【技术实现步骤摘要】
本专利技术有关一种光学式轨迹追踪装置，更特别有关一种可增加工作表面适用性的光学式轨迹追踪装置。
技术介绍
1、光学式位移检测装置通常包含光源、图像传感器以及处理器。所述光源用于照明工作表面。所述图像传感器用于获取来自所述工作表面的反射光并输出像素数据。所述处理器则根据所述像素数据计算所述位移检测装置相对于所述工作表面的位移量。
2、然而，已知光学式位移检测装置存在无法在所有工作表面正常操作的限制。例如，适用于反光表面的位移检测装置可能无法适用于吸光表面，反之亦然。
3、因此，一种能够操作于任何工作表面的光学式位移检测装置实为所需。
技术实现思路
1、本专利技术提供一种可同时适用于平滑及粗糙工作表面的轨迹追踪装置。
2、本专利技术还提供一种可计算图像传感器与工作表面之间的距离的轨迹追踪装置，该轨迹追踪装置还可根据所述距离计算调整位移的倍率以输出大致相同的每英寸计数(counts per inch)，藉以提升使用者经验。
3、本专利技术提供一种用...
【技术保护点】
1.一种轨迹追踪装置，用于检测相对工作表面的位移量，所述轨迹追踪装置包含：
2.根据权利要求1所述的轨迹追踪装置，其中
3.根据权利要求1所述的轨迹追踪装置，还包含点光源，其中所述点光源点亮时所述第一光源熄灭且所述第二图像传感器开启。
4.根据权利要求3所述的轨迹追踪装置，其中所述处理器用于当所述点光源点亮时根据所述第二图像传感器获取的所述第二图像帧计算相对所述工作表面的距离。
5.根据权利要求4所述的轨迹追踪装置，其中所述处理器还根据所述距离调整所述位移量的倍率，以当所述轨迹追踪装置以固定速度移动时输出相同的每英寸计数
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【技术特征摘要】
1.一种轨迹追踪装置，用于检测相对工作表面的位移量，所述轨迹追踪装置包含：
2.根据权利要求1所述的轨迹追踪装置，其中
3.根据权利要求1所述的轨迹追踪装置，还包含点光源，其中所述点光源点亮时所述第一光源熄灭且所述第二图像传感器开启。
4.根据权利要求3所述的轨迹追踪装置，其中所述处理器用于当所述点光源点亮时根据所述第二图像传感器获取的所述第二图像帧计算相对所述工...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈晖暄，杨政霖，陈之悠，
申请(专利权)人：原相科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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