【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片封装测试，具体来说，涉及一种测试eml眼图测试方法。
技术介绍
1、eml芯片（electro-absorption modulated laser）是一种电吸收调制半导体激光器，它利用光的电吸收效应实现光信号的调制，eml芯片内部集成了半导体激光器和电吸收调制器，电吸收调制器是通过施加电压改变其吸收带宽，从而调制激光器输出的光强度信号。相比直接调制激光器，eml芯片具有更高的调制频率，一般可达10gbps以上，eml芯片输出的光信号已经完成了数字电信号到光信号的转换，适用于光纤通信系统。
2、eml芯片因其体积小、光电转化效率高、可直接调制等特点，在光通信行业应用越来越广泛，在激光器芯片封装测试环节中，需要先对单颗激光器芯片的光电性能进行测试，根据所测得的性能，将有问题的激光器筛选出来，以减少封装不良。然而，在现有测试环节中，激光器芯片高频性能需要进行封装后才能够测试，由于测试环境的波动，通常会使同一批次激光器芯片中的不同个体在测试时出现较大的性能差异，而这种差异并非器件自身所导致的，因此，不利于提高测试
【技术保护点】
1.一种测试EML眼图测试方法，其特征在于，该测试方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种测试EML眼图测试方法，其特征在于，所述确定眼图测试环境，并利用示波器内部将光信号转换为电信号与误码仪信号进行比较，判断眼图形态质量包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种测试EML眼图测试方法，其特征在于，所述预设温度点的范围为20℃~100℃。
4.根据权利要求3所述的一种测试EML眼图测试方法，其特征在于，所述误码仪的输出幅度为0.8Vpp。
5.根据权利要求4所述的一种测试EML眼图测试方法，其特征在于，所述利用...
【技术特征摘要】
1.一种测试eml眼图测试方法，其特征在于，该测试方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种测试eml眼图测试方法，其特征在于，所述确定眼图测试环境，并利用示波器内部将光信号转换为电信号与误码仪信号进行比较，判断眼图形态质量包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的一种测试eml眼图测试方法，其特征在于，所述预设温度点的范围为20℃~100℃。
4.根据权利要求3所述的一种测试eml眼图测试方法，其特征在于，所述误码仪的输出幅度为0.8vpp。
5.根据权利要求4所述的一种测试eml眼图测试方法，其特征在于，所述利用示波器将光信号转换为电信号并与误码仪信号进行比较，以观察眼图形态判断质量包括以下步骤：
6.根据权利要求5所述的一种测试eml...
【专利技术属性】
技术研发人员：关广飞，
申请(专利权)人：南京镭芯光电有限公司，
类型：发明
国别省市：
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