【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于利用模拟器标定和检验内绝缘失效检测装置，具体涉及一种基于光学成像的内绝缘失效模拟器。
技术介绍
1、对于目前运用在各领域的电力设备，特别是高压设备，都具有结构上一定的绝缘设计。电气绝缘结构包括外绝缘结构和/或内绝缘结构。内绝缘结构是由固体介质包裹在高压导体表面，其绝缘强度高并且受环境影响小，因此寿命和可靠性均显著优于外绝缘结构。但是，固体介质局部漏电甚至短路击穿在内绝缘产品中仍大量存在。
2、由于难以通过传统的外绝缘异放探测光学手段直接成像排查，工作维护人员一般是出现问题后再去排查维修，由此造成的经济损失巨大。或者定期统一更换零部件，这将会造成不必要的资源浪费，导致运营成本极高。
3、由于内绝缘结构中等离子体过程的特征信号难以有效传输到外部空间。目前还没有有效的对内绝缘异常放电所产生的等离子体状态或特性进行检测的方法和装置。因此有必要研究开发一种对内绝缘失效所产生的等离子体的状态进行检测的装置。
技术实现思路
1、针对上述存在的技术问题至少之一，本专利技术目的是提供一种基于光学成像的内绝缘失效模拟器。
2、本专利技术的技术方案是：
3、本专利技术的目的在于提供一种基于光学成像的内绝缘失效模拟器，包括：
4、导体封闭腔，其的一端形成为封闭端、另一端形成为开口端；
5、第一模拟电极，其包括有第一端部电极；
6、第二模拟电极，其包括有第二端部电极；
7、光学透明绝缘介质，由光学透
8、光学透明异放通道，由光学透明材料构成，其电磁波透过率在可见光频段均大于60%，其穿设于所述光学透明绝缘介质内且两者之间形成的第一界面不设有气隙；
9、光学成像透明导体窗口，其封闭于所述开口端且位于所述光学透明绝缘介质之上，其由网状导体结构或光学透明导电薄膜组成，其电磁波透过率在可见光频段均大于60%，其与所述光学透明绝缘介质之间形成的第二界面不设有气隙；
10、所述光学透明异放通道处于所述光学成像透明导体窗口的成像视野范围内，所述第一模拟电极与所述第二模拟电极相对平行且间隔设于所述封闭端上，所述光学透明异放通道成u型，所述第一端部电极和第二端部电极分别插设于所述光学透明异放通道的两端内且两者之间具有气隙，以构成模拟内绝缘失效放电空间。
11、优选地，所述封闭端外还设有用于分别强化对所述第一模拟电极和第二模拟电极的屏蔽效果的导电过渡结构；
12、所述导电过渡结构固定在所述封闭端的外表面上，所述第一模拟电极和所述第二模拟电极分别插置于各自对应的导电过渡结构内。
13、优选地，任一所述导电过渡结构包括一个内具有轴向贯通的插孔的管体和一个固设于所述管体一端的板块，所述插孔贯穿所述板块；
14、所述第一模拟电极和第二模拟电极分别插设于各自对应的导电过渡结构上的所述插孔内；所述封闭端开有与所述插孔一一对应并贯穿所述封闭端的对接通孔。
15、优选地，任一所述板块上还设有以所述插孔的轴线对称分布的两个第一连接孔；
16、所述封闭端上对应任一对接通孔的两侧设有关于所述对接通孔的轴线对称的两个第二连接孔；
17、所述的模拟器还包括用于连接在任一第一连接孔和与其对应的第二连接孔内的连接件。
18、优选地，所述光学透明异放通道包括与所述光学成像透明导体窗口平行且间隔布置的第一段和分别设于所述第一段两端的且沿垂直于所述封闭端的内端面延伸的第二段；
19、所述第一端部电极和第二端部电极分别插接于各自对应的第二段内，所述模拟内绝缘失效放电空间包括所述第一段的内腔以及两所述第二段的部分内腔。
20、优选地，任一第二段与所述第一段的对应端还包括有圆弧过渡段。
21、优选地，所述模拟内绝缘失效放电空间包括第一段的内腔、两个圆弧过渡段的内腔以及两个第二段的部分内腔。
22、优选地，任一所述第二段的远离所述第一段的一端插接于所述封闭端上开设的所述对接通孔内。
23、优选地，所述光学透明绝缘介质为光学透明固体或液体材料构成。
24、优选地，所述第一模拟电极还包括与所述第一端部电极连接的第一屏蔽绝缘线，所述第二模拟电极还包括与所述第二端部电极连接的第二屏蔽绝缘线。
25、与现有技术相比，本专利技术的优点是：
26、本专利技术的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，通过将光学透明异放通道内形成模拟内绝缘失效放电空间，并且将光学透明异放通道设置在光学成像透明导体窗口的视野内，可以实现将模拟内绝缘失效放电空间内的绝缘失效所产生的等离子（其电子-离子复合过程所产生的光学辐射特征）能够通过光学成像透明导体窗口实现实时图像信息记录。在使用该器件对内绝缘探测技术进行测试和技术验证的同时，能够通过光学成像技术对异放等离子体的空间分布特征和时域特征实现成像记录。解决了现有技术中内绝缘失效所产生的等离子体过程的特征信号难以有效传输到外部空间以实现诊断和检测的技术问题。
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1.一种基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，所述封闭端外还设有用于分别强化对所述第一模拟电极和第二模拟电极的屏蔽效果的导电过渡结构；
3.根据权利要求2所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，任一所述导电过渡结构包括一个内具有轴向贯通的插孔的管体和一个固设于所述管体一端的板块，所述插孔贯穿所述板块；
4.根据权利要求3所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，任一所述板块上还设有以所述插孔的轴线对称分布的两个第一连接孔；
5.根据权利要求3所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，所述光学透明异放通道包括与所述光学成像透明导体窗口平行且间隔布置的第一段和分别设于所述第一段两端的且沿垂直于所述封闭端的内端面延伸的第二段；
6.根据权利要求5所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，任一第二段与所述第一段的对应端还包括有圆弧过渡段。
7.根据权利要求6所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在
8.根据权利要求5所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，任一所述第二段的远离所述第一段的一端插接于所述封闭端上开设的所述对接通孔内。
9.根据权利要求1所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，所述光学透明绝缘介质为光学透明固体或液体材料构成。
10.根据权利要求1所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，所述第一模拟电极还包括与所述第一端部电极连接的第一屏蔽绝缘线，所述第二模拟电极还包括与所述第二端部电极连接的第二屏蔽绝缘线。
...【技术特征摘要】
1.一种基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，所述封闭端外还设有用于分别强化对所述第一模拟电极和第二模拟电极的屏蔽效果的导电过渡结构；
3.根据权利要求2所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，任一所述导电过渡结构包括一个内具有轴向贯通的插孔的管体和一个固设于所述管体一端的板块，所述插孔贯穿所述板块；
4.根据权利要求3所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，任一所述板块上还设有以所述插孔的轴线对称分布的两个第一连接孔；
5.根据权利要求3所述的基于光学成像的内绝缘失效模拟器，其特征在于，所述光学透明异放通道包括与所述光学成像透明导体窗口平行且间隔布置的第一段和分别设于所述第一段两端的且沿垂直于所述封闭端的内端面延伸的第二段；
<...【专利技术属性】
技术研发人员：徐林，房茂波，
申请(专利权)人：上海摩仑工业技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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