【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及热敏电阻测试，具体涉及一种热敏电阻测试系统。
技术介绍
1、热敏电阻测试技术的出现，更好的让热敏电阻在不同环境下的特性被详细的展现出来，方便热敏电阻的质量被更好的熟知，从而进行有效的热敏电阻质量管控和预防，以便最大程度上降低热敏电阻发生故障的概率，有效的发挥热敏电阻的作用，实现热敏电阻高效的运行，提高产品的寿命和稳定性。
2、当前技术对热敏电阻测试涉及的还较为浅显，并未进行深入的了解，所以对热敏电阻在不同环境下的性能和质量就无法进行全面的掌握，就不能有效的保障热敏电阻在不同环境下的质量和有效运行能力，也无法对热敏电阻会出现的故障进行及时的预防，会大大的降低热敏电阻的可使用性，增加了热敏电阻的制作成本，浪费了大量的资源。
技术实现思路
1、针对上述存在的技术不足，本专利技术的目的是提供一种热敏电阻测试系统。
2、为解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：本专利技术提供一种热敏电阻测试系统，包括：电阻信息获取模块，用于获取待测试热敏电阻对应的电阻信息，其中电阻信息包括标准温度运行区间和标准电阻值；
3、电阻高温测试模块，用于待测试热敏电阻对应标准环境运行区间的上限值，设置各高温测试组，进而在实验室中的各高温测试组中放入待测试热敏电阻，进行高温测试，从而采集实验室中各高温测试组对应的高温测试信息，其中高温测试信息包括待测试热敏电阻的温度、待测试热敏电阻的响应速度、标准电阻值、待测试热敏电阻变化的速率；
4、电阻高温分析模
5、电阻低温测试模块，用于待测试热敏电阻对应标准环境运行区间的下限值，设置各低温测试组，进而在实验室中的各低温测试组中放入待测试热敏电阻，进行低温测试，从而采集实验室中各低温测试组对应的低温测试信息，其中低温测试信息包括待测试热敏电阻的运行温度、待测试热敏电阻的运行电阻、待测试热敏电阻的电流、待测试热敏电阻的响应时长；
6、电阻低温分析模块，用于根据实验室中各低温测试组对应的低温测试信息，进而分析得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的性能评估系数，并根据各低温测试组对应待测试热敏电阻的性能评估系数，筛选待测试热敏电阻的运行温度下限；
7、结果显示终端，用于显示热敏电阻在高温、低温环境下的运行上限温度、下限温度。
8、优选地，所述进行高温测试，具体测试过程如下：r1、将待测试热敏电阻对应的标准环境运行区间的上限值作为高温参考值，并按照预设温度差，设置各高温测试组，进而将相同类型的各热敏电阻依次分别放入实验室的高温测试组中；
9、r2、将实验室的各高温测试组中待测试热敏电阻对应的装置打开，对实验室中各高温测试组中待测试热敏电阻进行测试；
10、r3、在实验室的各高温测试组待测试热敏电阻对应的电阻达到最高时，关闭开关停止加热，同时采集实验室各高温测试组对应的高温测试信息，采集完成以后，结束高温测试。
11、优选地，所述分析得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的运行评估系数，筛选待测试热敏电阻的运行温度上限，具体分析过程如下：根据各高温测试组对应的待测试热敏电阻的温度、待测试热敏电阻的响应速度，进而计算得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的第一评估系数，记为βr，r为各高温测试组的编号，r＝1.2.....k，k为任意大于2的整数；
12、根据各高温测试组对应的标准电阻值、待测试热敏电阻的速率，进而计算得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的第二评估系数，记为
13、通过计算公式分析得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的运行评估系数δr，e表示自然常数，m1、m2分别为第一评估系数、第二评估系数的权重因子，0＜m1＜1，0＜m2＜1；
14、将各高温测试组对应待测试热敏电阻的运行评估系数按照降序排序，并将该高温测试组运行评估系数排名第一作为待测试热敏电阻对应的运行温度上限。
15、优选地，所述计算得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的第一评估系数，具体分析过程如下：通过计算公式计算得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的第一评估系数βr，φ′为设定的待测试热敏电阻的温度，θ′为设定的待测试热敏电阻的响应速度，φr为第r个高温测试组对应待测试热敏电阻的温度，θr为第r个高温测试组对应待测试热敏电阻的响应速度，0＜ι1＜1，0＜ι1＜1。
16、优选地，所述分析得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的第二评估系数，具体分析过程如下：通过计算公式计算得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的第二评估系数μ′为设定的待测试热敏电阻的标准电阻值，λ′为设定的待测试热敏电阻的速率，μr为第r个高温测试组对应待测试热敏电阻的标准电阻值，λr为第r个高温测试组对应待测试热敏电阻的速率，0＜ε1＜1，0＜ε2＜1。
17、优选地，所述进行低温测试，具体测试过程如下：q1、将待测试热敏电阻对应的标准环境运行区间的下限值作为低温参考值，并按照预设温度差，设置各低温测试组，进而将相同类型的各热敏电阻依次分别放入实验室的低温测试组中；
18、q2、将实验室的各低温测试组中待测试热敏电阻以设定的运行电阻进行降温，并在降温过程中设置各监测时间点，进而监测实验室的各低温测试组中待测试热敏电阻在各监测时间点对应的运行电阻，当实验室的各低温测试组中待测试热敏电阻的电阻停止不动时，获取实验室的各低温测试组中待测试热敏电阻的运行电阻，结束低温测试。
19、优选地，所述分析得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的性能评估系数，筛选待测试热敏电阻的运行温度下限，具体分析过程如下：根据各低温测试组对应的待测试热敏电阻的运行温度、待测试热敏电阻的响应时长，进而计算得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的第三评估系数，记为y为各低温测试组的编号，y＝1.2.....z，z为任意大于2的整数，i为各监测时间点的编号，i＝1,2....n，n为任意大于2的整数；
20、根据各低温测试组对应的待测试热敏电阻的电流、待测试热敏电阻的运行电阻，进而计算得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的第四评估系数，记为ψyi；
21、通过计算公式分析得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的性能评估系数αy，e表示自然常数，b1、b2分别为第一评估系数、第二评估系数的权重因子，0＜b1＜1，0＜b2＜1；
22、将各低温测试组对应待测试热敏电阻的运行评估系数按照降序排序，并将该低温测试组性能评估系数排名最高的作为待测试热敏电阻对应的运行温度下限。
23、优选地，所述分析得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的第三评估系数，具体分析过程如下：通过计算公式计算得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的第三评估系数by，σ′为设定的待测试热敏电阻的运行温度，ζ′为设定本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种热敏电阻测试系统，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述进行高温测试，具体测试过程如下：
3.如权利要求1所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述分析得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的运行评估系数，筛选待测试热敏电阻的运行温度上限，具体分析过程如下：
4.如权利要求3所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述计算得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的第一评估系数，具体分析过程如下：
5.如权利要求3所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述分析得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的第二评估系数，具体分析过程如下：
6.如权利要求1所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述进行低温测试，具体测试过程如下：
7.如权利要求1所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述分析得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的性能评估系数，筛选待测试热敏电阻的运行温度下限，具体分析过程如下：
8.如权利要求7所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述分析得到各低
9.如权利要求7所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述分析得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的第四评估系数，具体分析过程如下：
10.如权利要求1所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，系统还包括数据库，数据库用于存储电阻信息、高温测试信息、低温测试信息、运行评估系数阈值、性能评估系数阈值。
...【技术特征摘要】
1.一种热敏电阻测试系统，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述进行高温测试，具体测试过程如下：
3.如权利要求1所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述分析得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的运行评估系数，筛选待测试热敏电阻的运行温度上限，具体分析过程如下：
4.如权利要求3所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述计算得到各低温测试组对应待测试热敏电阻的第一评估系数，具体分析过程如下：
5.如权利要求3所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于，所述分析得到各高温测试组对应待测试热敏电阻的第二评估系数，具体分析过程如下：
6.如权利要求1所述的一种热敏电阻测试系统，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：周洋，倪立，张博，韩杨凌峰，
申请(专利权)人：中科立民新材料扬州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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