【技术实现步骤摘要】
本技术涉及集成电路测试设备，尤其涉及一种集成电路老化测试装置。
技术介绍
1、集成电路是一种微型电子器件或部件，其采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，在电子设备维修车间内，常常需要对集成电路进行检测。
2、现有技术中，如中国专利cn218122182u公开了一种集成电路老化测试装置，包括活动检测板以及显示板，活动检测板与显示板均设置为方形结构，且长度与宽度相同，活动检测板与显示板通过活动转杆活动连接，活动检测板上开设有用于放置集成线路板的放置槽，活动检测板内部嵌入有可沿放置槽内部上下移动的放置板，放置板设置为l型结构，放置板顶部安装有导入架，活动检测板顶部开设有用于对导入架使力的施力凹槽，显示板上安装有显示屏，显示屏一侧设置有用于调节测试参数的调节按钮。
3、但现有技术中，在电子设备维修车间内，工人需要在工位上长时间检测大量同一类型的集成电路板，在检测过程中工人的双手需要长时间抓握检测笔进行精细操作，导致手臂和手掌的肌肉酸胀，从而导致工人检测集成电路板的效率和准确性降低。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的在电子设备维修车间内，工人需要在工位上长时间检测大量同一类型的集成电路板，在检测过程中工人的双手需要长时间抓握检测笔进行精细操作，导致手臂和手掌的肌肉酸胀，从而导致工人检测集成电路板的效率和准确
2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种集成电路老化测试装置，包括底板，所述底板的一侧开设有圆孔，所述圆孔的内部活动卡接有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的一端固定连接有安装台，所述安装台顶面的一侧固定连接有一号滑轨，所述一号滑轨的内部滑动卡接有一号滑块，所述一号滑块的顶端固定连接有一号安装槽，所述一号安装槽的内部活动卡接有一号齿条，所述一号齿条的外侧啮合有一号齿轮，所述一号齿轮的一侧固定连接有一号旋钮，所述一号齿条的一端固定连接有一号检测笔卡槽，所述一号检测笔卡槽的一侧螺纹连接有一号限位螺栓。
3、优选的，所述安装台的一侧固定连接有二号滑轨，所述二号滑轨的内部滑动卡接有二号滑块。
4、优选的，所述二号滑块的顶端固定连接有二号安装槽，所述二号安装槽的内部活动卡接有二号齿条。
5、优选的，所述二号齿条的外侧啮合有二号齿轮，所述二号齿轮的一侧固定连接有二号旋钮。
6、优选的，所述二号齿条一端的一侧固定连接有二号检测笔卡槽，所述二号检测笔卡槽的一侧螺纹连接有二号限位螺栓。
7、优选的，所述底板顶面的另一侧固定连接有三号滑轨，所述三号滑轨的内部滑动卡接有安装板。
8、优选的，所述安装板底面的四周均转动卡接有滚轮，所述安装板的一侧固定连接有拉手，所述安装板顶面的开设有电路板卡槽。
9、与现有技术相比，本技术的优点和积极效果在于：
10、1、本技术中，通过在一号滑轨的内部滑动卡接有一号滑块，当待检测的集成电路卡接在电路板卡槽的内部时，先将检测笔卡接在一号检测笔卡槽内，再转动一号限位螺栓，使得一号限位螺栓将检测笔夹持在一号检测笔卡槽内部，再将一号滑块滑动到指定位置时，转动一号旋钮，调节一号齿条的伸长长度，使得检测笔的测试端正对集成电路的测试点，再启动电动伸缩杆，带动安装台下降，使得检测笔能够检测到集成电路的测试点，而检测笔被夹持在一号检测笔卡槽的内部，能避免工人在检测集成电路时双手需要长时间抓握检测笔进行精细操作，导致手臂和手掌的肌肉酸胀的情况出现，从而提高检测集成电路的效率和准确性。
11、2、本技术中，通过在安装台的一侧固定连接有二号滑轨，当集成电路上的检测点在同一条水平直线上时，工人可以滑动二号滑块，将一号检测笔卡槽和二号检测笔卡槽的空间位置调整到位于同一条水平直线上，从而对多种集成电路进行检测，提高了该集成电路老化测试装置的通用性。
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1.一种集成电路老化测试装置，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）的一侧开设有圆孔（11），所述圆孔（11）的内部活动卡接有电动伸缩杆（12），所述电动伸缩杆（12）的一端固定连接有安装台（2），所述安装台（2）顶面的一侧固定连接有一号滑轨（3），所述一号滑轨（3）的内部滑动卡接有一号滑块（31），所述一号滑块（31）的顶端固定连接有一号安装槽（32），所述一号安装槽（32）的内部活动卡接有一号齿条（33），所述一号齿条（33）的外侧啮合有一号齿轮（34），所述一号齿轮（34）的一侧固定连接有一号旋钮（35），所述一号齿条（33）的一端固定连接有一号检测笔卡槽（36），所述一号检测笔卡槽（36）的一侧螺纹连接有一号限位螺栓（37）。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路老化测试装置，其特征在于：所述安装台（2）的一侧固定连接有二号滑轨（4），所述二号滑轨（4）的内部滑动卡接有二号滑块（41）。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路老化测试装置，其特征在于：所述二号滑块（41）的顶端固定连接有二号安装槽（42），所述二号安装槽（42）的内部活动卡接有二
4.根据权利要求3所述的一种集成电路老化测试装置，其特征在于：所述二号齿条（43）的外侧啮合有二号齿轮（44），所述二号齿轮（44）的一侧固定连接有二号旋钮（45）。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路老化测试装置，其特征在于：所述二号齿条（43）一端的一侧固定连接有二号检测笔卡槽（46），所述二号检测笔卡槽（46）的一侧螺纹连接有二号限位螺栓（47）。
6.根据权利要求1所述的一种集成电路老化测试装置，其特征在于：所述底板（1）顶面的另一侧固定连接有三号滑轨（5），所述三号滑轨（5）的内部滑动卡接有安装板（6）。
7.根据权利要求6所述的一种集成电路老化测试装置，其特征在于：所述安装板（6）底面的四周均转动卡接有滚轮（61），所述安装板（6）的一侧固定连接有拉手（62），所述安装板（6）顶面的开设有电路板卡槽（63）。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路老化测试装置，包括底板（1），其特征在于：所述底板（1）的一侧开设有圆孔（11），所述圆孔（11）的内部活动卡接有电动伸缩杆（12），所述电动伸缩杆（12）的一端固定连接有安装台（2），所述安装台（2）顶面的一侧固定连接有一号滑轨（3），所述一号滑轨（3）的内部滑动卡接有一号滑块（31），所述一号滑块（31）的顶端固定连接有一号安装槽（32），所述一号安装槽（32）的内部活动卡接有一号齿条（33），所述一号齿条（33）的外侧啮合有一号齿轮（34），所述一号齿轮（34）的一侧固定连接有一号旋钮（35），所述一号齿条（33）的一端固定连接有一号检测笔卡槽（36），所述一号检测笔卡槽（36）的一侧螺纹连接有一号限位螺栓（37）。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路老化测试装置，其特征在于：所述安装台（2）的一侧固定连接有二号滑轨（4），所述二号滑轨（4）的内部滑动卡接有二号滑块（41）。
3.根据权利要求2所述的一种集成电路老化测试装置，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：鞠熊华，
申请(专利权)人：无锡庄胜集成电路有限公司，
类型：新型
国别省市：
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