【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体加工,尤其涉及一种al选择性扩散的二极管生产工艺。
技术介绍
1、在高压二极管或三极管/晶体管的制造工艺中,需求局部扩散以提高产品的耐压或者通过局部穿通扩散/深结扩散结构来实现某些功能,常常需要利用al扩散速率快及前沿浓度低可提升产品耐压的优势进行生产,可大大节约生产时间或提升产品耐压。但由于al在高温下具有极强的穿透力能力,甚至氧化膜也无法阻挡al的扩散,而造成整体结构及电性被破坏。传统工艺一般在待扩散的区域暴露出来后,主要通过以下方式实现al的选择性扩散:
2、1)离子注入方法:通过光刻胶阻挡不需要扩散的区域+离子注入al实现,此种方法不仅设备昂贵,生产成本也很高;
3、2)蒸发/溅射方法:待扩散区域晶片表面整面溅射或蒸发一定厚度的al金属后,通过增加一次光刻工艺来去除氧化膜表面的al金属。
4、以上两种方法都是通过增加一次光刻来实现al的选择性扩散,这样会增加生产成本。在半导体市场竞争越演越烈的今天,拥有低成本且高品质的半导体制造技术至关重要。
技
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1.一种AL选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种AL选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,步骤S100中N衬底电阻率为50-100Ω。
3.根据权利要求1所述的一种AL选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,步骤S200中在N衬底表面生长氧化膜,氧化膜的厚度大于15000埃。
4.根据权利要求1所述的一种AL选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,步骤S300中在衬底上表面进行选择性光刻,将待扩散的base区暴露出来,其余区域用光阻剂保护。
5.根据权利要求1所述的一种A
...【技术特征摘要】
1.一种al选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的一种al选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,步骤s100中n衬底电阻率为50-100ω。
3.根据权利要求1所述的一种al选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,步骤s200中在n衬底表面生长氧化膜,氧化膜的厚度大于15000埃。
4.根据权利要求1所述的一种al选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,步骤s300中在衬底上表面进行选择性光刻,将待扩散的base区暴露出来,其余区域用光阻剂保护。
5.根据权利要求1所述的一种al选择性扩散的二极管生产工艺,其特征在于,步骤s400中用boe腐蚀液或稀hf将待扩散的base区上方的氧化膜去除,暴露出正面待扩散的区域。
6.根据权利要求1所述的一种al选择性扩散的二...
【专利技术属性】
技术研发人员:崔丹丹,游佩武,裘立强,王毅,
申请(专利权)人:扬州杰利半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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