【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶器件测试，具体涉及一种液晶器件动态反射率的测试装置及方法。
技术介绍
1、现有技术公开了申请号为cn202010285756.0的一种基于相干原理的液晶器件反射率测量装置，包括光源、分束器、光强度探测器、装置反射镜与待测量器件；光源、分束器、光强度探测器、装置反射镜与待测量器件组成如下光路。本专利技术从装置到方法上给出了对现有的一种测量反射式液晶器件反射率的方法的改进。采用具有一定波长分布的光源经过分束器入射至液晶器件，经反射光再次经过分束器后被光强度探测器测量并经傅氏变换，能准确和方便推导出探测液晶器件各反射层的准确的反射率。
2、上述专利不足之处在于，该测试方法是在器件未进入工作状态下进行测试，从而得到液晶器件的静态反射率。该静态反射率只能反应出液晶器件不工作时的反射率状态，不能体现出液晶器件工作时的反射率。在具体应用中，如激光加工领域，液晶器件在不同的工作电压状态下，液晶的折射率会随不同电压状态发生改变，液晶折射率的改变会引起反射光强度的变化，此时静态反射率就不能很好的表征液晶空间光调制器的性能。
3、因此，我们设计了一种测试液晶器件工作状态下反射率的测试方法。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种液晶器件动态反射率的测试装置及方法，以解决上述
技术介绍
中提出的液晶器件在不同的工作电压状态下，液晶的折射率会随不同电压状态发生改变，液晶折射率的改变会引起反射光强度的变化，此时静态反射率就不能很好的表征液晶空间光调制器的性能的问题
2、为实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
3、一种液晶器件动态反射率的测试系统，其特征在于，包括激光器1、液晶器件2、光电探测器3、驱动器4和立体分束器5，液晶器件背板芯片13上填充有液晶12并用上玻璃盖板11固定，立体分束器5放置在液晶器件2和激光器1之间，立体分束器3侧边固定有光电探测器3；驱动器4与液晶器件2相连接，给液晶器件背板芯片13和上玻璃盖板施加电压；在测试时，需要激光器1发射出的激光先通过标准反射镜6由光电探测器3接收作为参考光强度，再移去标准反射镜6，激光通过液晶器件2进行动态反射率测试。
4、一种液晶器件动态反射率的测试方法，其特征在于，包括以下步骤；
5、s1；开始，将液晶器件动态反射率的测试系统组装完成，各类器件固定并通电，连通控制设备；
6、s2；开启激光器1，激光器1发射出激光；
7、s3；光电探测器3记录参考光强度iref；
8、s4；液晶器件灰度状态n赋值为0；
9、s5；液晶器件2加载n灰度图；
10、s6；光电探测器3记录反射光强度i0；
11、s7；判断n是否为最大灰阶；
12、s8；判断n不是最大灰阶，灰度n依次累加，n＝0,1,2,,,,,max；驱动器4根据不同灰度图状态，给液晶器件背板芯片13和上玻璃盖板11施加电压，模拟液晶器件2工作状态，液晶器件2加载n灰度图，光电探测器3记录反射光强度i0,1,2,3,,,,max。
13、s9；算出液晶器件2的动态反射率；
14、s10；完成。
15、所述s8中对液晶器件2上的灰度n每累加一次，液晶器件2加载一次，光电探测器3探测记录一次反射光强度，判断一次n是否为最大灰阶，依次循环到判断n为最大灰阶后，进行所述s9。
16、所述s2中激光器1发射的激光经过立体分束器5后照射到标准反射镜6上，从标准反射镜6再次经过立体分束器5后，到达光电探测器3上，得到所述s3中光电探测器3接收作为反射率测试的参照光源，然后将标准反射镜6移开进行下一步测试。
17、所述s2中激光器1的激光发射光路与光电探测器3接收的入射光路之间的夹角为任意角度。
18、所述s9中，通过对上述步骤得到的iref和i0,1,2,3,,,,max代入
19、
20、可得到液晶器件2每个灰度状态下的动态反射率。
21、与现有技术相比，本专利技术有益效果如下：
22、本专利技术通过驱动器依次加载不同的灰度图至液晶器件，光电探测器分别记录不同灰度图所对应的液晶器件反射光强度序列，从而得到液晶器件不同灰度状态下的动态反射率。本专利技术在没有增加光路结构，得到更接近于实际应用场景的液晶器件反射率，能够表征出液晶器件工作时，由于液晶器件处于不同的工作电压状态下，液晶的折射率发生改变所引起的反射光强度的变化，该测试方法使得液晶器件反射率更接近实际应用场景。
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1.一种液晶器件动态反射率的测试系统，其特征在于，包括激光器(1)、液晶器件(2)、光电探测器(3)、驱动器(4)和立体分束器(5)，液晶器件背板芯片(13)上填充有液晶(12)并用上玻璃盖板(11)固定，立体分束器(5)放置在液晶器件(2)和激光器(1)之间，立体分束器(3)侧边固定有光电探测器(3)；驱动器(4)与液晶器件(2)相连接，给液晶器件背板芯片(13)和上玻璃盖板施加电压；在测试时，需要激光器(1)发射出的激光先通过标准反射镜(6)由光电探测器(3)接收作为参考光强度，再移去标准反射镜(6)，激光通过液晶器件(2)进行动态反射率测试。
2.一种液晶器件动态反射率的测试方法，其特征在于，包括以下步骤；
3.根据权利要求2所述的液晶器件动态反射率的测试方法，其特征在于，所述S8中对液晶器件(2)上的灰度n每累加一次，液晶器件(2)加载一次，光电探测器(3)探测记录一次反射光强度，判断一次n是否为最大灰阶，依次循环到判断n为最大灰阶后，进行所述S9。
4.根据权利要求2所述的液晶器件动态反射率的测试方法，其特征在于，所述S2中激光器(1
5.根据权利要求1所述的液晶器件动态反射率的测试方法，其特征在于，所述S2中激光器(1)的激光发射光路与光电探测器(3)接收的入射光路之间的夹角为任意角度。
6.根据权利要求2所述的液晶器件动态反射率的测试方法，其特征在于，所述S9中，通过对上述步骤得到的Iref和I0,1,2,3,,,,max代入
...【技术特征摘要】
1.一种液晶器件动态反射率的测试系统，其特征在于，包括激光器(1)、液晶器件(2)、光电探测器(3)、驱动器(4)和立体分束器(5)，液晶器件背板芯片(13)上填充有液晶(12)并用上玻璃盖板(11)固定，立体分束器(5)放置在液晶器件(2)和激光器(1)之间，立体分束器(3)侧边固定有光电探测器(3)；驱动器(4)与液晶器件(2)相连接，给液晶器件背板芯片(13)和上玻璃盖板施加电压；在测试时，需要激光器(1)发射出的激光先通过标准反射镜(6)由光电探测器(3)接收作为参考光强度，再移去标准反射镜(6)，激光通过液晶器件(2)进行动态反射率测试。
2.一种液晶器件动态反射率的测试方法，其特征在于，包括以下步骤；
3.根据权利要求2所述的液晶器件动态反射率的测试方法，其特征在于，所述s8中对液晶器件(2)上的灰度n每累加一次，液晶器件(2)加...
【专利技术属性】
技术研发人员：李昆，龙震，杨诗怡，李雪锋，杨海宁，
申请(专利权)人：剑芯光电苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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