【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片检测的，尤其是涉及一种磁感应芯片测试治具。
技术介绍
1、磁感应芯片是用于对磁场变化进行检测以及信号传输的芯片。目前对于该类芯片测试具有多种治具，但是大部分结构都较为复杂，并且测试比较单一化，适用性不足。
技术实现思路
1、为了解决上述技术问题，本申请提供一种磁感应芯片测试治具，其具有结构简单，使用简便，适用性强的效果。
2、为达到上述目的，本技术的技术方案如下：
3、一种磁感应芯片测试治具，其包括：
4、承载块，所述承载块上水平转动配置有基准轴，所述基准轴的一端设有释放磁场的磁性件；
5、所述承载块上设有计数组件用于测定基准轴转动圈数；
6、pcb板，所述pcb板设置在承载块底端，芯片固定置于所述pcb板上并位于磁性件下方。
7、实现上述技术方案，操作人员转动基准轴带动磁性件跟着一起转动，计数组件测定基准轴转动的圈数作为横轴，芯片测试出磁场变化信号作为纵轴，芯片测试的信号会随着磁性件发出的磁场发生周期性的改变，芯片检测磁场的变化信号通过pcb板传输到显示端，操作人员根据测试数据的差异性判断芯片测试精度的变化，从而得出芯片对于磁场变化的感应性能。
8、作为本申请的其中一个可选实施方案，所述计数组件包括同轴固定在基准轴端部的圆盘、设置在承载块顶部的承载板以及竖直设置在承载板上的计数轴，所述计数轴的底端设有球形状的计数头，所述圆盘的外壁设有至少一个匹配计数头设置的凹槽。
9、作
10、实现上述技术方案，使得计数头在圆盘外壁的滑动过程更加顺畅。
11、作为本申请的其中一个可选实施方案，所述计数轴外壁设有外螺纹，所述计数轴螺纹贯穿承载板设置，所述圆盘同轴螺栓连接在基准轴上。
12、实现上述技术方案，在不同测试需求下，例如需要更短的时间转完一圈，此时可以更换不同较小尺寸的圆盘，计数轴螺纹配合的设计可以适应不同直径的圆盘从而提高测试的适用性。
13、作为本申请的其中一个可选实施方案，所述计数轴的顶部外壁螺纹配合设有锁紧螺母。
14、作为本申请的其中一个可选实施方案，所述基准轴的端部设有用于盛装磁性件的容置套，所述容置套的端部设有螺纹柱螺纹同轴配合在基准轴内。
15、实现上述技术方案，容置套可拆卸设定使得磁性件可以更换，例如更换不同磁性强度的磁性件以适应不同种类芯片的测试需求，提高适用性。
16、作为本申请的其中一个可选实施方案，所述磁性件为圆柱状磁铁。
17、作为本申请的其中一个可选实施方案，所述承载块的底部设有用于安装pcb板的调节槽，所述承载块两侧分别水平螺纹配合有调节螺柱，所述调节螺柱的端部抵接pcb板的两相对侧边设置。
18、实现上述技术方案，由于芯片测试类型的不同，可能导致芯片位于pcb板上的位置不同，此时为了保证芯片处于磁性件的正下方保证测试位置的准确性，此时需要调整pcb板的位置，利用调节螺柱可以较好的对调节位置后的pcb板进行固定，提高适用性。
19、作为本申请的其中一个可选实施方案，所述调节螺柱位于调节槽外部的一端均设有旋钮。
20、作为本申请的其中一个可选实施方案，所述圆盘上设有手柄。
21、综上所述，本申请包括以下至少一种有益技术效果：
22、1.通过设置可计算圈数的计数组件带着磁性件转动以形成周期性的磁场变化，然后利用芯片检测磁场信号是否也是周期性变化，从而测定出芯片的检测性能；
23、2.通过设置可调式的计数轴、可更换的圆盘以及磁性件，极大地提高了测试装置的适用性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种磁感应芯片测试治具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述计数组件(4)包括同轴固定在基准轴(2)端部的圆盘(41)、设置在承载块(1)顶部的承载板(42)以及竖直设置在承载板(42)上的计数轴(43)，所述计数轴(43)的底端设有球形状的计数头(431)，所述圆盘(41)的外壁设有至少一个匹配计数头(431)设置的凹槽(411)。
3.根据权利要求2所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述圆盘(41)的外壁沿着自身圆周方向设有环形槽(412)，圆盘(41)转动时所述计数头(431)滑动在环形槽(412)内。
4.根据权利要求3所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述计数轴(43)外壁设有外螺纹，所述计数轴(43)螺纹贯穿承载板(42)设置，所述圆盘(41)同轴螺栓连接在基准轴(2)上。
5.根据权利要求4所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述计数轴(43)的顶部外壁螺纹配合设有锁紧应螺母(7)。
6.根据权利要求1所述的一种磁感应芯片测试治具，其
7.根据权利要求6所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述磁性件(3)为圆柱状磁铁。
8.根据权利要求1所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述承载块(1)的底部设有用于安装PCB板(5)的调节槽(11)，所述承载块(1)两侧分别水平螺纹配合有调节螺柱(10)，所述调节螺柱(10)的端部抵接PCB板(5)的两相对侧边设置，所述承载块(1)的底面固定有底板(6)，所述底板(6)上设有支撑块与PCB板(5)底面接触以形成支撑。
9.根据权利要求8所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述调节螺柱(10)位于调节槽(11)外部的一端均设有旋钮(101)。
10.根据权利要求4所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述圆盘(41)上设有手柄(12)。
...【技术特征摘要】
1.一种磁感应芯片测试治具，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述计数组件(4)包括同轴固定在基准轴(2)端部的圆盘(41)、设置在承载块(1)顶部的承载板(42)以及竖直设置在承载板(42)上的计数轴(43)，所述计数轴(43)的底端设有球形状的计数头(431)，所述圆盘(41)的外壁设有至少一个匹配计数头(431)设置的凹槽(411)。
3.根据权利要求2所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述圆盘(41)的外壁沿着自身圆周方向设有环形槽(412)，圆盘(41)转动时所述计数头(431)滑动在环形槽(412)内。
4.根据权利要求3所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述计数轴(43)外壁设有外螺纹，所述计数轴(43)螺纹贯穿承载板(42)设置，所述圆盘(41)同轴螺栓连接在基准轴(2)上。
5.根据权利要求4所述的一种磁感应芯片测试治具，其特征在于：所述计数轴(43)的顶部外壁螺纹配合设有锁紧应螺母(7)...
【专利技术属性】
技术研发人员：柳慧敏，彭善金，
申请(专利权)人：苏州京工机械科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。