【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及压电晶体成品检测，尤其涉及基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统。
技术介绍
1、压电晶体，是指非中心对称晶体，在机械力作用下，产生形变，使带电质点发生相对位移，从而在晶体表面出现正、负束缚电荷，这样的晶体称为压电晶体。压电晶体极轴两端产生电势差的性质称为压电性。
2、现有技术中，在对压电晶体进行检测过程中，通常基于压电晶体的形状以及压电晶体极轴两端产生电势差的产生对压电晶体进行判断，导致压电晶体检测不准确，不能够基于对压电晶体信息的获取，对压电晶体进行综合分析判断，因此本专利技术提出了基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本专利技术目的是提供基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，本专利技术在压电晶体检测过程中，对压电晶体图片信息对压电晶体的形状进行判断，基于压电晶体的特性对压电晶体进行检测，同时对合格产品与生产的产品进行对比判断差异性，对压电晶体进行多项检测，提高压电晶体检测的准确性。>
2、为解决上本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于包括：
2.根据权利要求1所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，压电晶体图片生成的具体过程如下：
3.根据权利要求1所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，对压电晶体图片排序的具体过程如下：
4.根据权利要求1所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，所述压电晶体检测设备对不同形状的压电晶体进行检测的具体过程如下：
5.根据权利要求1所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系...
【技术特征摘要】
1.基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于包括：
2.根据权利要求1所述的基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，压电晶体图片生成的具体过程如下：
3.根据权利要求1所述的基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，对压电晶体图片排序的具体过程如下：
4.根据权利要求1所述的基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，所述压电晶体检测设备对不同形状的压电晶体进行检测的具体过程如下：
5.根据权利要求1所述的基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，所述控制器对合格晶体的厚度、长度、宽度以及密度进行获取，得到合格厚度值hh、合格长度值hc、合格宽度值hk以及合格密度值hm，压电晶体处理模块包括称量单元、测量单元以及体积获取单元，称量单元对压电晶体的重量进行获取得到实际重量值，测量单元对压电晶体的厚度、长度和宽度进行测量，得到实际厚度值sh、实际...
【专利技术属性】
技术研发人员：王立军，
申请(专利权)人：浙江数瞳智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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