一种多核芯片、以及多核芯片的调试方法技术

技术编号:40424190 阅读:27 留言:0更新日期:2024-02-20 22:44
本发明专利技术公开了一种多核芯片、调试方法、计算机设备和存储介质,其中一实施例的多核芯片包括至少一个分区,所述分区包括控制单元和多个内核单元,其中,所述内核单元,包括采集电路,所述采集电路用于确定所述内核单元启动产生的压降;所述控制单元,与各所述内核单元的采集电路连接,用于根据所述采集电路确定的所述压降,确定所述多个内核单元的启动间隔周期,所述多个内核单元根据所述启动间隔周期进行启动。本发明专利技术提供的实施例通过调整各内核单元的启动间隔周期、并根据启动间隔周期启动各内核单元,能够在保持芯片供电电压不变的基础上降低IR压降,提升芯片的稳定性并降低芯片功耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机控制,特别是涉及一种多核芯片、以及多核芯片的调试方法


技术介绍

1、相关技术中,多核芯片高负载工作容易引起ir压降(ir drop),导致瞬间电压下降,影响芯片的性能和功能。为了解决这个问题,通常需要根据负载情况动态地调节供电电压,以补偿ir-drop。然而,动态调节供电电压会导致芯片功耗上升。


技术实现思路

1、为了解决上述问题至少之一,本专利技术第一个实施例提供一种多核芯片,

2、包括至少一个分区,所述分区包括控制单元和多个内核单元,其中,

3、所述内核单元,包括采集电路,所述采集电路用于确定所述内核单元启动产生的压降;

4、所述控制单元,与各所述内核单元的采集电路连接,用于根据所述采集电路确定的所述压降确定所述多个内核单元的启动间隔周期,所述多个内核单元根据所述启动间隔周期进行启动。本实施例通过设置在各内核单元中的采集电路确定各内核单元启动产生的压降,并通过控制单元根据所述压降确定各内核单元的启动间隔周期,再根据启动间隔周期进行启动,能够在保持芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种多核芯片,其特征在于,包括至少一个分区,所述分区包括控制单元和多个内核单元,其中,

2.根据权利要求1所述的多核芯片,其特征在于,所述采集电路还用于采集所述内核单元的振荡频率;

3.根据权利要求1-2中任一项所述的多核芯片,其特征在于,所述控制单元还用于根据所述启动间隔周期形成启动周期表,并根据所述启动周期表配置所述内核单元的寄存器。

4.根据权利要求2-3中任一项所述的多核芯片,其特征在于,所述控制单元还用于在各分区的多个内核单元空载状态的启动过程中,根据预设置的多个电压检测值获取所述多个内核单元的振荡频率,生成并存储所述电压-频率对照表。<...

【技术特征摘要】

1.一种多核芯片,其特征在于,包括至少一个分区,所述分区包括控制单元和多个内核单元,其中,

2.根据权利要求1所述的多核芯片,其特征在于,所述采集电路还用于采集所述内核单元的振荡频率;

3.根据权利要求1-2中任一项所述的多核芯片,其特征在于,所述控制单元还用于根据所述启动间隔周期形成启动周期表,并根据所述启动周期表配置所述内核单元的寄存器。

4.根据权利要求2-3中任一项所述的多核芯片,其特征在于,所述控制单元还用于在各分区的多个内核单元空载状态的启动过程中,根据预设置的多个电压检测值获取所述多个内核单元的振荡频率,生成并存储所述电压-频率对照表。

5.根据权利要求2-4中任一项所述的多核芯片,其特征在于,所述采集电路...

【专利技术属性】
技术研发人员:樊小波黄凯阎亚茹
申请(专利权)人:北京希姆计算科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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