【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及装配领域，尤其涉及一种用于非成像模组的装配系统及装配方法。
技术介绍
1、aa(active alignment，主动对准)制程是用于成像模组的装配方法，常用于摄像头模组的对准，以镜头视场的四个边角处的清晰度作为评价标准来进行调整。然而，对非成像模组来说，由于缺乏成像功能，导致无法采用aa制程进行装配，只能通过器件的空间形态、物理位置等参数来判断对准情况，使得非成像模组的装配存在较大误差。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种减小装配误差的用于非成像模组的装配系统及装配方法。
2、为实现上述专利技术目的之一，本专利技术一实施方式提供一种用于非成像模组的装配系统，所述非成像模组包括沿着第一光轴排列的第一光学件和第二光学件，所述装配系统包括沿着第二光轴排列的第一成像件、第二成像件和感光元件，所述第一成像件设置于第一光学件上，所述第二成像件设置于第二光学件上，所述第一光轴与第二光轴相互平行或者相互共线。
3、作为本专利技术一实施方式的进一步改进，所...
【技术保护点】
1.一种用于非成像模组的装配系统，所述非成像模组包括沿着第一光轴排列的第一光学件和第二光学件，其特征在于，所述装配系统包括沿着第二光轴排列的第一成像件、第二成像件和感光元件，所述第一成像件设置于第一光学件上，所述第二成像件设置于第二光学件上，所述第一光轴与第二光轴相互平行或者相互共线。
2.如权利要求1所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述第一成像件和第二成像件均配置为基于超表面的超全息器件。
3.如权利要求1所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述第一成像件配置为基于超表面的超全息器件或者基于超表面的纳米打印器件，所述第二成...
【技术特征摘要】
1.一种用于非成像模组的装配系统，所述非成像模组包括沿着第一光轴排列的第一光学件和第二光学件，其特征在于，所述装配系统包括沿着第二光轴排列的第一成像件、第二成像件和感光元件，所述第一成像件设置于第一光学件上，所述第二成像件设置于第二光学件上，所述第一光轴与第二光轴相互平行或者相互共线。
2.如权利要求1所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述第一成像件和第二成像件均配置为基于超表面的超全息器件。
3.如权利要求1所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述第一成像件配置为基于超表面的超全息器件或者基于超表面的纳米打印器件，所述第二成像件配置为基于超表面的超透镜器件。
4.如权利要求1所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述第一成像件的出射光在第二光学件上形成的光斑的外形尺寸与第二成像件的外形尺寸相匹配。
5.如权利要求3所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述第一光学件与第二光学件之间的间距等于第一成像件的成像距离与两倍的第二成像件焦距之和。
6.如权利要求3所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述非成像模组还包括第三光学件和第四光学件，所述第一光学件、第三光学件、第四光学件、第二光学件沿着第一光轴排列，所述装配系统还包括设置于第三光学件上的第三成像件以及设置于第四光学件上的第四成像件，所述第一成像件、第三成像件、第四成像件、第二成像件沿着第二光轴排列，所述第三成像件和第四成像件均配置为基于超表面的超透镜器件，所述第三光学件与第四光学件之间的距离等于第三成像件的焦距与第四成像件的焦距之和。
7.如权利要求6所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述第一光学件与第三光学件之间的距离等于第一成像件的成像距离与第三成像件的焦距之和，所述第四光学件与第二光学件之间的间距等于第四成像件的焦距与两倍的第二成像件焦距之和。
8.如权利要求1所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述第一光学件和第二光学件均配置为超表面器件，所述第一成像件成型于第一光学件的基底上，所述第二成像件成型于第二光学件的基底上。
9.如权利要求1所述的用于非成像模组的装配系统，其特征在于，所述装配系统包括至少两个第一成像件以及与第一成像件数量相对应的第二成像件，每个第一成像件与相对应第二成像件沿着不同的第二光轴排列，前述不同的第二光轴之间相互平行。
10.一种用于非成像模组的装配方法，其特征在于，适用于如权利要求1-9中...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴安丽，史坦，吴贤丰，
申请(专利权)人：苏州山河光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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