一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置制造方法及图纸

技术编号:40449733 阅读:4 留言:0更新日期:2024-02-22 23:09
本技术涉及电气绝缘材料技术领域,具体涉及一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,包括握把,所述握把一端设置有测微器,所述握把另一端连接有用于夹紧绝缘子伞裙的支架,所述握把上还设置有用于对支架进行升降调整的升降机构,所述测微器与支架之间设置有圆盘,所述圆盘上开设有用于探针通过的通孔,所述圆盘一端与握把连接,所述测微器、圆盘、支架的轴线中心线共线,本技术可以实现现场实时、快速、无损测量。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电气绝缘材料,具体涉及一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置


技术介绍

1、室温硫化硅橡胶(rtv)防污闪涂料形成的涂层,具有优异的憎水性和耐老化性能,极大地提升了防污闪能力,已成为我国电力系统防污闪的主要技术手段之一。国家电网公司出台的《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(修订版)》规定,c级及以上污区变电站瓷、玻璃绝缘子必须涂覆rtv涂料。

2、《dl/t 627-2018绝缘子用常温固化硅橡胶防污闪涂料》规定了rtv涂层的厚度不得小于0.3mm,并详细规定了运行维护周期和涂层厚度抽样检测试样数量。在该标准附录g中,详细规定了rtv涂层测厚的方法:采用裁纸刀或其他工具取样,并裁剪成标准尺寸20mm(长)×20mm(宽)。裁取的试样表面应无明显凸起、凹坑、气泡等缺陷。每个绝缘子取5个试样,采用硅橡胶厚度测试仪或其它等效的仪器测量。

3、采用裁纸刀等裁取rtv涂层时,受工人操作手法限制,试片往往形状不规则、厚薄不均匀,导致测量出现偏差。另外,这一方法破坏了涂层的完整性,还需要对裁下的部位进行修补,但修补结果往往不尽人意,可明显看出凹凸不平的痕迹,无法满足rtv涂层平整性的要求;常用的超声、涡流等无损测厚手段也并不适用于瓷绝缘子表面。


技术实现思路

1、本技术的目的是提供一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,可以实现现场实时、快速、无损测量。

2、为实现上述目的,本技术提供了如下的技术方案:

3、一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,包括握把,所述握把一端设置有测微器,所述握把另一端连接有用于夹紧绝缘子伞裙的支架,所述测微器下侧连接有探针,所述握把上还设置有用于对支架进行升降调整的升降机构,所述测微器与支架之间设置有圆盘,所述圆盘上开设有用于探针通过的通孔,所述圆盘一端与握把连接,所述测微器、圆盘、支架的轴线中心线共线。

4、进一步的,所述测微器内部设有测微螺杆,所述测微螺杆与粗调旋钮连接,所述测微螺杆一端与探针连接,所述粗调旋钮旋转带动测微螺杆旋转进而调整探针长度,所述测微螺杆另一端与测力装置连接,所述测微螺杆外周设置有微分筒,所述微分筒与测微螺杆为一体式结构,所述微分筒外侧设置有固定套筒,所述固定套筒表面设置有固定刻度线和可动刻度线,所述固定刻度线与可动刻度线垂直设置。

5、优选的,为了便于探测调零使得测量结果更加准确,所述测微螺杆还与调零旋钮连接。

6、优选的,为了便于读数,所述测微器上还设置有用于锁紧粗调旋钮的锁紧手柄。

7、进一步的,所述固定刻度线上设置有六格固定刻度值,每格固定刻度值表示0.5mm。

8、进一步的,所述可动刻度线设置有50格可动刻度值,每格可动刻度值表示0.01mm。

9、本技术的有益效果是:本装置使用探针检测涂层厚度,对涂层的损害非常小,无需重新对涂层进行修补,大大降低了运维成本;本装置测量快速,可以方便地对施工现场的涂层进行快速的测量;本装置测量准确性高,由于省却了取样操作,减少了取样环节带来的误差,使该装置的测量准确性和结果的客观性大为提升。

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【技术保护点】

1.一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,其特征在于,包括握把(1),所述握把(1)一端设置有测微器(2),所述握把(1)另一端连接有用于夹紧绝缘子伞裙的支架(3),所述测微器(2)的下侧连接有探针(7),所述握把(1)上还设置有用于对支架(3)进行升降调整的升降机构(4),所述测微器(2)与支架(3)之间设置有圆盘(5),所述圆盘(5)上开设有用于探针(7)通过的通孔(6),所述圆盘(5)一端与握把(1)连接,所述测微器(2)、圆盘(5)、支架(3)的轴线中心线共线。

2.根据权利要求1所述的一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,其特征在于:所述测微器(2)内部设有测微螺杆(8),所述测微螺杆(8)与粗调旋钮(9)连接,所述测微螺杆(8)一端与探针(7)连接,所述粗调旋钮(9)旋转带动测微螺杆(8)旋转进而调整探针(7)长度,所述测微螺杆(8)另一端与测力装置(10)连接,所述测微螺杆(8)外周设置有微分筒(11),所述微分筒(11)与测微螺杆(8)为一体式结构,所述微分筒(11)外侧设置有固定套筒(12),所述固定套筒(12)表面设置有固定刻度线(13)和可动刻度线(14),所述固定刻度线(13)与可动刻度线(14)垂直设置。

3.根据权利要求2所述的一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,其特征在于:所述测微螺杆(8)还与调零旋钮(15)连接。

4.根据权利要求2所述的一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,其特征在于:所述测微器(2)上还设置有用于锁紧粗调旋钮(9)的锁紧手柄(16)。

5.根据权利要求2所述的一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,其特征在于:所述固定刻度线(13)上设置有六格固定刻度值,每格固定刻度值表示0.5mm。

6.根据权利要求5所述的一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,其特征在于:所述可动刻度线(14)设置有50格可动刻度值,每格可动刻度值表示0.01mm。

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【技术特征摘要】

1.一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,其特征在于,包括握把(1),所述握把(1)一端设置有测微器(2),所述握把(1)另一端连接有用于夹紧绝缘子伞裙的支架(3),所述测微器(2)的下侧连接有探针(7),所述握把(1)上还设置有用于对支架(3)进行升降调整的升降机构(4),所述测微器(2)与支架(3)之间设置有圆盘(5),所述圆盘(5)上开设有用于探针(7)通过的通孔(6),所述圆盘(5)一端与握把(1)连接,所述测微器(2)、圆盘(5)、支架(3)的轴线中心线共线。

2.根据权利要求1所述的一种绝缘子室温硫化硅橡胶涂层厚度现场测量装置,其特征在于:所述测微器(2)内部设有测微螺杆(8),所述测微螺杆(8)与粗调旋钮(9)连接,所述测微螺杆(8)一端与探针(7)连接,所述粗调旋钮(9)旋转带动测微螺杆(8)旋转进而调整探针(7)长度,所述测微螺杆(8)另一端与测力装置(10)连接,所述测微螺杆(8)外周设置有微分筒(11),所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:张禹余波
申请(专利权)人:苏州纬讯光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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