一种半导体激光器老化测试工装制造技术

技术编号:40452780 阅读:4 留言:0更新日期:2024-02-22 23:11
本技术公开一种半导体激光器老化测试工装,涉及半导体激光器老化测试技术领域。该一种半导体激光器老化测试工装,包括老化测试工装主体,所述老化测试工装主体的顶部设置有测试平台,所述测试平台的顶部设置有定位机构,所述老化测试工装主体的一侧设置有调节机构。该一种半导体激光器老化测试工装,通过设置激光测试仪,当需要对激光测试仪的位置进行调节时,首先,向上拉动固定条,使得固定条带动阻尼套杆在阻尼套筒的内部升起,然后拨动激光测试仪,使得夹块滑动在固定条的外表面,以便于带动激光测试仪调节,该装置便于对激光测试仪的位置进行调节。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于半导体激光器老化测试,具体涉及一种半导体激光器老化测试工装


技术介绍

1、半导体激光器又称激光二极管,是用半导体材料作为工作物质的激光器,半导体二极管激光器是最实用最重要的一类激光器。它体积小、寿命长,并可采用简单的注入电流的方式来泵浦,其工作电压和电流与集成电路兼容,因而可与之单片集成。

2、现有半导体激光器在进行老化测试时缺少调节测试设备位置与对半导体激光器进行夹持固定的结构,使得半导体激光器在进行测试过程中,若不同尺寸或不同发射位置的半导体激光器在利用同一个测试器进行测试时,测试器无法完全接收半导体激光器所发射的光束,影响检测结果,同时该在测试过程中大多放置在检测台上利用限位板进行辅助定位,固定效果较差且易掉落磕碰导致激光器的损坏,不便于使用,基于现有的技术不足,本技术设计了一种半导体激光器老化测试工装。


技术实现思路

1、为解决现有技术中存在的上述问题,本技术提供了一种半导体激光器老化测试工装,具有调节测试设备位置与对半导体激光器进行夹持固定的特点。

2、为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种半导体激光器老化测试工装,包括老化测试工装主体,所述老化测试工装主体的顶部设置有测试平台,所述测试平台的顶部设置有定位机构,所述老化测试工装主体的一侧设置有调节机构;

3、调节机构,所述调节机构包括激光测试仪和夹块,所述激光测试仪设置在老化测试工装主体的一侧,所述激光测试仪的下表面固定连接有夹块。

4、作为本技术的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案,所述调节机构还包括固定条、限位槽和阻尼套杆,所述固定条滑动连接在老化测试工装主体的一侧,所述固定条的一侧开设有限位槽,所述固定条的下表面固定连接有阻尼套杆。

5、作为本技术的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案,所述老化测试工装主体的上表面开设有滑槽,所述老化测试工装主体的一侧固定连接有弧形块,所述弧形块的上表面固定连接有阻尼套筒。

6、作为本技术的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案,所述测试平台的下表面固定连接有滑块,所述测试平台的上表面开设有安装孔。

7、作为本技术的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案,所述定位机构包括定位板、丝杆、转钮、固定块和螺纹杆,所述定位板滑动连接在测试平台的上表面,所述定位板的一侧转动连接有丝杆,所述丝杆的一侧固定连接有转钮,所述固定块设置在测试平台的顶部,所述固定块的一侧螺纹连接有螺纹杆。

8、作为本技术的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案,所述阻尼套杆滑动连接在阻尼套筒的内部,所述固定条设置在夹块的内部。

9、作为本技术的一种半导体激光器老化测试工装优选技术方案,所述丝杆螺纹连接在固定块的内部,所述螺纹杆螺纹连接在安装孔的内部。

10、与现有技术相比,本技术的有益效果是:

11、1、本技术在使用时,通过设置激光测试仪,当需要对激光测试仪的位置进行调节时,首先,向上拉动固定条,使得固定条带动阻尼套杆在阻尼套筒的内部升起,然后拨动激光测试仪,使得夹块滑动在固定条的外表面,以便于带动激光测试仪调节,该装置便于对激光测试仪的位置进行调节;

12、2、本技术在使用时,当需要对半导体激光器进行夹持定位时,首先转动转钮,使得转钮带动丝杆转动,此时丝杆螺纹连接在固定块的内部,通过丝杆使得定位板在测试平台的内部滑动,对半导体激光器进行夹持定位,该装置便于对半导体激光器进行夹持定位。

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【技术保护点】

1.一种半导体激光器老化测试工装,包括老化测试工装主体(1),其特征在于:所述老化测试工装主体(1)的顶部设置有测试平台(2),所述测试平台(2)的顶部设置有定位机构(3),所述老化测试工装主体(1)的一侧设置有调节机构(4);

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述调节机构(4)还包括固定条(403)、限位槽(404)和阻尼套杆(405),所述固定条(403)滑动连接在老化测试工装主体(1)的一侧,所述固定条(403)的一侧开设有限位槽(404),所述固定条(403)的下表面固定连接有阻尼套杆(405)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述老化测试工装主体(1)的上表面开设有滑槽(101),所述老化测试工装主体(1)的一侧固定连接有弧形块(102),所述弧形块(102)的上表面固定连接有阻尼套筒(103)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述测试平台(2)的下表面固定连接有滑块(201),所述测试平台(2)的上表面开设有安装孔(202)。</p>

5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述定位机构(3)包括定位板(301)、丝杆(302)、转钮(303)、固定块(304)和螺纹杆(305),所述定位板(301)滑动连接在测试平台(2)的上表面,所述定位板(301)的一侧转动连接有丝杆(302),所述丝杆(302)的一侧固定连接有转钮(303),所述固定块(304)设置在测试平台(2)的顶部,所述固定块(304)的一侧螺纹连接有螺纹杆(305)。

6.根据权利要求2所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述阻尼套杆(405)滑动连接在阻尼套筒(103)的内部,所述固定条(403)设置在夹块(402)的内部。

7.根据权利要求5所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述丝杆(302)螺纹连接在固定块(304)的内部,所述螺纹杆(305)螺纹连接在安装孔(202)的内部。

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【技术特征摘要】

1.一种半导体激光器老化测试工装,包括老化测试工装主体(1),其特征在于:所述老化测试工装主体(1)的顶部设置有测试平台(2),所述测试平台(2)的顶部设置有定位机构(3),所述老化测试工装主体(1)的一侧设置有调节机构(4);

2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述调节机构(4)还包括固定条(403)、限位槽(404)和阻尼套杆(405),所述固定条(403)滑动连接在老化测试工装主体(1)的一侧,所述固定条(403)的一侧开设有限位槽(404),所述固定条(403)的下表面固定连接有阻尼套杆(405)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述老化测试工装主体(1)的上表面开设有滑槽(101),所述老化测试工装主体(1)的一侧固定连接有弧形块(102),所述弧形块(102)的上表面固定连接有阻尼套筒(103)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器老化测试工装,其特征在于:所述测试平台(2...

【专利技术属性】
技术研发人员:师家国张胜吕晋冬冯穗温桥丰
申请(专利权)人:深圳市铭诺光电技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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