检测装置制造方法及图纸

本申请涉及一种检测装置。包括：基座；支撑机构，支撑机构设置在基座上并包括支撑台，支撑台用于承载带待检测的工件；检测机构，检测机构设置在基座上并用于对工件的不同参数进行检测；标识机构，标识机构设置在基座上并包括标识探针，标识探针用于将对检测不合格的工件形成划痕以进行标识；及加电机构，标识机构设置在基座上并包括加电探针，加电探针用于对工件加电。鉴于通过设置标识机构，使得标识机构的标识探针用于将对检测不合格的工件形成划痕以进行标识，如此使得将工件始终固定在支撑台上，无需将不合格的工件从支撑台上脱离并转移至其他位置进行标识，从而可以消除工件的转移和装夹时间，最终提高检测装置的检测效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及检测，特别是涉及一种检测装置。

技术介绍

1、发光芯片可以用于信号传输，使得发光芯片在通讯
有着极为广泛的应用。一般地，需要通过检测装置对发光功率和光谱等参数进行检测，以便测试发光芯片是否合格。但是，对于传统的检测装置，将使得发光芯片的检测时间延长，从而存在检测效率偏低的缺陷。

技术实现思路

1、本申请解决的一个技术问题是如何提高检测装置的检测效率。

2、一种检测装置，包括：

3、基座；

4、支撑机构，所述支撑机构设置在所述基座上并包括支撑台，所述支撑台用于承载带待检测的工件；

5、检测机构，所述检测机构设置在所述基座上并用于对工件的不同参数进行检测；

6、标识机构，所述标识机构设置在所述基座上并包括标识探针，所述标识探针用于将对检测不合格的工件形成划痕以进行标识；及

7、加电机构，所述标识机构设置在所述基座上并包括加电探针，所述加电探针用于对工件加电。

8、在其中一个实施例中，所述加电探针和所述标识探针位于所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述加电探针和所述标识探针位于所述检测机构的同侧。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述标识机构还包括标识座、标识驱动器、标识微调组件、标识台和标识探针，所述标识探针设置在所述标识台上，所述标识台设置在所述标识微调组件上，所述标识微调组件用于驱动所述标识台沿X轴方向、Y轴方向和Z轴方向运动以对所述标识探针的位置进行微调，所述标识座凸出设置在所述基座上，所述标识微调组件相对所述标识座沿Z轴方向滑动连接，所述标识驱动器设置在所述标识座上以驱动所述标识微调组件滑动。

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【技术特征摘要】

1.一种检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述加电探针和所述标识探针位于所述检测机构的同侧。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述标识机构还包括标识座、标识驱动器、标识微调组件、标识台和标识探针，所述标识探针设置在所述标识台上，所述标识台设置在所述标识微调组件上，所述标识微调组件用于驱动所述标识台沿x轴方向、y轴方向和z轴方向运动以对所述标识探针的位置进行微调，所述标识座凸出设置在所述基座上，所述标识微调组件相对所述标识座沿z轴方向滑动连接，所述标识驱动器设置在所述标识座上以驱动所述标识微调组件滑动。

4.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述加电机构还包括加电座、加电驱动器、加电微调组件、加电台和加电探针，所述加电探针设置在所述加电台上，所述加电台设置在所述加电微调组件上，所述加电微调组件用于驱动所述加电台沿x轴方向、y轴方向和z轴方向运动以对所述加电探针的位置进行微调，所述加电座凸出设置在所述基座上，所述加电微调组件相对所述加电座沿z轴方向滑动连接，所述加电驱动器设置在所述加电座上以驱动所述加电微调组件滑动。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测机构包括检测驱动组件、检测台和多个检测头，所述检测驱动组件与所述检测台连接并驱动所述检测台沿x轴方向...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄忠志，杨强，罗骏，
申请(专利权)人：镭神技术深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：