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岩土颗粒的三维参数获取方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:40507141 阅读:5 留言:0更新日期:2024-03-01 13:21
本申请涉及一种岩土颗粒的三维参数获取方法、装置、设备和存储介质。所述方法包括:根据岩土颗粒样本的三维模型,确定岩土颗粒样本的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数,针对各参数类型,根据参数类型的三维样本参数和二维样本参数,确定岩土颗粒样本的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数的对应关系,基于各岩土颗粒类型的岩土颗粒样本对应的对应关系、待测岩土颗粒的目标二维参数和目标二维参数的目标参数类型,确定待测岩土颗粒的目标参数类型对应的目标三维参数。采用本方法降低了获取三维参数的成本。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及岩土工程测试,特别是涉及一种岩土颗粒的三维参数获取方法、装置、设备和存储介质


技术介绍

1、岩土颗粒作为一种散体材料,在基坑换填、砂浆浇筑等岩土工程中被广泛使用。岩土颗粒的形态特性对材料力学特性具有显著影响。为了定量研究岩土颗粒形态对材料力学特性的影响规律,需要得到岩土颗粒的三维参数。

2、目前,在每次获取岩土颗粒的三维参数时,需要通过三维扫描设备获取岩土颗粒的断层图像或表面空间坐标,从而重构三维模型,以得到岩土颗粒三维参数。

3、然而,上述获取岩土颗粒的三维参数的方法存在成本高的问题。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够降低获取岩土颗粒的三维参数的成本的岩土颗粒的三维参数获取方法、装置、设备和存储介质。

2、第一方面,本申请提供了一种三维参数获取方法,包括:

3、根据岩土颗粒样本的三维模型,确定该岩土颗粒样本的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数;

4、针对各该参数类型,根据该参数类型的三维样本参数和二维样本参数,确定该岩土颗粒样本的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数的对应关系;

5、基于各岩土颗粒类型的岩土颗粒样本对应的对应关系、待测岩土颗粒的目标二维参数和该目标二维参数的目标参数类型,确定该待测岩土颗粒的该目标参数类型对应的目标三维参数。

6、在其中一个实施例中,该根据岩土颗粒样本的三维模型,确定该岩土颗粒样的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数,包括:

7、基于该岩土颗粒样本的三维模型,确定各该参数类型的三维样本参数;

8、对该三维模型进行投影,得到该三维模型对应的二维投影图像;

9、根据该二维投影图像确定各该参数类型的二维样本参数。

10、在其中一个实施例中,该基于该岩土颗粒样本的三维模型,确定各该参数类型的三维样本参数,包括:

11、基于该岩土颗粒样本的三维模型,构建该三维模型对应的结构体;该结构体为容纳该三维模型容纳的最小长方体;

12、根据该结构体,确定各该参数类型的三维样本参数;

13、其中,该三维样本参数包括基于该岩土颗粒样本的第一长度、第一宽度、第一厚度、表面积和体积中至少两项确定的参数。

14、在其中一个实施例中,该根据该结构体,确定各该参数类型的三维样本参数,包括:

15、基于该结构体,获取该岩土颗粒样本的第一长度、第一宽度、第一厚度、表面积和体积;

16、根据该第一厚度与该第一宽度的第一比值,确定该岩土颗粒样本的第一平整度;

17、根据该第一宽度与该第一长度的第二比值,确定该岩土颗粒样本的第一伸长度;

18、根据该表面积和体积,确定该岩土颗粒样本的第一球形度;

19、其中,该三维样本参数包括该第一长度、该第一宽度、该第一厚度、该表面积、该体积、该第一平整度、该第一伸长度、该第一球形度。

20、在其中一个实施例中,该根据该二维投影图像确定各该参数类型的二维样本参数,包括:

21、获取该二维投影图像的第二长度、第二宽度、第二厚度、投影面积和周长;

22、根据该第二长度、该第二宽度、该第二厚度、该投影面积和该周长中至少两项,确定各该参数类型的二维样本参数。

23、在其中一个实施例中,该根据该第二长度、该第二宽度、该第二厚度、该投影面积和该周长中至少两项,确定各该参数类型的二维样本参数,包括:

24、根据该第二厚度与该第二厚度的第三比值,确定该岩土颗粒样本的第二平整度;

25、根据该第二宽度与该第二长度的第四比值,确定该岩土颗粒样本的第二伸长度;

26、根据该投影图像的投影面积和该周长,确定该岩土颗粒样本的第二球形度;

27、其中,该二维样本参数包括该第二长度、该第二宽度、该第二厚度、该投影面积、该周长、该第二平整度、该第二伸长度和该第二球形度。

28、第二方面,本申请还提供了一种三维参数获取装置,包括:

29、第一确定模块,用于根据岩土颗粒样本的三维模型,确定该岩土颗粒样的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数;

30、第二确定模块,用于针对各该参数类型,根据该参数类型的三维样本参数和二维样本参数,确定该岩土颗粒样本的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数的对应关系;

31、第三确定模块,用于基于各岩土颗粒类型的岩土颗粒样本对应的对应关系、待测岩土颗粒的目标二维参数和该目标二维参数的目标参数类型,确定该待测岩土颗粒的该目标参数类型对应的目标三维参数。

32、第三方面,本申请还提供了一种计算机设备,包括存储器和处理器,该存储器存储有计算机程序,该处理器执行该计算机程序时实现以上方法的步骤。

33、第四方面,本申请还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以上方法的步骤。

34、第五方面,本申请还提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现以上方法的步骤。

35、上述岩土颗粒的三维参数获取方法、装置、设备和存储介质,根据岩土颗粒样本的三维模型,确定岩土颗粒样本的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数,针对各参数类型,根据参数类型的三维样本参数和二维样本参数,确定岩土颗粒样本的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数的对应关系,基于各岩土颗粒类型的岩土颗粒样本对应的对应关系、待测岩土颗粒的目标二维参数和目标二维参数的目标参数类型,确定待测岩土颗粒的目标参数类型对应的目标三维参数。传统技术中,在每次获取岩土颗粒的三维参数时,需要通过三维扫描设备获取岩土颗粒的断层图像或表面空间坐标,从而重构三维模型,以得到岩土颗粒三维参数,但存在成本高的问题。而本申请实施例中提供的方法,能够通过确定各岩土颗粒类型的岩土颗粒样本对应的对应关系,并利用该对应关系和二维参数,就能够得到待测岩土颗粒的目标参数类型对应的目标三维参数,降低了获取三维参数的成本。

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【技术保护点】

1.一种三维参数获取方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据岩土颗粒样本的三维模型,确定所述岩土颗粒样的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述岩土颗粒样本的三维模型,确定各所述参数类型的三维样本参数,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述结构体,确定各所述参数类型的三维样本参数,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述二维投影图像确定各所述参数类型的二维样本参数,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据所述第二长度、所述第二宽度、所述第二厚度、所述投影面积和所述周长中至少两项,确定各所述参数类型的二维样本参数,包括:

7.一种三维参数获取装置,其特征在于,所述装置包括:

8.一种计算机设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。>

9.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其特征在于,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

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【技术特征摘要】

1.一种三维参数获取方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据岩土颗粒样本的三维模型,确定所述岩土颗粒样的各参数类型的三维样本参数和二维样本参数,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述岩土颗粒样本的三维模型,确定各所述参数类型的三维样本参数,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述结构体,确定各所述参数类型的三维样本参数,包括:

5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述二维投影图像确定各所述参数类型的二维样本参数,包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢维强刘晓丽张晓平周小雄胡楠
申请(专利权)人:深地科学与工程云龙湖实验室
类型:发明
国别省市:

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