System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 超透镜系统和技术技术方案_技高网

超透镜系统和技术技术方案

技术编号:40502592 阅读:8 留言:0更新日期:2024-02-26 19:30
本发明专利技术提供了用于超透镜相机的系统和技术。例如,一种装置可包括:第一基板,该第一基板包括第一光圈;和第二基板,该第二基板包括第一超透镜。该第一基板和该第二基板机械地耦合,使得该第一光圈的至少第一部分设置在该第一超透镜的至少第二部分上方。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开整体涉及利用超透镜的光学系统。在一些示例中,本公开的各方面涉及与超透镜组件相关的系统和技术。


技术介绍

1、许多设备和系统包括光学元件,诸如用于将光聚焦到图像传感器上的透镜。例如,相机或包括具有此类光学元件的相机的设备可捕获场景的帧或帧序列(例如,场景的视频)。为了实现期望的光学特性(例如,包括但不限于清晰度、宽视场等),相机或相机设备可利用折射透镜将入射光聚焦到光学传感器上。在一些情况下,相机设备的透镜可以是包括堆叠在一起的多个折射透镜元件的复合透镜。在一些情况下,复合透镜叠层的总厚度可增加包括复合透镜叠层的设备的附加尺寸。

2、超透镜可提供折射透镜的替代物。可通过在基板材料上制造纳米级(nanometerscale)(本文中也称为纳米级(nanoscale))几何结构来形成超透镜。纳米级几何结构可基于纳米级几何结构的物理特性(例如,高度、宽度、长度、直径等)来控制穿过纳米级几何结构的光的透射、偏振和相位。在一些情况下,可使用诸如电子束(electron beam)(电子束(e-beam))光刻的制造技术来制造超透镜。


技术实现思路

1、在一些示例中,描述了用于超透镜相机的系统和技术。根据至少一个例示性示例,提供了一种装置。该装置包括第一基板:该第一基板包括第一光圈(aperture);和第二基板,该第二基板包括第一超透镜。该第一基板和该第二基板机械地耦合,使得该第一光圈的至少第一部分设置在该第一超透镜的至少第二部分上方。

2、在另一示例中,提供了一种组装光学系统的方法。组装该光学系统的方法包括机械地耦合包括第一光圈的第一基板和包括第一超透镜的第二基板。在机械地耦合该第一基板和该第二基板后:该第一光圈的至少第一部分设置在该第一超透镜的至少第二部分上方。

3、在另一示例中,提供了一种装置。该装置包括用于提供第一光圈的装置和用于提供第一超透镜的装置。该用于提供该第一光圈的装置和该用于提供该第一超透镜的装置机械地耦合,使得该第一光圈的至少第一部分设置在该第一超透镜的至少第二部分上方。

4、在一些方面,该第一基板包括第二光圈;该第二基板包括第二超透镜;并且该第一基板和该第二基板机械地耦合,使得该第二光圈的第三部分设置在该第二超透镜的第四部分上方。

5、在一些方面,第一超透镜模块包括该第一光圈和该第一超透镜。

6、在一些方面,第二超透镜模块包括该第二光圈和该第二超透镜。

7、在一些方面,该第一基板包括第一晶片(wafer)和多个光圈;该多个光圈包括该第一光圈;该第二基板包括第二晶片和多个超透镜;并且该多个超透镜包括该第一超透镜。

8、在一些方面,上述方法和装置还包括:第三基板,该第三基板包括光学传感器,其中该第一基板、该第二基板和该第三基板机械地耦合,使得:该第一光圈的至少该第一部分设置在该第一超透镜的至少该第二部分上方;该第一超透镜的至少第三部分与该光学传感器的至少第四部分间隔开;并且该第一超透镜的至少该第二部分设置在该光学传感器的至少第五部分上方。

9、在一些方面,该第三基板包括第三晶片和多个光学传感器,其中该多个光学传感器包括该光学传感器。

10、在一些方面,该多个光圈以第一节距设置在该第一基板上;该多个超透镜以第二节距设置在该第二基板上;该多个光学传感器以第二节距设置在该第三基板上;并且该第一节距和该第二节距相等。

11、在一些方面,该多个光学传感器以第三节距设置在该第三基板上;并且该第一节距、该第二节距和该第三节距相等。

12、在一些方面,第四晶片包括设置在该第一晶片与该第二晶片之间的间隔件结构,并且其中该第一晶片、该第二晶片和该第四晶片机械地耦合。

13、在一些方面,该第一超透镜和该光学传感器以该第一超透镜的焦距分开。

14、在一些方面,上述方法和装置还包括设置在该第一基板与该第二基板之间的光学滤波器。

15、在一些方面,上述方法和装置还包括设置在该第一基板与该第二基板之间的间隔件结构。

16、在一些方面,该光学滤波器设置在该第一基板与该间隔件结构之间。

17、在一些方面,该光学滤波器设置在该第二基板与该间隔件结构之间。

18、在一些方面,该光学滤波器包括带通滤波器。

19、在一些方面,该第一基板包括第一硅基板并且该第二基板包括第二硅基板。

20、在一些方面,该第一基板包括第一玻璃基板并且该第二基板包括第二玻璃基板。

21、在一些方面,该间隔件结构包括第三硅基板。

22、在一些方面,该间隔件结构包括设置在该第一基板上的结构。

23、在一些方面,设置在该第一基板上的该结构包括定位在该第一超透镜的周边之外的多个柱。

24、在一些方面,设置在该第一基板上的该结构包括围绕该第一超透镜的周边的连续结构。

25、在一些方面,设置在该第一基板上的该结构包括坝结构。

26、在一些方面,设置在该第一基板上的该结构包括聚酰亚胺材料。

27、在一些方面,设置在该第一基板上的该结构包括开口,并且其中该第一超透镜定位在该开口内。

28、在一些方面,第五基板机械地耦合到该第一基板和该第二基板,其中该第五基板包括可重新配置指令单元阵列(rica)。

29、在一些方面,该rica被配置为从光学传感器接收图像数据。

30、在一些方面,该rica还被配置为对该图像数据执行一个或多个图像处理操作。

31、在一些方面,该一个或多个图像处理操作包括生成深度图,生成复合图像,或将第一图像的至少一部分和第二图像的至少一部分拼接在一起。

32、在一些方面,上述方法和装置还包括:与该第二基板不同的第六基板,该第六基板包括设置在其上的第三超透镜,其中该第一超透镜的至少第八部分设置在该第三超透镜的至少第九部分上方。

33、在一些方面,该第一超透镜和该第三超透镜包括复合透镜。

34、在另一示例中,提供了一种光学检测的方法。该光学检测的方法包括:在光圈处接收光,其中第一基板包括该光圈,并且该光圈允许该光的至少第一部分穿过该第一基板并阻止该光的至少第二部分穿过该第一基板;在超透镜处接收该光的至少该第一部分,其中第二基板包括该超透镜并且该超透镜将该光的至少该第一部分聚焦在焦平面处;以及由光学传感器接收由该超透镜聚焦的该光的至少该第一部分,其中第三基板包括该光学传感器。

35、在一些方面,该第一基板、该第二基板和该第三基板机械地耦合。

36、在一些方面,该超透镜和该光学传感器以等于该超透镜的焦距的间隔分开。

37、在一些方面,间隔件结构提供该间隔的至少一部分。

38、在一些方面,上述方法和装置还包括基于检测到该光的该第一部分来生成图像的至少一部分。

39、在一些方面,上述方法和装置还包括在rica处接收本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种装置,所述装置包括:

2.根据权利要求1所述的装置,其中:

3.根据权利要求2所述的装置,其中第二超透镜模块包括所述第二光圈和所述第二超透镜。

4.根据权利要求2所述的装置,所述装置还包括与所述第二基板不同的第六基板,所述第六基板包括设置在其上的第三超透镜,其中所述第一超透镜的至少第八部分设置在所述第三超透镜的至少第九部分上方。

5.根据权利要求4所述的装置,其中所述第一超透镜和所述第三超透镜包括复合透镜。

6.根据权利要求1所述的装置,其中第一超透镜模块包括所述第一光圈和所述第一超透镜。

7.根据权利要求1所述的装置,其中:

8.根据权利要求7所述的装置,其中:

9.根据权利要求8所述的装置,所述装置还包括:

10.根据权利要求9所述的装置,其中:

11.根据权利要求10所述的装置,其中:

12.根据权利要求10所述的装置,其中所述第一超透镜和所述光学传感器以所述第一超透镜的焦距分开。

13.根据权利要求10所述的装置,其中第四基板包括设置在所述第一基板与所述第二基板之间的间隔件结构,并且其中所述第一基板、所述第二基板和所述第四基板机械地耦合。

14.根据权利要求1所述的装置,所述装置还包括设置在所述第一基板与所述第二基板之间的光学滤波器。

15.根据权利要求14所述的装置,其中所述光学滤波器设置在所述第一基板与设置在所述第一基板与所述第二基板之间的间隔件结构之间。

16.根据权利要求14所述的装置,其中所述光学滤波器设置在所述第二基板与设置在所述第一基板与所述第二基板之间的间隔件结构之间。

17.根据权利要求14所述的装置,其中所述光学滤波器包括带通滤波器。

18.根据权利要求1所述的装置,其中所述第一基板包括第一硅基板并且所述第二基板包括第二硅基板。

19.根据权利要求1所述的装置,其中所述第一基板包括第一玻璃基板并且所述第二基板包括第二玻璃基板。

20.根据权利要求1所述的装置,所述装置还包括设置在所述第一基板与所述第二基板之间的间隔件结构。

21.根据权利要求20所述的装置,其中所述间隔件结构包括第三硅基板。

22.根据权利要求20所述的装置,其中所述间隔件结构包括第三玻璃基板。

23.根据权利要求20所述的装置,其中所述间隔件结构包括设置在所述第一基板上的结构。

24.根据权利要求23所述的装置,其中设置在所述第一基板上的所述结构包括定位在所述第一超透镜的周边之外的多个柱。

25.根据权利要求23所述的装置,其中设置在所述第一基板上的所述结构包括围绕所述第一超透镜的周边的连续结构。

26.根据权利要求23所述的装置,其中设置在所述第一基板上的所述结构包括坝结构。

27.根据权利要求23所述的装置,其中设置在所述第一基板上的所述结构包括聚酰亚胺材料。

28.根据权利要求23所述的装置,其中设置在所述第一基板上的所述结构包括开口,并且其中所述第一超透镜定位在所述开口内。

29.根据权利要求1所述的装置,其中第五基板机械地耦合到所述第一基板和所述第二基板,所述第五基板包括可重新配置指令单元阵列(RICA)。

30.根据权利要求29所述的装置,其中所述RICA被配置为从光学传感器接收图像数据。

31.根据权利要求30所述的装置,其中所述RICA还被配置为对所述图像数据执行一个或多个图像处理操作。

32.根据权利要求31所述的装置,其中所述一个或多个图像处理操作包括生成深度图,生成复合图像,或将第一图像的至少一部分和第二图像的至少一部分拼接在一起。

33.一种光学检测的方法,所述方法包括:

34.根据权利要求33所述的方法,其中所述第一基板、所述第二基板和所述第三基板机械地耦合。

35.根据权利要求33所述的方法,其中所述超透镜和所述光学传感器以等于所述超透镜的焦距的间隔分开。

36.根据权利要求35所述的方法,其中间隔件结构提供所述间隔的至少一部分。

37.根据权利要求33所述的方法,所述方法还包括:

38.根据权利要求37所述的方法,所述方法还包括:

39.根据权利要求38所述的方法,其中第四基板包括所述RICA,并且所述第一基板、所述第二基板、所述第三基板和所述第四基板机械地耦合。

40.根据权利要求38所述的方法,其中所述RICA被配置为对所述...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种装置,所述装置包括:

2.根据权利要求1所述的装置,其中:

3.根据权利要求2所述的装置,其中第二超透镜模块包括所述第二光圈和所述第二超透镜。

4.根据权利要求2所述的装置,所述装置还包括与所述第二基板不同的第六基板,所述第六基板包括设置在其上的第三超透镜,其中所述第一超透镜的至少第八部分设置在所述第三超透镜的至少第九部分上方。

5.根据权利要求4所述的装置,其中所述第一超透镜和所述第三超透镜包括复合透镜。

6.根据权利要求1所述的装置,其中第一超透镜模块包括所述第一光圈和所述第一超透镜。

7.根据权利要求1所述的装置,其中:

8.根据权利要求7所述的装置,其中:

9.根据权利要求8所述的装置,所述装置还包括:

10.根据权利要求9所述的装置,其中:

11.根据权利要求10所述的装置,其中:

12.根据权利要求10所述的装置,其中所述第一超透镜和所述光学传感器以所述第一超透镜的焦距分开。

13.根据权利要求10所述的装置,其中第四基板包括设置在所述第一基板与所述第二基板之间的间隔件结构,并且其中所述第一基板、所述第二基板和所述第四基板机械地耦合。

14.根据权利要求1所述的装置,所述装置还包括设置在所述第一基板与所述第二基板之间的光学滤波器。

15.根据权利要求14所述的装置,其中所述光学滤波器设置在所述第一基板与设置在所述第一基板与所述第二基板之间的间隔件结构之间。

16.根据权利要求14所述的装置,其中所述光学滤波器设置在所述第二基板与设置在所述第一基板与所述第二基板之间的间隔件结构之间。

17.根据权利要求14所述的装置,其中所述光学滤波器包括带通滤波器。

18.根据权利要求1所述的装置,其中所述第一基板包括第一硅基板并且所述第二基板包括第二硅基板。

19.根据权利要求1所述的装置,其中所述第一基板包括第一玻璃基板并且所述第二基板包括第二玻璃基板。

20.根据权利要求1所述的装置,所述装置还包括设置在所述第一基板与所述第二基板之间的间隔件结构。

21.根据权利要求20所述的装置,其中所述间隔件结构包括第三硅基板。

22.根据权利要求20所述的装置,其中所述间隔件结构包括第三玻璃基板。

23.根据权利要求20所述的装...

【专利技术属性】
技术研发人员:J·马BC·希赛M·J·O·杜普雷S·R·戈玛
申请(专利权)人:高通股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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