一种纵向缺陷相控阵超声横波检测方法技术

技术编号:40512419 阅读:13 留言:0更新日期:2024-03-01 13:28
一种纵向缺陷相控阵超声横波检测方法,包括:步骤S1)对检测表面进行预处理,确定检测范围,绘制检测标记和参考线;步骤S2)准备相控阵超声检测用便携式设备、相控阵探头和楔块;步骤S3)针对筒型工件中纵向缺陷检测要求,按照工件实际内、外径制作校准试块;步骤S4)针对筒型工件内表面缺陷及外表面缺陷,分组设定聚焦法则;步骤S5)使用校准试块校准声速、楔块延迟和灵敏度,校准试块内径和外径均与工件相同,切割成半圆;步骤S6)对编码器进行校准;步骤S7)现场进行检测,根据相控阵检测数据和图像进行分析判断,完成检测;本发明专利技术采用相控阵超声横波检测小内外径比的筒型工件中纵向缺陷,使用仪器易携带,适用于外场检测及工件在役检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及材料检测,尤其涉及一种适用于小内外径比的筒型工件中纵向缺陷相控阵超声横波检测方法


技术介绍

1、传统超声检测法对小内外径比存在入射角度单一无法充分检测面积型缺陷,且常规探头一般使用大入射角,不能充分覆盖内表面区域,存在盲区;同时常规超声检测还存在人工环节多、检测效率低、检测结果难以有效保存等问题。

2、使用水浸超声检测可以满足小角度横波入射覆盖内表面的要求,但是水浸超声检测仍然存在入射角度单一,检测效率低的问题;且水晶超声设备庞大,只能在车间使用,无法满足外场检测以及在役检测的需求。


技术实现思路

1、本专利技术的目的是提供一种纵向缺陷相控阵超声横波检测方法。

2、为了实现上述目的,本专利技术的技术方案是:

3、一种纵向缺陷相控阵超声横波检测方法,其特征在于,检测方法包括以下步骤:

4、步骤s1)对检测表面进行预处理,确定检测范围,绘制检测标记和参考线;

5、步骤s2)准备相控阵超声检测用便携式设备、相控阵探头和楔块;

6本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种纵向缺陷相控阵超声横波检测方法,应用于小内外径比的筒型工件,其特征在于,检测方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的纵向缺陷相控阵超声横波检测方法,其特征在于,所述步骤S1中对检测表面进行预处理包括,打磨扫查表面,除去有妨碍探头移动的异物,保障探头移动区域的表面粗糙度Ra≤12.5μm。

3.根据权利要求1所述的纵向缺陷相控阵超声横波检测方法,其特征在于,所述步骤S2中,楔块的倾斜角度为36.1°,楔块底端楔靴的弧度与工件一致,相控阵探头与仪器组成相控阵超声检测系统,至少可以同时激发32个晶片。

4.根据权利要求1所述的纵向缺陷相控阵超声横...

【技术特征摘要】

1.一种纵向缺陷相控阵超声横波检测方法,应用于小内外径比的筒型工件,其特征在于,检测方法包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的纵向缺陷相控阵超声横波检测方法,其特征在于,所述步骤s1中对检测表面进行预处理包括,打磨扫查表面,除去有妨碍探头移动的异物,保障探头移动区域的表面粗糙度ra≤12.5μm。

3.根据权利要求1所述的纵向缺陷相控阵超声横波检测方法,其特征在于,所述步骤s2中,楔块的倾斜角度为36.1°,楔块底端...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘思明周昌智黄凯华尹嘉雯卢志鹏张逸飞赵德斌黄帅金易一平王晓昕陈志国盛海军陆凯段昊倪敏
申请(专利权)人:上海船舶工艺研究所中国船舶集团有限公司第十一研究所
类型:发明
国别省市:

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