本发明专利技术公开一种涂布面密度测量方法,包括:将基带置于基带输送单元上;利用冲模单元从基带上冲下膜片;膜片拾取单元拾取冲下的膜片,并将所述膜片送至称重单元;称重单元对所述膜片进行称重,得到每一个膜片的重量;根据所述重量计算基带的面密度。本发明专利技术还公开一种涂布面密度测量装置。本发明专利技术可将面密度测量有效的衔接到产线内,效率高,成本低。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及面密度测量,更确切地说是一种涂布面密度测量方法及涂布面密度测量装置。
技术介绍
1、锂电池极片的面密度与锂电池的性能密切相关,在锂电池的生产过程中,需要对极片的面密度进行检测,以判断极片状态;因此极片面密度检测设备的可靠性,就显得极为重要。现有的面密度测量通常在涂布设备之外单独设置,生产出产品后再对产品取样进行面密度测量。因而,现有的涂布设备未能将面密度测量有效的衔接到产线内,导致无法监控到涂布的面密度,对涂布设备无法做出合理有效的调整,调至合理的区域,导致生产出来的产品不合格,影响电池的性能,浪费人力、物力成本。
技术实现思路
1、本专利技术为了解决现有技术涂布设备未能将面密度测量有效的衔接到产线内的技术问题,提供了一种涂布面密度测量方法及涂布面密度测量装置。
2、为解决上述技术问题,本专利技术采用的技术方案为设计一种涂布面密度测量方法,包括:
3、将基带置于基带输送单元上;
4、利用冲模单元从基带上冲下膜片;
5、膜片拾取单元拾取冲下的膜片,并将所述膜片送至称重单元;
6、称重单元对所述膜片进行称重,得到每一个膜片的重量;
7、根据所述重量计算基带的面密度。
8、所述涂布面密度测量方法还包括:
9、利用接带单元对所述基带进行接带,在所述基带上冲下膜片的位置粘贴胶带。
10、所述涂布面密度测量方法还包括:
11、利用切带单元横向运动将基带切断。p>12、所述利用接带单元对所述基带进行接带包括:
13、利用基带定位件朝下运动,将所述基带夹持定位于座板上;
14、将胶带置于上放料滚筒上,将胶带拉至上胶带定位件处,利用上胶带定位件定位拉出的胶带;
15、将上胶带托辊运动至所述上胶带定位件处,与所述上胶带定位件上的胶带粘接,并将所述胶带拖至上胶带吸盘的另一侧后,所述上胶带吸盘吸附所述胶带,再利用上胶带切刀向下运动切断所述胶带,然后所述上胶带吸盘带动所述胶带朝下运动,粘带座在开闭驱动机构的驱动下闭合至座板孔,将胶带粘贴在定位于所述粘带座上的基带上;
16、将胶带置于下放料滚筒上,将胶带拉至下胶带定位件处,利用下胶带定位件定位拉出的胶带;
17、将下胶带托辊运动至所述下胶带定位件处,与所述下胶带定位件上的胶带粘接,并将所述胶带拖至下胶带吸盘的另一侧后,所述下胶带吸盘吸附所述胶带,再利用下胶带切刀向上运动切断所述胶带,所述粘带座在所述开闭驱动机构的驱动下从所述座板孔移开;所述下胶带吸盘带动所述胶带朝上运动,将胶带粘贴在定位于所述上胶带吸盘上的基带下方。
18、本专利技术还提供了一种涂布面密度测量装置,包括机架,所述涂布面密度测量装置还包括:
19、基带输送单元,其设于所述机架上,用于输送基带;
20、冲模单元,其设于所述机架上,所述冲模单元从所述基带上冲下膜片;
21、膜片拾取单元,其设于所述机架上,且位于所述冲模单元的一侧,所述膜片拾取单元拾取所述冲模单元冲下的膜片,并将所述膜片送出;
22、称重单元,其设于所述机架上,所述称重单元承接所述膜片拾取单元送出的膜片,对所述膜片进行称重,得到每一个膜片的重量。
23、所述涂布面密度测量装置还包括:
24、计算单元,其与所述称重单元电连接,获取所述称重单元得到的每一个膜片的重量,并根据所述重量计算面密度。
25、所述涂布面密度测量装置还包括:
26、接带单元,其设于所述机架上且位于所述冲模单元的后侧,所述接带单元对所述基带进行接带,在所述基带上冲下膜片的位置粘贴胶带。
27、所述涂布面密度测量装置还包括:
28、切带单元,其设于所述机架上,所述切带单元可相对所述机架横向运动以切断所述基带。
29、所述接带单元包括上接带单元,所述上接带单元包括:
30、座体,其设于所述机架上且可相对所述机架前后运动;所述座体包括座板;所述基带从所述座板的上方沿前后方向穿过;
31、上吸盘驱动机构,其设于所述座体上;
32、上胶带吸盘,其设于所述座体上且可在所述上吸盘驱动机构的驱动下相对所述座体上下运动;
33、上放料滚筒,其设于所述座体上且可相对所述座体旋转;
34、上胶带定位件,其设于所述座体上且位于所述上胶带吸盘的一侧;
35、上托辊驱动机构,其设于所述座体上;
36、上胶带托辊,其设于所述座体上且可在所述上托辊驱动机构的驱动下相对所述座体左右方向横向运动以及上下方向上下运动;
37、上切刀驱动机构,其设于所述座体上;
38、上胶带切刀,其设于所述座体上且可在所述上切刀驱动机构的驱动下相对所述座体上下运动,所述上胶带切刀设于所述上胶带吸盘与所述上胶带定位件之间;
39、基带定位驱动机构,其设于所述座体上;
40、基带定位件,其包括两个,且前后对称设于所述座板上且可在所述基带定位驱动机构的驱动下相对所述座板上下运动,所述基带从所述基带定位件与所述座板之间通过;
41、所述基带定位件朝下运动,将所述基带夹持定位于座板上,所述上胶带托辊运动至所述上胶带定位件处,与所述上胶带定位件上的胶带粘接,并将所述胶带拖至上胶带吸盘的另一侧后,所述上胶带吸盘吸附所述胶带,所述上胶带切刀向下运动切断所述胶带,然后所述上胶带吸盘带动所述胶带朝下运动,将胶带粘贴在定位于所述座板上的基带上。
42、所述座板上设置有穿透所述座板的座板孔;两个所述基带定位件分别位于所述座板孔的前后两侧;
43、所述接带单元还包括下接带单元,所述下接带单元包括:
44、开闭驱动机构,其设于所述座板下方;
45、粘带座,其设于所述座板孔处,所述粘带座在所述开闭驱动机构的驱动下闭合至所述座板孔和从所述座板孔移开;
46、下接带座,其设于所述座板的下方;
47、下吸盘驱动机构,其设于所述下接带座上;
48、下胶带吸盘,其设于所述座板的下方且可在所述下吸盘驱动机构的驱动下相对所述座体上下运动;
49、下放料滚筒,其设于所述下接带座上且可相对所述下接带座旋转;
50、下胶带定位件,其设于所述下接带座上且位于所述下胶带吸盘的一侧;
51、下托辊驱动机构,其设于所述下接带座上;
52、下胶带托辊,其设于所述下接带座上且可在所述下托辊驱动机构的驱动下相对所述下接带座左右方向横向运动以及上下方向上下运动;
53、下切刀驱动机构,其设于所述下接带座上;
54、下胶带切刀,其设于所述下接带座上且可在所述下切刀驱动机构的驱动下相对所述下接带座上下运动,所述下胶带切刀设于所述下胶带吸盘与所述下胶带定位件之间;
55、所述基带定位件朝本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种涂布面密度测量方法,其特征在于包括:
2.根据权利要求1所述的涂布面密度测量方法,其特征在于:所述涂布面密度测量方法还包括:
3.根据权利要求2所述的涂布面密度测量方法,其特征在于:所述涂布面密度测量方法还包括:
4.根据权利要求2所述的涂布面密度测量方法,其特征在于:所述利用接带单元对所述基带进行接带包括:
5.一种涂布面密度测量装置,包括机架,其特征在于:所述涂布面密度测量装置还包括:
6.根据权利要求5所述的涂布面密度测量装置,其特征在于:所述涂布面密度测量装置还包括:
7.根据权利要求5所述的涂布面密度测量装置,其特征在于:所述涂布面密度测量装置还包括:
8.根据权利要求7所述的涂布面密度测量装置,其特征在于:所述涂布面密度测量装置还包括:
9.根据权利要求7所述的涂布面密度测量装置,其特征在于:所述接带单元包括上接带单元,所述上接带单元包括:
10.根据权利要求9所述的涂布面密度测量装置,其特征在于:所述座板上设置有穿透所述座板的座板孔;两个所述基带定位件分别位于所述座板孔的前后两侧;
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【技术特征摘要】
1.一种涂布面密度测量方法,其特征在于包括:
2.根据权利要求1所述的涂布面密度测量方法,其特征在于:所述涂布面密度测量方法还包括:
3.根据权利要求2所述的涂布面密度测量方法,其特征在于:所述涂布面密度测量方法还包括:
4.根据权利要求2所述的涂布面密度测量方法,其特征在于:所述利用接带单元对所述基带进行接带包括:
5.一种涂布面密度测量装置,包括机架,其特征在于:所述涂布面密度测量装置还包括:
6.根据权利要求5所述的涂布面密度测量装置,其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员:余寺强,蔡顺锋,
申请(专利权)人:深圳市善思创兴科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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