互映射关系对所述初始光学图像进行校正，得到处理后的光学图像；
48、分割模块，用于对处理后的光学图像使用动态阈值分割策略计算类间方差，并通过所述类间方差对处理后的光学图像进行感兴趣区域分割，得到分割光学图像；
49、检测模块，用于使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。
50、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种显示屏缺陷检测设备，所述显示屏缺陷检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示屏缺陷检测程序，所述显示屏缺陷检测程序配置为实现如上文所述的显示屏缺陷检测方法的步骤。
51、此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有显示屏缺陷检测程序，所述显示屏缺陷检测程序被处理器执行时实现如上文所述的显示屏缺陷检测方法的步骤。
52、本专利技术通过采集待检测显示屏的初始光学图像；根据所述初始光学图像得到图像点坐标之间的相互映射关系，并通过所述相互映射关系对所述初始光学图像进行校正，得到处理后的光学图像；对处理后的光学图像使用动态阈值分割策略计算类间方差，并通过所述类间方差对处理后的光学图像进行感兴趣区域分割，得到分割光学图像；使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，可通过预设缺陷检测策略快速准确地对显示屏进行缺陷检测，提高缺陷检测的效率和准确性。
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1.一种显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述显示屏缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
3.如权利要求2所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述差影图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
4.如权利要求3所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
5.如权利要求1所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述对处理后的光学图像使用动态阈值分割策略计算类间方差，并通过所述类间方差对处理后的光学图像进行感兴趣区域分割，得到分割光学图像，包括：
6.如权利要求1所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述初始光学图像得到图像点坐标之间的相互映射关系，并通过所述相互映射关系对所述初始光学图像进行校正，得到处理后的光学图像，包括：
7.如权利要求1至6中任一项所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述采集待检测显示屏的初始光学图像，包括
8.一种显示屏缺陷检测装置，其特征在于，所述显示屏缺陷检测装置包括：
9.一种显示屏缺陷检测设备，其特征在于，所述显示屏缺陷检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的显示屏缺陷检测程序，所述显示屏缺陷检测程序配置为实现如权利要求1至7中任一项所述的显示屏缺陷检测方法。
10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质上存储有显示屏缺陷检测程序，所述显示屏缺陷检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的显示屏缺陷检测方法。
...【技术特征摘要】
1.一种显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述显示屏缺陷检测方法包括：
2.如权利要求1所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述使用预设缺陷检测策略对所述分割光学图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
3.如权利要求2所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述对所述差影图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
4.如权利要求3所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述缺陷区域进行缺陷检测，得到缺陷检测结果，包括：
5.如权利要求1所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述对处理后的光学图像使用动态阈值分割策略计算类间方差，并通过所述类间方差对处理后的光学图像进行感兴趣区域分割，得到分割光学图像，包括：
6.如权利要求1所述的显示屏缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭孟旭，
申请(专利权)人：深圳市欧灵科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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