【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路，特别是涉及一种集成电路的性能检查方法、装置、计算机设备和存储介质。
技术介绍
1、数字集成电路设计和模拟集成电路设计中，都需要工作人员手动的检查数据，并对有问题的电路进行修改，是一个不断迭代的过程，每一次验证结果不符合实际需求时，都要重复进行手动的检查和修改。
2、而人为检查电路，效率较低，并且可能遗漏部分有问题的节点。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种集成电路的性能检查方法、装置、计算机设备和存储介质，可以实现电路的自动化检查。
2、第一方面，本申请提供了一种集成电路的性能检查方法，所述方法包括：
3、获取对应所述集成电路的仿真准备数据和电路数据，其中，所述仿真准备数据包括电路检测节点的参数信息，所述电路检测节点位于电路元件的输入端和输出端；
4、基于所述仿真准备数据和所述电路数据进行仿真，获取仿真结果，所述仿真结果包括各所述电路检测节点的仿真数据；
5、基于所述仿真结果检测各所述电...
【技术保护点】
1.一种集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述集成电路包括多个级联的子电路；所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述基于预设优化规则和第i级子电路的电路参数对所述电路数据中的电路参数进行调整，包括：
4.根据权利要求1所述的集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求2至5任一项所述的集成...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述集成电路包括多个级联的子电路；所述方法还包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述基于预设优化规则和第i级子电路的电路参数对所述电路数据中的电路参数进行调整，包括：
4.根据权利要求1所述的集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的集成电路的性能检查方法，其特征在于，所述方法还包括：
6.根据权利要求2至5任一项所述的集成电路的...
【专利技术属性】
技术研发人员：马苜梓，顾昌山，马亚奇，刘洋，郑君华，
申请(专利权)人：合芯科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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