阻抗点的插值方法及装置制造方法及图纸

本申请实施例提供一种阻抗点的插值方法及装置，涉及射频技术领域。阻抗点的插值方法包括：获取N个第一阻抗点，2≤N，且N为整数；将N个第一阻抗点中满足预设条件的第一阻抗点确定为第二阻抗点，得到M个第二阻抗点，1≤M＜N，且M为整数；对M个第二阻抗点中每一第二阻抗点进行插值，得到P个第三阻抗点，0＜P，且P为整数。根据本申请实施例，能够减少插值的阻抗点与原始测试数据之间的误差。

【技术实现步骤摘要】

本申请属于射频，尤其涉及一种阻抗点的插值方法及装置。

技术介绍

1、为了快捷方便地进行射频器件大信号负载牵引(loadpull)测试，会在史密斯(smith)圆图内的一定范围内，对一定密度的负载阻抗点进行测试，从而获取射频器件在大信号条件下的最优性能。为了简要描述，以下将负载阻抗点简称为阻抗点。示例性地，如图1所示，图1中的横坐标表示阻抗点的实部，即阻抗点中的电阻部分，纵坐标表示阻抗点的虚部，即阻抗点中的电抗部分，黑点表示阻抗点。

2、同时，还可对原始测试数据中阻抗点所在位置进行更高密度的插值从而评估和比较射频器件的性能。插值的阻抗点的准确性与射频器件最终的性能判断密切相关。但相关技术中存在插值的阻抗点与原始测试数据之间的误差较大的问题。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种阻抗点的插值方法及装置，能够减少插值的阻抗点与原始测试数据之间的误差。

2、第一方面，本申请实施例提供一种阻抗点的插值方法，包括：

3、获取n个第一阻抗点，2≤n，且n为整数；p>

4、将n个本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种阻抗点的插值方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述M个第二阻抗点中每一第二阻抗点进行插值，得到P个第三阻抗点，包括：

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对所述M个第二阻抗点中每一第二阻抗点进行插值，得到P个第三阻抗点，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第二坐标包括第二横坐标ZLreal(l)和第二纵坐标ZLimag(l)，所述第三坐标包括第三横坐标X和第三纵坐标Y，所述第二横坐标ZLreal(l)和所述第三横坐标X之间满足以下公式(1)，所述第二纵坐标ZLimag(l)...

【技术特征摘要】

1.一种阻抗点的插值方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述m个第二阻抗点中每一第二阻抗点进行插值，得到p个第三阻抗点，包括：

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述对所述m个第二阻抗点中每一第二阻抗点进行插值，得到p个第三阻抗点，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第二坐标包括第二横坐标zlreal(l)和第二纵坐标zlimag(l)，所述第三坐标包括第三横坐标x和第三纵坐标y，所述第二横坐标zlreal(l)和所述第三横坐标x之间满足以下公式(1)，所述第二纵坐标zlimag(l)和所述第三纵坐标y之间满足以下公式(2)：

5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪浩，
申请(专利权)人：苏州华太电子技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：