成像装置和信息处理系统制造方法及图纸

技术编号:40462068 阅读:26 留言:0更新日期:2024-02-22 23:16
根据本公开的一方面的成像装置包括:多个像素,以矩阵布置;以及控制单元,对多个像素执行TDI控制。每个像素具有响应于光进入生成光脉冲的光脉冲响应单元和计数器单元。计数器单元包括重写初始值的重写电路和将基于光脉冲的信息添加到初始值的加法电路。控制单元使存储在计数器单元中的信息作为初始值被写入包括在列方向上的下一级的像素中的计数器单元中,然后,使基于从光脉冲响应单元获取的光脉冲的信息被添加到初始值。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及各自执行tdi(时间延迟积分:线性时间延迟积分)处理的成像单元和信息处理系统。


技术介绍

1、tdi传感器已经用于fa(工厂自动化)、航拍和医疗保健领域。tdi传感器是根据被检体的移动速度进行移位时的电荷量的积分的tdi处理的传感器。例如,包括cmos(互补金属氧化物半导体)的tdi传感器在以下诸如专利文献1的文献中描述。

2、引用列表

3、专利文献

4、专利文献1:日本专利申请公开第2021-34862号


技术实现思路

1、顺便提及,在现有的tdi传感器中,执行ad转换处理或相关双采样(相关双采样:cds)处理,并且因此线速率受到ad转换时间或cds处理时间的限制。结果,线速率的上限被限制在大约几百khz。此外,cds处理需要帧存储器,这使得难以降低芯片成本。因此,期望提供既不需要ad转换处理也不需要cds处理的成像单元和信息处理系统。

2、根据本公开的第一方面的成像单元包括以矩阵形式布置的多个像素以及对多个像素执行tdi控制的控制器。每个像素包括光本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种成像单元,包括:

2.根据权利要求1所述的成像单元,其中,所述计数器部包括k比特的数字计数器(k≥1)。

3.根据权利要求2所述的成像单元,其中,

4.根据权利要求3所述的成像单元,其中,

5.根据权利要求2所述的成像单元,其中,所述计数器部的高阶比特形成在以所述矩阵形式形成多个所述像素的区域外部。

6.根据权利要求2所述的成像单元,其中,所述计数器部的比特的数量在所述列方向上的后一级比在所述列方向上的初始级更大。

7.根据权利要求1所述的成像单元,其中,

8.根据权利要求1所述的成像单元,其中,...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种成像单元,包括:

2.根据权利要求1所述的成像单元,其中,所述计数器部包括k比特的数字计数器(k≥1)。

3.根据权利要求2所述的成像单元,其中,

4.根据权利要求3所述的成像单元,其中,

5.根据权利要求2所述的成像单元,其中,所述计数器部的高阶比特形成在以所述矩阵形式形成多个所述像素的区域外部。

6.根据权利要求2所述的成像单元,其中,所述计数器部的比特的数量在所述列方向上的后一级比在所述列方向上的初始级更大。

7.根据权利要求1所述的成像单元,其中,

8.根据权利要求1所述的成像单元,其中,改善从所述控制器输入至多个所述像素的控制信号的波形变圆的装置被插入至所述控制信号传播通过的布线。

9.根据权利要求1所述的成像单元,其中,每个所述像素还包括确定部,所述确定部做出所述计数器部是否饱和的确定,并且当确定的结果是所述计数器部饱和时,执行使所述计数器部将与时钟相对应的信息而不是与光脉冲相对应的信息添加到初始值的控制。

10.根据权利要求1所述的成像单元,其中,每个所述像素还包括确定部,所述确定部做出所述计数器部是否饱和的确定,并且当确定的结果是所述计数器部饱和时,执行使所述计数器部记录此时的时间码的控制。

11.一种成像单元,包括:

12.根据权利要求11所述的成像单元,其中,所述计数器部包括数字计数器。

13.根据权利要求11所述的成像单元,其中,所述计数器部的高阶比特形成在以所述矩阵形式形成多个所述像素的区域外部。

14.根据权利要求11所述的成像单元,其中,改善从所述控制器输入至多个所述像素的控制信号的波形变圆的装置被插入至所述控制信号传播通过的布线。

15.根据权利要求11所述的成像单元,其中,每个所述像素还包括确定部,所述确定部做出所述计数器部是否饱和的确定,并且...

【专利技术属性】
技术研发人员:高塚挙文小木纯
申请(专利权)人:索尼半导体解决方案公司
类型:发明
国别省市:

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