【技术实现步骤摘要】
本申请属于x射线成像，尤其涉及一种背散射成像装置及安检系统。
技术介绍
1、背散射成像技术，是通过探测来自被检测物体(即被检物)的背散射光子及其空间分布，来获取被检测物体内部结构的成像技术。
2、在一些x射线成像装置中，例如采用顶照式的结构布局，被检物的传输装置一般位于检测通道的底部或者靠近下部的位置，x射线源位于检测通道的顶部。当背散射成像技术应用于顶照式的x射线成像装置中时，根据背散射成像的工作原理，背散射探测器应与x射线源布置在被检物或检测通道的同一侧。当被检物体积较小时，被检物将位于检测通道靠近下方的位置，其与背散射探测器之间的间距较大，存在因散射串扰和光子数不足等因素削弱背散射图像质量的问题。
技术实现思路
1、本申请实施例的目的是提供一种背散射成像装置及方法，以解决背散射成像系统中，当被检物体积较小时，与背散射探测器之间的间距较大，削弱背散射图像质量的问题。
2、为实现上述目的，本申请实施例采用下述技术方案：
3、第一方面，本申请实施例提供一...
【技术保护点】
1.一种背散射成像装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述背散射探测器组件包括第一背散射探测器和第二背散射探测器，所述第一背散射探测器用于采集经所述被检物散射的第一背散射光子数据，所述第二背散射探测器用于采集经所述标准模体散射的第二背散射光子数据；
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述处理组件具体用于：
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，在所述背散射探测器组件包括第一背散射探测器和第二背散射探测器，且所述第二背散射探测器包括两个的情况下，所述标准模体的数量为两个，一个所述第二背散...
【技术特征摘要】
1.一种背散射成像装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述背散射探测器组件包括第一背散射探测器和第二背散射探测器，所述第一背散射探测器用于采集经所述被检物散射的第一背散射光子数据，所述第二背散射探测器用于采集经所述标准模体散射的第二背散射光子数据；
3.根据权利要求1或2所述的装置，其特征在于，所述处理组件具体用于：
4.根据权利要求3所述的装置，其特征在于，在所述背散射探测器组件包括第一背散射探测器和第二背散射探测器，且所述第二背散射探测器包括两个的情况下，所述标准模体的数量为两个，一个所述第二背散射探测器与一个所述标准模体对应设置；
5.根据权利要求4所述的装置，其特征在于，所述位置调整组件包括：
6.根据权利要求1所述的装置，其特...
【专利技术属性】
技术研发人员：董涛，徐光明，
申请(专利权)人：杭州睿影科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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